電子發燒友App
?
圖1 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM）
?
?
?
圖2 PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM）
?
?
?
圖3?PMMA顆粒形貌（掃描電鏡SEM）
?
審核編輯：ymf
?
PMMA顆粒形貌觀察和直徑測量(掃描電鏡，SEM)
- SEM(14323)
- 顆粒(8230)
- 掃描電鏡(8844)
相關推薦
如何推遲XilSEM掃描功能的開始？(二)
在 AMD Versal? 器件中, SEM 功能的實現發生了很大變化，整個解決方案基于 library 實現。下面我們一起看一下如何推遲 XilSEM 掃描功能的開始。
2024-03-13 14:45:46
400
400
首樣免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】
【設備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應的電子能不同，來鑒別元素，通常與SEM結合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
無圖晶圓幾何形貌測量系統
WD4000無圖晶圓幾何形貌測量系統是通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。可兼容不同材質
2024-02-21 13:50:34
顯微測量|光學3D表面輪廓儀微納米三維形貌一鍵測量
輪廓儀，也被稱為白光干涉儀，是利用白光干涉原理進行成像測量的儀器，是一種通過測量干涉光的干涉條紋來獲取物體表面形貌的方法。該儀器通過發射一束寬光譜的白光，并將其照射到
2024-02-20 09:10:09
0
0顯微測量|臺階儀二維超精密測量微觀形貌
臺階儀通過掃描被測樣品表面，獲取高分辨率的表面形貌數據，能夠揭示微觀結構的特征和性能。了解工作原理和性能特點臺階儀利用掃描探針在樣品表面上進行微觀測量，通過探測探針和樣品表面之間的相互作用力，獲取
2024-02-20 09:06:240
0顯微測量|光學3D表面輪廓儀微納米三維形貌一鍵測量
光學3D表面輪廓儀利用白光干涉原理，以0.1nm分辨率精準捕捉物體表面細節，實現三維顯微成像測量。廣泛應用于材料學領域，可測量各種材料表面形貌，提高超光滑表面形貌的測試精度。
2024-02-19 13:47:01237
237
顯微測量|臺階儀二維超精密測量微觀形貌
臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，能高精度測量微觀表面形貌，揭示表面微觀特征。它具有高速掃描能力，測量范圍廣泛，可應用于科學研究、材料表征、納米技術等領域。臺階儀的優勢包括高精度、快速測量和廣泛適用范圍。
2024-02-18 10:51:05242
242
掃描電鏡的操作步驟及日常維護
掃描電鏡按構造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質構造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15603
603半導體晶圓形貌厚度測量設備
半導體晶圓形貌厚度測量的意義與挑戰半導體晶圓形貌厚度測量是半導體制造和研發過程中至關重要的一環。它不僅可以提供制造工藝的反饋和優化依據，還可以保證半導體器件的性能和質量。在這個領域里，測量的準確性
2024-01-18 10:56:121
1掃描電鏡為什么分辨率高，景深大，立體感強？
掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應用最廣泛的“神器”。可以說，幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應用。 電子顯微鏡利用電子產生圖像，類似于光學
2024-01-17 09:39:56146
146一文讀懂半導體晶圓形貌厚度測量的意義與挑戰
半導體晶圓形貌厚度測量是制造和研發的關鍵環節，涉及精確度和穩定性。面臨納米級別測量挑戰，需要高精度設備和技術。反射、多層結構等干擾因素影響測量準確性。中圖儀器推動測量技術發展，提高精度和速度，滿足不同材料和結構需求。光學3D表面輪廓儀和臺階儀等設備助力測量，為半導體行業注入新活力。
2024-01-16 13:32:18313
313
無圖晶圓幾何形貌測量設備
WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2024-01-10 11:10:39
SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析
數字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298
98
臺階儀接觸式表面形貌測量儀器
中圖儀器CP系列臺階儀接觸式表面形貌測量儀器主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。測量時通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺移動樣品時掃描其表面，測針的垂直位移距離被轉換
2024-01-04 10:08:52
亞納米級高分辨率掃描電子顯微鏡
蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電鏡的分辨率取得了重大進步，已進入亞納米級，這在很大程度上歸功于硬件的改進，如更亮的場發射電子源，更好的電子光學設計(如單色器、像差矯正和減速技術等)，更高效的探測器
2024-01-03 16:43:59144
144
3D共聚焦形貌顯微鏡
