、ATE 測試與三溫(常溫/低溫/?溫)驗證。（3）破壞性分析：塑料開封、去層、板級切片、芯片級切片、推拉力測試。（4）微觀顯微分析：DB FIB
2024-03-14 16:12:31
用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件
2024-03-13 10:10:32
的移相特性非常重要，并且在電子電路中有許多實際應用。 首先，我們來觀察和分析RC電路的移相特性。為了用于觀測和分析移相特性，我們可以通過輸入一個正弦信號來激勵RC電路。正弦信號是一種周期性變化的信號，通常用于分析系統(tǒng)的頻率響應。在
2024-03-09 14:07:49
308 2024年3月6日，日立高新技術(shù)集團旗下的日立分析儀器有限公司（以下簡稱為“日立分析儀器”）推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件。
2024-03-06 14:00:06143 【設備應用】
SEM是掃描電子顯微鏡，用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對應的電子能不同，來鑒別元素，通常與SEM結(jié)合使用，也就是說在SEM上安裝EDS附件，在
2024-03-01 18:59:58
在芯片制造領域，透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關重要的作用。通過TEM測試，科學家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結(jié)構(gòu)，從而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13134 
作為一款強大的多物理場仿真軟件，為超材料和超表面的研究提供了強大的仿真工具。本文將重點介紹COMSOL Multiphysics在周期性超表面透射反射分析中的應用，以期為相關領域的研究提供
2024-02-20 09:20:23
共聚焦顯微鏡在材料學領域應用廣泛，通過超高分辨率的三維顯微成像測量，可清晰觀察材料的表面形貌、表層結(jié)構(gòu)和納米尺度的缺陷，有助于理解材料的微觀特性和材料工程設計。
2024-02-18 10:53:13224 
掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細物質(zhì)構(gòu)造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15603 基于 蔡司 全系列電子顯微鏡的原位液體電化學顯微解決方案具有在真實液氛下的高分辨成像、多模態(tài)全面表征以及靈活擴展的創(chuàng)新優(yōu)勢。本期分享液氛SEM的原位多模態(tài)分析方法，以及高分辨成像的全新案例。 創(chuàng)新
2024-01-30 14:22:07137 
陽一科技體視顯微鏡也稱解刨顯微鏡，是微量物證檢驗常用的儀器。主要用于痕跡檢驗、文件檢驗中的細小物證，如指紋、工具、文字的顯微觀察和分析檢驗。體視顯微鏡主要操作有：調(diào)焦，視度調(diào)節(jié)，瞳距調(diào)節(jié)和燈泡更換
2024-01-26 08:35:32292 
1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國電鏡”新品發(fā)布會，正式發(fā)布首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標志著我國已掌握透射電鏡整機研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 
。 1月20日，首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡TH-F120在廣州市黃埔區(qū)正式發(fā)布。該透射電鏡由生物島實驗室領銜研制，擁有自主知識產(chǎn)權(quán)，將打破國內(nèi)透射電鏡100%依賴進口的局面，標志著我國已掌握透射電鏡用的電子槍等核心技術(shù)，并具備量產(chǎn)透射電鏡
2024-01-22 09:54:52127 等問題，無法滿足精細材料表面的檢測需求。而激光共聚焦顯微鏡以其高分辨率、高靈敏度和高測量速度等優(yōu)勢，成為材料表面粗糙度檢測的得力工具。為什么要選擇共聚焦顯微鏡測粗糙度？激光共聚焦顯微鏡作為一種高分辨顯微鏡，能
2024-01-18 10:53:42
0 顯微鏡利用可見光成像。因為電子的波長比光的波長小得多，所以電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高。 掃描電子顯微鏡（SEM），簡稱掃描電子顯微鏡，已成為一種功能強大、用途廣泛的材料表征工具，廣泛應用于材料、冶金、礦產(chǎn)、
2024-01-17 09:39:56146 中圖儀器VT6000系列材料激光共聚焦顯微鏡用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。它以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像
2024-01-12 11:35:10
由于電子在空氣中行進的速度很慢，所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類型的真空泵串連起來獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當電子顯微鏡啟動時，第一
