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LED芯片觀察(掃描電鏡)SEM失效分析
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2024-03-15 17:34:29
led失效分析-重點(diǎn)失效分析CNAS,CMA認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室
服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
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MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析功
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如何推遲XilSEM掃描功能的開始？(二)
在 AMD Versal? 器件中, SEM 功能的實(shí)現(xiàn)發(fā)生了很大變化，整個(gè)解決方案基于 library 實(shí)現(xiàn)。下面我們一起看一下如何推遲 XilSEM 掃描功能的開始。
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首樣免費(fèi)掃描電鏡SEM-EDS測(cè)試分析【博仕檢測(cè)】
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FIB剪
2024-01-02 17:08:51
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掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計(jì)量和過(guò)程控制的研究和先進(jìn)制造中，我們?cè)趯?duì)半導(dǎo)體材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測(cè)時(shí)，常常會(huì)遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問(wèn)題以及減輕其影響的方法。
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如何使用頻譜分析儀來(lái)觀察和分析雜散信號(hào)？ 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，用于觀察和分析信號(hào)的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測(cè)和排除信號(hào)中的雜散信號(hào)，確保設(shè)備的正常工作和無(wú)干擾的信號(hào)傳輸
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掃描電鏡的原理、優(yōu)勢(shì)、應(yīng)用領(lǐng)域你都知道嗎？
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USB脫落失效分析
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2023-12-18 09:56:12155
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蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學(xué)研究中的重要儀器，憑借其納米級(jí)分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對(duì)生物超微結(jié)構(gòu)的認(rèn)識(shí)，-些亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)甚至是通過(guò)
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有一批現(xiàn)場(chǎng)儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì)，進(jìn)一步分析
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LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動(dòng)態(tài)掃描有何區(qū)別？
LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動(dòng)態(tài)掃描有何區(qū)別？ LED貼膜屏靜態(tài)掃描和動(dòng)態(tài)掃描是兩種不同的驅(qū)動(dòng)方式，它們?cè)陲@示效果、功耗、刷新率、圖像質(zhì)量等方面存在一些區(qū)別。下面我將詳細(xì)介紹這兩種掃描方式，幫助你了解它們
2023-12-11 14:25:56448
448LED燈帶失效分析
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況，對(duì)失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測(cè)手段，明確失效原因。 2、分析過(guò)程 2.1 外觀
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掃描電鏡能測(cè)出線寬的真實(shí)長(zhǎng)度嗎？如何才能測(cè)準(zhǔn)？
大部分掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室對(duì)于納米尺寸的準(zhǔn)確測(cè)量，要求沒有那么嚴(yán)格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
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如何利用FIB和SEM中的有源和無(wú)源電位襯度進(jìn)行失效定位呢？
無(wú)源電位襯度（Passive Voltage Contrast，PVC）定位基于導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的FIB或SEM圖像或多或少的亮度差異，可用于半導(dǎo)體電路的失效定位。
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有效減少掃描電鏡荷電效應(yīng)的幾種方法
掃描電子顯微鏡（SEM簡(jiǎn)稱掃描電鏡）是一個(gè)集電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)于一體的復(fù)雜系統(tǒng)
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差示掃描量熱法熱分析方法
差示掃描量熱法（DSC）是一種熱分析方法，在程序控制溫度下，輸入到試樣和參比物的功率差與溫度的關(guān)系。而差示掃描量熱儀是利用這種方法，來(lái)測(cè)量材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熔點(diǎn)、比熱容和氧化誘導(dǎo)期，來(lái)對(duì)材料
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蔡司掃描電鏡Sigma系列：掃描電子顯微鏡的用途原來(lái)這么多
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光耦失效的幾種常見原因及分析
將詳細(xì)分析光耦失效的幾種常見原因。 首先，常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會(huì)發(fā)出光信號(hào)。常見的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長(zhǎng)時(shí)間使用后會(huì)逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445
1445PCB失效分析技術(shù)概述
那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無(wú)法恢復(fù)；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時(shí)也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115
115九項(xiàng)PCB失效分析的技術(shù)總結(jié)
切片分析切片分析就是通過(guò)取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過(guò)程。
2023-11-16 16:31:56156
156一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術(shù)的原理、采集及分辨率
EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱電子背散射衍射。它通過(guò)測(cè)量反射電子的角度和相位差來(lái)確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級(jí)的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366
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SEM掃描電鏡中鎢燈絲與場(chǎng)發(fā)射的區(qū)別
相同點(diǎn)：都是電子槍即發(fā)射電子的裝置，都有陰極和陽(yáng)極,陰極都是點(diǎn)源發(fā)射，陰極和陽(yáng)極之間有直流高壓電場(chǎng)存在，高壓一般可調(diào)，用于控制電子的發(fā)射速度（能量），電子槍發(fā)射的電流強(qiáng)度很小，微安級(jí)別和納安級(jí)別，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環(huán)境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優(yōu)劣:1、點(diǎn)源直徑不同及優(yōu)劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353
353什么是FIB？FIB有哪些應(yīng)用？如何修改線路做FIB？FIB怎么做失效分析？
什么是FIB？FIB有哪些應(yīng)用？如何修改線路做FIB？FIB怎么做失效分析？FIB還能生長(zhǎng)PAD？FIB案例有些？ FIB是Focused Ion Beam（聚焦離子束）的縮寫，是一種利用離子束刻蝕
2023-11-07 10:35:041668
1668鎢燈絲掃描電鏡使用的一些注意事項(xiàng)
鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大，抗干擾能力和穩(wěn)定性好。可在低真空下不充電對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
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國(guó)儀量子帶您全景回顧2023全國(guó)電鏡年會(huì)
在會(huì)議期間重磅發(fā)布了自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)高端電鏡發(fā)展進(jìn)入全新階段。顯微學(xué)人以振興電