中圖儀器VT6000系列3D共聚焦形貌顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深
2024-01-03 10:05:05
半導體芯片結構分析
切割對于芯片膜厚層為幾十納米的，可以選擇用聚焦離子束FIB-SEM來做芯片截面形貌觀察，SEM-EDS對于芯片的結構成分分析 做線性方向元素分析掃描，面掃描MAPPING來表征芯片結構的元素分析。
FIB剪
2024-01-02 17:08:51
如何理解掃描電子顯微鏡(SEM)中的充電效應
掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中，我們在對半導體材料和結構進行觀測時，常常會遇到充電效應，本文討論了與樣品充電相關的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462
462
影像儀激光掃描3d成像
快速實現尺寸的精準批量測量。通過3D成像視圖，可觀察到產品形貌的微小特征，可實時輸出2D、3D圖像保存，支持2D、3D產品尺寸測量。Novator還支持頻閃照明和
2023-12-27 09:22:57
微納米表面輪廓形貌用什么測量儀器
微納米表面輪廓形貌的測量可以幫助我們了解材料的物理特性、表面形態以及質量狀況。如白光干涉儀是一種常見的微納米表面輪廓儀測量儀器，常用于研究產品的微觀形貌和粗糙度；而共聚焦顯微鏡大傾角超清納米測量，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。選擇適合的測量儀器對于準確獲取樣品表面形貌和特征至關重要。
2023-12-20 16:38:09358
358
蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 500介紹
蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學技術大學龔明教授進行了采訪，談了對于蔡司場發射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學技術大學工程與材料科學實驗中心副主任，材料顯微分析實驗室
2023-12-20 15:04:37226
226
晶圓幾何形貌測量設備
WD4000晶圓幾何形貌測量設備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV
2023-12-20 11:22:44
掃描電鏡的原理、優勢、應用領域你都知道嗎？
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結構，是材料相關工作者和學者研究的有力工具之一。其應用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫療和工業領域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37507
507
蔡司掃描電鏡與X射線顯微鏡檢測介紹
蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學研究中的重要儀器，憑借其納米級分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結構的認識，-些亞細胞結構甚至是通過
2023-12-15 14:11:17142
142
掃描電鏡能測出線寬的真實長度嗎？如何才能測準？
大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準確測量，要求沒有那么嚴格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52428
428
蔡司掃描電子顯微鏡的工作原理及主要特點
蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發射的能量
2023-12-07 11:49:36284
284
光學3D表面輪廓儀超0.1nm縱向分辨能力，讓顯微形貌分毫畢現
在工業應用中，光學3D表面輪廓儀超0.1nm的縱向分辨能力能夠高精度測量物體的表面形貌，可用于質量控制、表面工程和納米制造等領域。與其它表面形貌測量方法相比，SuperViewW系列光學3D表面
2023-11-29 10:04:380
0什么是聚集度指數PDI粒徑分布-LNP脂質納米顆粒的PDI的影響因素
(實驗級)二、PDI的計算方法
PDI通常是通過測量樣品中各個顆粒直徑比例來計算得出。具體計算公式如下：$$ PDI = \\frac{D_{90} - D_{10}}{D_{50}} $$其中$D_
2023-11-28 13:38:39
光學3D表面輪廓儀超0.1nm縱向分辨能力，讓顯微形貌分毫畢現
與其它表面形貌測量方法相比，SuperViewW系列光學3D表面輪廓儀達到納米級別的相移干涉法(PSI)和垂直掃描干涉法(VSI)，具有快速、非接觸的優點。它結合了跨尺度納米直驅技術、精密光學干涉
2023-11-28 10:59:58241
241
蔡司掃描電鏡Sigma系列：掃描電子顯微鏡的用途原來這么多
掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數據，在采礦業，可用于礦產勘查、礦石表征和選礦工藝優化
2023-11-21 13:16:41235
235
全自動掃描測量影像儀
視圖，可觀察到產品形貌的微小特征，可實時輸出2D、3D圖像保存，支持2D、3D產品尺寸測量。產品優勢穩固移動平臺、高測量精度1.精密大理石機臺，穩定性好，精度高。2
2023-11-17 09:05:47
一文帶您了解掃描電子顯微鏡EBSD技術的原理、采集及分辨率
EBSD技術是一種常用的材料顯微技術，全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結構和晶粒取向等特征。與傳統的掃描電鏡技術相比，EBSD技術具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級的晶體學數據。