2024-01-09 11:18:33165 數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5298 
?? ?SEM掃描電子顯微鏡場發(fā)射電子槍與鎢絲電子槍的區(qū)別 相同點 ? ? ? ?它們都是電子槍，也就是發(fā)射電子的裝置。它們有陰極和陽極。陰極都是點源發(fā)射體。陰極和陽極之間有一個直流高壓電場。高電壓
2024-01-04 16:46:25362 薄TEM薄片+TEM觀察分析對于芯片膜層很薄的結(jié)構(gòu)層，一般是幾個納米的芯片膜厚，透射電鏡TEM分辨率比SEM高，透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬
2024-01-02 17:08:51
掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計量和過程控制的研究和先進制造中，我們在對半導體材料和結(jié)構(gòu)進行觀測時，常常會遇到充電效應，本文討論了與樣品充電相關的一些問題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12462 
? ? ?ZEN core軟件處理的不僅僅是顯微鏡成像。也是一個綜合性的軟件套件，它集成了成像、圖像分割、分析和數(shù)據(jù)連接工具。它可以分析來自所有蔡司顯微鏡和任意來源的圖像，輕松實現(xiàn)互聯(lián)材料實驗室
2023-12-29 13:07:08139 
了小批試產(chǎn)階段，這標志著國產(chǎn)首臺200kV透射電子顯微鏡取得重大突破。透射電子顯微鏡被列為受限制的“35項關鍵技術(shù)”之一，是半導體、生命科學、材料科學等領域不可或缺的高端科學儀器，國內(nèi)市場需求巨大，但長期以來全部依賴進口，因此國產(chǎn)
2023-12-28 11:24:09766 
過程中產(chǎn)生的熱量和潛在的損傷，保證了樣本的完整性和可靠性。
3. 冷凍顯微鏡技術(shù)
冷凍顯微鏡是一種結(jié)合冷凍和顯微鏡技術(shù)的創(chuàng)新方法，它使用高分辨率的顯微鏡觀察樣本在低溫下的微觀結(jié)構(gòu)和反應過程。這種技術(shù)不僅
2023-12-26 13:30:34
如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？ 頻譜分析儀是一種廣泛應用于電子領域的儀器，用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號，確保設備的正常工作和無干擾的信號傳輸
2023-12-21 15:37:16592 同步熱分析儀是一種在材料科學、化學、物理等領域廣泛應用的實驗設備。它結(jié)合了熱重分析（TGA）和差熱分析（DSC）兩種技術(shù)，能夠同時測量樣品的質(zhì)量和熱量變化，提供關于樣品熱性質(zhì)和化學反應的豐富信息
2023-12-20 13:56:39215 
在低溫電子顯微鏡中，100千電子伏至300千電子伏之間的電子束穿過樣品——一組分離并固定在厚度不到60納米的超薄冰層中的單分子（平均直徑為5至40納米）。
2023-12-19 17:11:00416 
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)，是材料相關工作者和學者研究的有力工具之一。其應用范圍非常廣泛，甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領域。本文將對掃描電子顯微
2023-12-19 15:31:37507 
透射電子顯微鏡（TEM）具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力，可用于先進半導體技術(shù)中亞納米尺寸器件特征的計量和材料表征，比如評估界面細節(jié)、器件結(jié)構(gòu)尺寸以及制造過程中出現(xiàn)的缺陷或瑕疵。
2023-12-18 11:23:58774 
本文介紹了一種飛米級電子顯微鏡的原理，未來這種技術(shù)有望用于探測遠離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12221 
紅外發(fā)射電路是紅外通信系統(tǒng)中的重要組成部分，其主要功能是產(chǎn)生和發(fā)射紅外信號。本文將詳細分析紅外發(fā)射電路的功能，包括其工作原理、主要組成部分、性能指標以及應用場景。 一、紅外發(fā)射電路的工作原理 紅外
2023-12-13 11:02:11409 有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì)，進一步分析
2023-12-12 15:18:171020 
共聚焦
顯微鏡能夠
觀察材料表面和內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)，在半導體制造及封裝工藝檢測、3C
電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納
材料制造、汽車零部件、MEMS器件等領域中，共聚焦
顯微鏡能夠?qū)γ嫘屋喞⒈砻嫒毕?/div>
2023-12-12 09:47:50356 
綜合分析。但現(xiàn)在有了大數(shù)據(jù)分析工具，一切問題都可迎刃而解。
大數(shù)據(jù)分析工具，顧名思義就是專門為分析海量數(shù)據(jù)而開發(fā)的一類工具。這類工具具有極強的大數(shù)據(jù)分析、指標計算、數(shù)據(jù)可視化能力，能在極短的時間內(nèi)統(tǒng)一
2023-12-05 09:36:05