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249廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過(guò)掃描樣品表面并利用電子信號(hào)生成圖像。它與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細(xì)節(jié)。以下是廣東全自動(dòng)SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
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770高端新品發(fā)布！國(guó)產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國(guó)電鏡年會(huì)
10月26日，2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市召開。國(guó)儀量子在會(huì)議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開啟了國(guó)產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471158
1158一文帶您了解場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比，場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡由場(chǎng)發(fā)射電子槍、電子束推進(jìn)器、聚光透
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你了解掃描電鏡的特點(diǎn)和結(jié)構(gòu)嗎
。 特點(diǎn) 制樣簡(jiǎn)單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實(shí)的三維效果等特點(diǎn)。對(duì)于導(dǎo)電材料，它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導(dǎo)電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30357
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芯片粘接失效模式和芯片粘接強(qiáng)度提高途徑
芯片粘接質(zhì)量是電路封裝質(zhì)量的一個(gè)關(guān)鍵方面，它直接影響電路的質(zhì)量和壽命。文章從芯片粘接強(qiáng)度的失效模式出發(fā)，分析了芯片粘接失效的幾種類型，并從失效原因出發(fā)對(duì)如何在芯片粘接過(guò)程中提高其粘接強(qiáng)度提出了四種
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不同型號(hào)掃描電鏡的操作步驟會(huì)有一些差異，各廠家的EBSD系統(tǒng)，特別是控制SEM的軟件都不一致。
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609基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法
本文主要設(shè)計(jì)了用于封裝可靠性測(cè)試的菊花鏈結(jié)構(gòu)，研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法，針對(duì)芯片偏移、ＲDL 分層兩個(gè)主要失效問(wèn)題進(jìn)行了相應(yīng)的工藝改善。經(jīng)過(guò)可靠性試驗(yàn)對(duì)封裝的工藝進(jìn)行了驗(yàn)證，通過(guò)菊花鏈的通斷測(cè)試和阻值變化，對(duì)失效位置定位進(jìn)行了相應(yīng)的失效分析。
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CD-SEM是怎樣測(cè)線寬呢？CD-SEM與普通SEM有哪些區(qū)別？
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過(guò)來(lái)是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。
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電鏡常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM
不同的波長(zhǎng)λ對(duì)應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個(gè)特征能量， 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式， EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面掃描三種：EDS 點(diǎn)分析是將電子束固定于樣品中某一點(diǎn)上，進(jìn)行定性或者定量的分析。
2023-09-28 15:54:341719
1719
LGA封裝芯片焊接失效
NO.1 案例背景 某攝像頭模組，在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過(guò)初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過(guò)程 #1 X-ray分析 樣品#1 樣品#2 測(cè)試結(jié)果：兩個(gè)失效
2023-09-28 11:42:21399
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季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時(shí)，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375
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2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)順利召開
（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)”在合肥召開。來(lái)自中國(guó)科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國(guó)農(nóng)科院、中國(guó)醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高校科研
2023-09-13 08:30:05502
502各種材料失效分析檢測(cè)方法
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291
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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331
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聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356
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集成電路失效分析
IC。然而，IC在使用過(guò)程中也可能出現(xiàn)失效的情況，從而影響到整個(gè)設(shè)備的使用效果。因此，對(duì)IC失效分析的研究變得越來(lái)越重要。 IC失效的原因有很多，例如因?yàn)楣に囘^(guò)程中的不良導(dǎo)致芯片內(nèi)部有缺陷，或者長(zhǎng)時(shí)間使用導(dǎo)致老化而出現(xiàn)失效等。為了找出IC失效的原因，在
2023-08-29 16:35:13627
627芯片失效分析方法 芯片失效原因分析
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800
2800半導(dǎo)體失效分析
半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736
736EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時(shí)，不同元素被激發(fā)出來(lái)的x射線能量不同，通過(guò)探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241952
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鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文
鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133
2133國(guó)儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000
“在大規(guī)模成像場(chǎng)景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動(dòng)化程度都無(wú)法滿足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對(duì)百億級(jí)神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像
2023-08-09 08:29:23453
453蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419
1419蔡司掃描電鏡下金剛石形貌
金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對(duì)稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國(guó)也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無(wú)
2023-08-04 11:50:01458
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SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350
350蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對(duì)透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330
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半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析
本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930
930蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡
蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650
650LED驅(qū)動(dòng)電路圖分享 LED驅(qū)動(dòng)電路的工作原理和失效機(jī)理分析