2023-11-16 13:31:48366
366
SEM掃描電鏡中鎢燈絲與場發射的區別
，為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源，都需要高真空環境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優劣:1、點源直徑不同及優劣：鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39353
353CP200國產臺階形貌儀
中圖儀器CP200國產臺階形貌儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。測量時通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺移動
2023-11-09 09:11:26
示波器慢掃描模式和ROLL模式的共性和區別
示波器是一種電子儀器，用于觀察和測量電信號的波形、幅度、頻率等參數。示波器有多種工作模式，其中慢掃描模式和ROLL模式是兩種常見的工作模式。
2023-11-06 14:48:42398
398白光干涉儀在半導體封裝中對彈坑的測量
干涉現象，使用白光源照射物體，并將反射光經過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細節信息。
如何使用白光干涉儀來測量坑的形貌？在使用白光干涉儀測量坑的形貌
2023-11-06 14:27:48
鎢燈絲掃描電鏡使用的一些注意事項
鎢絲掃描電子顯微鏡的總發射電流和光斑大，抗干擾能力和穩定性好。可在低真空下不充電對非導電樣品進行成像，并可用于形貌觀察、微觀結構分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學
2023-11-06 13:52:52176
176
晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機
。WD4000晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現晶圓厚度、TTV、LTV、B
2023-11-06 10:49:18
晶圓表面形貌及臺階高度測量方法
晶圓在加工過程中的形貌及關鍵尺寸對器件的性能有著重要的影響，而形貌和關鍵尺寸測量如表面粗糙度、臺階高度、應力及線寬測量等就成為加工前后的步驟。以下總結了從宏觀到微觀的不同表面測量方法：單種測量手段
2023-11-03 09:21:580
0晶圓表面形貌及臺階高度測量方法
晶圓在加工過程中的形貌及關鍵尺寸對器件的性能有著重要的影響，而形貌和關鍵尺寸測量如表面粗糙度、臺階高度、應力及線寬測量等就成為加工前后的步驟。以下總結了從宏觀到微觀的不同表面測量方法：單種測量手段
2023-11-02 11:21:54462
462
白光干涉三維形貌測量儀
中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維形貌測量儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-11-01 09:39:26
國儀量子帶您全景回顧2023全國電鏡年會
在會議期間重磅發布了自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X，標志著國產高端電鏡發展進入全新階段。顯微學人以振興電
2023-11-01 08:25:46523
523
一文帶您了解鎢燈絲掃描電鏡的一些使用注意事項
鎢絲掃描電子顯微鏡的發射電流和光斑都比較適中，抗干擾能力和穩定性比較好。可在低真空下對非導電樣品進行成像，并可用于形貌觀察、微觀結構分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質、礦產、冶金、機械、化學
2023-10-31 15:17:52249
249廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造
廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統光學顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數和更好的表面細節。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構造
2023-10-31 15:12:41770
770高端新品發布！國產雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國電鏡年會
10月26日，2023年全國電子顯微學學術年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開啟了國產高端電鏡
2023-10-29 08:25:471158
1158白光干涉儀(光學輪廓儀)：揭秘測量坑的形貌的利器！
SuperViewW1白光干涉儀結合數字圖像處理技術和三維重建算法來提高測量的精度和效率，揭秘并測量坑的形貌，為科學研究和工程實踐提供更有力的支持。
2023-10-26 10:47:58297
297
一種晶圓表面形貌測量方法-WD4000
WD4000無圖晶圓幾何量測系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR
2023-10-24 09:42:25554
554
一文帶您了解場發射掃描電鏡
普通熱發射掃描電子顯微鏡相比，場發射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發射掃描電子顯微鏡由場發射電子槍、電子束推進器、聚光透