借助先進的Docker安全管理工具，企業(yè)組織可以自動掃描Docker鏡像并查找安全漏洞，發(fā)現(xiàn)其中已過時的軟件包或已知的安全漏洞；此外，這些工具還可以有效幫助安全人員分析Docker鏡像的內(nèi)容
2023-11-27 16:12:49186 
掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統(tǒng)計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235 
掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對無機材料和部分有機材料，迅速提供在統(tǒng)計學上可靠且可重復的礦物學、巖相學和冶金學數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:02:19459 共聚焦顯微鏡具有高分辨率和高靈敏度的特點，適用于多種不同樣品的成像和分析，能夠產(chǎn)生結(jié)果和圖像清晰，易于分析。這些特性使共聚焦顯微鏡成為現(xiàn)代科學研究中的重要工具，同時為人們解析微觀世界提供了一種強大
2023-11-21 09:21:030 EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù)，全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比，EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率，可以獲得亞微米級的晶體學數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48366 
最近收到老師同學們的許多問題，其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位錯、混合位錯)”。在此，為了能快速理解并分析，我整理了三個問題，希望能幫助到大家，以下見解如有錯誤，請大家批評指正。
2023-11-13 14:37:25635 
11月7日，國儀電鏡論壇暨安徽大學先進功能材料分析測試技術(shù)交流會在安徽大學磬苑校區(qū)成功舉行，來自周邊地區(qū)高校的80多位領域內(nèi)師生參與了本次會議，深入探討先進功能材料的分析測試技術(shù)與電子顯微鏡在研究
2023-11-10 08:24:59622 如今，不僅有能放大幾千倍的光學顯微鏡，也有能放大幾十萬倍的電子顯微鏡，讓我們對生物體的生命活動規(guī)律有了更深入的了解。普通中學生物教學大綱中規(guī)定的實驗絕大部分都是利用顯微鏡來完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實驗的關鍵。
2023-11-07 15:23:26797 鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大，抗干擾能力和穩(wěn)定性好。可在低真空下不充電對非導電樣品進行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學
2023-11-06 13:52:52176 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《光伏接線盒材料分析.ppt》資料免費下載
2023-11-02 10:20:061 （摘要：英諾達發(fā)布了自主研發(fā)的EnFortius?凝鋒?RTL級功耗分析工具，可以在IC設計流程早期對電路設計進行優(yōu)化。） （2023年11月1日，四川成都）英諾達（成都）電子科技有限公司發(fā)布
2023-11-01 09:51:31125 鎢絲掃描電子顯微鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中，抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好。可在低真空下對非導電樣品進行成像，并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析，以及斷口形貌分析。分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學
2023-10-31 15:17:52249 透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣，這兩種像分別為不同電子成像，前者是透射電子成像，后者為散射電子成像。
2023-10-31 14:53:50677 
美國Sigmadyne公司的SigFit軟件是光機熱耦合分析工具，可以將有限元分析得到的光學表面變形等結(jié)果文件通過多項式擬合或插值轉(zhuǎn)化為光學分析軟件的輸入文件，還可實現(xiàn)動態(tài)響應分析、光程差分析
2023-10-24 14:57:45263 
普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比，場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發(fā)射掃描電子顯微鏡由場發(fā)射電子槍、電子束推進器、聚光透
2023-10-23 14:56:393841 
掃描電子顯微鏡是一種電子光學儀器，廣泛應用于化學、生物、醫(yī)藥、冶金、材料、半導體制造、微電路檢測等領域。自20世紀60年代以來，掃描電子顯微鏡一直被用作一種工具。商用電子顯微鏡問世以來，發(fā)展迅速
2023-10-19 15:38:30357 