隨著市場(chǎng)需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參 差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。
2023-07-25 09:12:046864
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微波GaAs功率芯片AuSn共晶焊接微觀組織結(jié)構(gòu)研究
摘要:文中采用Au80Sn20共晶焊料對(duì)GaAs功率芯片與MoCu基板進(jìn)行焊接，分析了焊接溫度、摩擦次數(shù)等工藝參數(shù)對(duì)共晶焊接的影響，給出了GaAs芯片共晶焊的工藝參數(shù)控制要求，通過(guò)掃描電鏡
2023-07-15 14:01:421276
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蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無(wú)交叉光路設(shè)計(jì)，打破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對(duì)圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無(wú)需
2023-07-14 16:26:59916
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幾種常見的關(guān)于SEM IP的沖突
SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺(tái)掃描檢測(cè)FPGA配置RAM中的數(shù)據(jù)
2023-07-10 16:40:23420
420EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433
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關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點(diǎn)分析
的高性能高效率，大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái)，可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無(wú)法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無(wú)損樣品分析?? 無(wú)需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270
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SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用
等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相
2023-07-05 10:04:061995
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AMEYA360談蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列
近日，蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司
2023-07-04 15:39:24249
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集成電路封裝失效分析流程
為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315
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集成電路封裝失效分析方法
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過(guò)程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生，提升
2023-06-21 08:53:40572
572場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動(dòng)粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40813
813講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段：亮點(diǎn)分析（EMMI）
EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310
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LED數(shù)顯驅(qū)動(dòng)芯片/數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片VK1650,LED驅(qū)動(dòng)、鍵盤掃描，8段4位，8級(jí)亮度控制
? 產(chǎn)品品牌：永嘉微電/VINKA 產(chǎn)品型號(hào)：VK1650 封裝形式：SOP16 產(chǎn)品年份：新年份? 概述： VK1650是一種帶鍵盤掃描電路接口的 LED?驅(qū)動(dòng)控制專用芯片，內(nèi)部集成有數(shù)
2023-06-10 09:17:301657
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喜提儀器行業(yè)大獎(jiǎng)！國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎(jiǎng)”
5月18日，2023第十六屆中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2023)在北京雁棲湖國(guó)際會(huì)展中心盛大開幕，并頒發(fā)“儀器及檢測(cè)3i獎(jiǎng)”。國(guó)儀量子自主研發(fā)的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16366
366LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因分析
LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來(lái)看看吧!
2023-05-18 11:21:19851
851淺談抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例
紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu)，它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423
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怎樣進(jìn)行芯片失效分析？
失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365
1365TVS二極管失效機(jī)理與失效分析
。
通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678
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進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個(gè)失效分析查找源頭
芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548
548rt_sem_control的使用場(chǎng)景是什么？
在信號(hào)量的api中有一個(gè)api: rt_sem_control ,目前只支持一個(gè)命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號(hào)量值，在官方的demo中經(jīng)常看到這種用法rt_sem
2023-05-05 17:26:37
培訓(xùn)通知｜國(guó)儀量子2023年第二期SEM線下應(yīng)用培訓(xùn)班
課程簡(jiǎn)介為持續(xù)給國(guó)儀量子SEM用戶提供高質(zhì)量的使用體驗(yàn)，國(guó)儀量子電鏡事業(yè)部將搭建一個(gè)用戶與國(guó)儀量子應(yīng)用專家之間進(jìn)行深入技術(shù)交流的平臺(tái)，定期開展在線和線下的應(yīng)用培訓(xùn)課程。本次線下課程以小班形式進(jìn)行教學(xué)
2023-04-21 09:20:47279
279半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹！
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360
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失效分析和可靠性測(cè)試：為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備
對(duì)所有制造材料進(jìn)行100%全面檢查。 制造商測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對(duì)掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測(cè)計(jì)量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和測(cè)量?jī)x器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925
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喜報(bào)！國(guó)儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺(tái)
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)
2023-04-12 11:38:30572
572PCB失效分析技術(shù)總結(jié)
程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。 對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749
749北京大學(xué)先進(jìn)光子集成公共平臺(tái)正式開放運(yùn)行
該平臺(tái)擁有超凈間面積約300平方米，其中百級(jí)潔凈區(qū)50平米，配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備，包括電子束曝光機(jī)、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機(jī)、快速退火爐、精密貼片機(jī)、勻膠機(jī)、離子濺射儀、膜厚計(jì)、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號(hào)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
2023-04-10 11:24:06712
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工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論