2023-10-23 14:56:393838
3838
白光干涉儀(光學輪廓儀)：揭秘測量坑的形貌的利器！
干涉現象，使用白光源照射物體，并將反射光經過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細節信息。如何使用白光干涉儀來測量坑的形貌？
2023-10-20 09:52:210
0你了解掃描電鏡的特點和結構嗎
。 特點 制樣簡單、放大倍率可調范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實的三維效果等特點。對于導電材料，它們可以直接放入樣品室進行分析。對于導電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導電層。 基本結構 從結構上看，掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30357
357
白光干涉儀(光學輪廓儀)：揭秘測量坑的形貌的利器！
SuperViewW1白光干涉儀結合數字圖像處理技術和三維重建算法來提高測量的精度和效率，揭秘并測量坑的形貌，為科學研究和工程實踐提供更有力的支持
2023-10-18 09:05:39462
462
白光干涉3D形貌測量儀
中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測量儀以白光干涉技術原理，是對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器。它結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌
2023-10-17 14:24:27
納米級測量儀器：窺探微觀世界的利器
紋和表面粗糙度等的測量。線性可變差動電容傳感器（LVDC），具有亞埃級分辨率，13um量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差，使得產品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。
除了上述所提及的儀器外
2023-10-11 14:37:46
CD-SEM是怎樣測線寬呢？CD-SEM與普通SEM有哪些區別？
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過來是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。
2023-10-07 10:34:231434
1434
白光干涉顯微形貌儀
SuperViewW系列白光干涉顯微形貌儀是以白光干涉技術原理，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，是一款用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級測量儀器。產品簡介
2023-09-26 14:12:49
季豐電子新熱場電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375
375
臺階儀接觸式表面形貌測量儀
臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器，可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。中圖儀器CP系列臺階儀接觸式表面形貌測量儀廣泛應用于：大學、研究實驗室和研究所
2023-09-14 16:10:14
2023國產掃描電鏡技術應用研討會順利召開
（合肥）技術有限公司承辦的“2023國產掃描電鏡技術應用研討會”在合肥召開。來自中國科學院、北京大學、中南大學、中國農科院、中國醫學科學院、浙江中醫藥大學等高校科研
2023-09-13 08:30:05502
502?使用虹科數字化儀測量遙遠恒星的直徑
加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC 望遠鏡是為了觀測發射高能伽馬射線的宇宙物體（即超新星或黑洞）而建造的。天文學家使用雙望遠鏡測量恒星的直徑，以研究其整個生命周期的過程。對于地球上的望遠鏡來說，這是
2023-09-11 15:31:38199
199
使用虹科數字化儀測量遙遠恒星的直徑
使用虹科數字化儀測量遙遠恒星的直徑HongKe'sdigitizercards加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC望遠鏡是為了觀測發射高能伽馬射線的宇宙物體（即超新星或黑洞）而建造的。天文學家
2023-09-09 08:07:32352
352
功率放大器在掃描顯微鏡中的應用有什么
功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術，它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結構特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號增益，使得掃描顯微鏡能夠獲得
2023-09-07 18:28:23209
209
聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統 FIB-SEM應用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
蔡司掃描電鏡在第三代半導體領域的應用成果
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展已經取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356
356
EDS面掃、線掃、點掃的應用
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區內元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現形貌與成分的對照。它的工作原理是：當電子束掃描樣品時，不同元素被激發出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241953
1953
白光干涉儀可以看顯微形貌嗎？
白光干涉儀是一種常見的測量設備，它能夠利用不同的光束干涉原理來觀察和測量顯微形貌。當白色光經過分束鏡分成兩束光線，這些光線在目標物體上反射后重新合并。這樣，生成的光束會發生干涉，由此產生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標物體的表面形貌直接相關。
2023-08-23 10:35:21441
441
國儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000
“在大規模成像場景中，常規掃描電鏡成像速度和自動化程度都無法滿足應用需求。例如，在芯片結構成像應用中，需要在幾周內完成數百平方毫米區域的連續拍攝；在人類腦圖譜研究中，需要對百億級神經元進行高分辨成像
2023-08-09 08:29:23453
453蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質、物理、化工、農醫、公安、食品和輕工等領域的科學研究，人們總是關心微觀形態、晶體結構和化學組成與宏觀物理或化學性質之間的關系。光學顯微系統
2023-08-08 15:50:351419
1419蔡司掃描電鏡下金剛石形貌
金剛石礦物的晶體結構屬于等軸晶系同極鍵四面體結構。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對稱性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國也有制造鉆石的技術。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無
2023-08-04 11:50:01458
458
SEM5000交付中國農科院作科所重大平臺中心
場發射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側設備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側設備為場發射掃描電鏡SEM5000近日，國儀量子場發射掃描電鏡SEM5000交付中國農科院作科所重大
2023-07-31 23:30:26350
350蔡司掃描電鏡在半導體領域的應用成果
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內部缺陷的技術。SEM-ECCI技術的發展在缺陷表征領域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330
330
蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠對各種材質的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結構進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現樣品表面微觀區域內的成分和織構分析
2023-07-26 10:48:06650
650白光干涉儀測二維形貌怎么測
白光干涉儀利用白光干涉原理，通過測量光的相位變化來獲取物體表面的形貌信息。在工業制造、科學研究等領域，被廣泛用于測量精密器件的形貌、表面缺陷檢測等方面。白光干涉儀通過對干涉條紋進行圖像處理，可以獲得
2023-07-21 11:05:48418
418
白光干涉儀測三維形貌怎么測
白光干涉儀測量的結果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對干涉條紋進行圖像處理得到的，顯示出被測物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二維圖像的基礎上，進一步還原出物體表面的立體形貌
2023-07-21 11:03:00522
522
蔡司場發射掃描電鏡SIGMA 500
蔡司場發射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無交叉光路設計，打破了傳統設計中電子束交叉三次發生能量擴散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對圖像質量的影響;鏡筒內置電子束加速器，無需
2023-07-14 16:26:59916
916
3D三維掃描儀的掃描測量技術原理
3D三維掃描儀測量測技術采用三角測量原理準確獲取工件表面完整三維數據的高性能光學掃描量測系統是一款先進的的解決方案。與傳統接觸式測量方法相比，非接觸式蔡司光學掃描測量方法更快，獲取的數據信息量更多
2023-07-11 15:11:391174
1174
EM科特 CUBE-Ⅱ臺式桌面掃描電鏡與傳統掃描電鏡的區別
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區別與傳統掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備。 EM
2023-07-05 15:24:02433
433
關于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點分析
的高性能高效率，大樣品倉內含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產品優勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規SEM無法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB，半導體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270
270
SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術應用
等領域。SEM掃描電鏡分析實驗室圖源：優爾鴻信華南檢測中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相
2023-07-05 10:04:061995
1995
AMEYA360談蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列
近日，蔡司中國新一代場發射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發布會成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導體和集成電路、深海、航天、生命科學和考古學等熱門領域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司
2023-07-04 15:39:24249
249
場發射掃描電鏡GeminiSEM 500規格參數
今天三本精密儀器小編給您介紹場發射掃描電鏡GeminiSEM500規格參數及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發、松動粉末或碎屑等有揮發物樣品
2023-06-19 11:15:40813
813喜提儀器行業大獎！國儀量子場發射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎”
5月18日，2023第十六屆中國科學儀器發展年會(ACCSI2023)在北京雁棲湖國際會展中心盛大開幕，并頒發“儀器及檢測3i獎”。國儀量子自主研發的場發射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i
2023-05-30 17:19:16366
366光學三維形貌測量概述
? 技術背景 物體三維形貌提供豐富直觀的信息，在現代工業與生活中許多領域有廣泛的應用。的非接觸三維測量有著廣泛的應用。經典的外觀幾何測量諸如長度，角度，平面度，直線度等的測量技術一般采用接觸式測試
2023-05-29 15:20:351100
1100
芯明天壓電鏡架選型
芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應來控制鏡片位置的光學機械。壓電效應是指在某些晶體中，如壓電陶瓷，當施加電場時，壓電陶瓷會發生形變，通過機械結構將這種形變轉換為直線毫米級行程，該運動對鏡架進行角度偏轉
2023-05-25 10:27:45350
350
白光干涉儀的原理和測量方法
等一百余項參數，廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等領域。SuperViewW1白光干涉儀白光干涉儀掃描原理在利用白光干涉測量表面三維形貌的過程中，對于被測表面上
2023-05-15 14:34:231961
1961
基于銀納米顆粒/銅納米線復合材料的電化學無酶葡萄糖傳感器
研究人員首先對銀納米顆粒/銅納米線進行了合成，并對制備的銅納米線和化學沉積后負載不同尺寸銀納米顆粒的銅納米線進行了形貌和結構表征（圖1）。隨后，利用制備的銀納米顆粒/銅納米線材料制備獲得銀納米顆粒/銅納米線電極，用于后續無酶葡萄糖傳感性能的研究。
2023-05-12 15:19:28631
631
rt_sem_control的使用場景是什么？
在信號量的api中有一個api: rt_sem_control ,目前只支持一個命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號量值，在官方的demo中經常看到這種用法rt_sem
2023-05-05 17:26:37
培訓通知｜國儀量子2023年第二期SEM線下應用培訓班
課程簡介為持續給國儀量子SEM用戶提供高質量的使用體驗，國儀量子電鏡事業部將搭建一個用戶與國儀量子應用專家之間進行深入技術交流的平臺，定期開展在線和線下的應用培訓課程。本次線下課程以小班形式進行教學
2023-04-21 09:20:47279
279喜報！國儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺
場發射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時
2023-04-12 11:38:30572
572HF5000球差電鏡功能介紹和亮點功能案例分析
季豐電子HITACHI HF5000功能豐富，借助超高的分辨率和獨特的探頭設計，可滿足客戶大多數極限應用需求，比如高分辨單原子像、輕元素成像、表面納米級至原子級形貌觀察以及納米結構至原子形貌mapping等，對于常規需求能輕松應對。
2023-04-11 17:08:181472
14723D建模服務三維掃描測量CAD畫圖服務
CASAIM智能制造利用三維激光掃描技術為廣大客戶提供了高效的三維掃描建模服務與三維尺寸測量服務。結合三維掃描儀，只要對實物進行掃描，再進行加工生產和逆向工程，可以更加高效開發系列化產品。下面看看CASAIM智能制造在廣州3D建模服務三維掃描測量CAD畫圖服務。
2023-03-31 15:27:33594
594
工商網監
評論