使用，使用機器學習（ML）算法從掃描電子顯微鏡（ SEM ）和透射電子顯微鏡（TEM）數(shù)據(jù)中提取和分析輪廓，從而減少工程師的手動測量任務。 工藝技術(shù)變得越來越復雜 現(xiàn)代芯片制造技術(shù)的研發(fā)成本高達數(shù)十億美元，而且越來越復雜和昂貴：公司需要進行研究以發(fā)現(xiàn)適合其需
2023-10-13 15:26:17530 透射電子顯微鏡圖像的襯度來源于樣品對入射電子束的散射。電子波在穿過樣品時振幅和相位會發(fā)生變化，這兩種變化都會引起圖像襯度。因此，在TEM觀察中對振幅襯度和相位襯度進行區(qū)分尤為重要。
2023-10-10 09:26:52502 
? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時，快速獲取更高
2023-09-23 09:50:44375 
掃描透射電子顯微鏡（Scanning Transmission Electron Microscope，簡稱STEM），是在TEM成像技術(shù)上發(fā)展起來的一種電子顯微成像技術(shù)
2023-09-19 11:24:512514 
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角
2023-08-29 14:54:151371 
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現(xiàn)形貌與成分的對照。它的工作原理是：當電子束掃描樣品時，不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241953 
在材料生產(chǎn)領域，共焦顯微鏡系統(tǒng)所展現(xiàn)的放大圖像細節(jié)要高于常規(guī)的光學顯微鏡。在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態(tài)細節(jié)更清晰更微細，橫向分辨率更高。VT6000材料型轉(zhuǎn)盤共聚焦顯微鏡以共聚
2023-08-29 09:03:37
。**配備高靈敏度的光電二極管探測器，使得激光共聚焦顯微鏡能夠快速并精確地檢測光信號，并將其轉(zhuǎn)換為電信號。
與傳統(tǒng)的光學觀察不同，光電二極管探測器可以實現(xiàn)單個光子的檢測，使得成像更加敏感和準確。這種
2023-08-22 15:19:49
，為電池研發(fā)提供有價值的數(shù)據(jù)。然而，受可見光波長的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬倍，達到奈米分辨率。由于電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)
2023-08-22 13:41:06323 
TEM在半導體領域具有非常廣泛的用途，如晶圓制造工藝分析、芯片失效分析、芯片逆向分析、鍍膜及刻蝕等半導體工藝分析等等，客戶群體遍布晶圓廠、封裝廠、芯片設計公司、半導體設備研發(fā)、材料研發(fā)、高校科研院所等。
2023-08-21 14:53:561041 
的臺階高度測量；
5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量；
6、微電子表面分析和MEMS表征。
總之，白光干涉儀并非只能測量同質(zhì)材料。盡管在非同質(zhì)材料的測量中需要更多的校準和計算，但通過精確的技術(shù)和分析方法，它仍然可以提供準確、詳細而可靠的測量結(jié)果，幫助我們深入研究材料的特性和性能。
2023-08-21 13:46:12
，受可見光波長的限制，它的觀察范圍有限，而電子顯微鏡很好地解決了這一問題 1931年問世的蔡司電子顯微鏡，利用電子束將物體放大300萬倍，達到奈米分辨率。由于蔡司電子顯微鏡的分辨率更高，在電池研發(fā)中，用不同的探針，可獲得
2023-08-16 14:03:49225 
。對于此類場景，常規(guī)掃描電鏡效率嚴重不足，為解決客戶痛點，國儀量子于近日推出一款專為大規(guī)模成像而生的新產(chǎn)品——高速掃描電子顯微鏡HEM6000。”高速掃描電子顯微
2023-08-09 08:29:23453 圖形分析器是一個幫助OpenGL ES和Vulkan開發(fā)人員通過API級別的分析來充分利用其應用程序的工具。
該工具允許您觀察API調(diào)用參數(shù)和返回值，并與正在運行的目標應用程序交互，以調(diào)查單個API
2023-08-09 06:08:14
蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對于材料科學、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領域的科學研究，人們總是關心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學組成與宏觀物理或化學性質(zhì)之間的關系。光學顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351419 
的物理過程包括電子源產(chǎn)生、透射、衍射、散射、吸收等多個過程，這些過程相互作用并共同影響圖像的形成。 2.高級光學 ? TEM使用高能電子束來成像，這與傳統(tǒng)的光學顯微鏡有很大的差異。電子在樣品中的相互作用更復雜，需要理解電子的波動性和相對論
2023-08-07 09:47:06841 
雖然還有其他研究石墨烯瑕疵的方法，但這些方法都有缺點。例如，拉曼光譜無法區(qū)分某些缺陷類型，而高分辨率透射電子顯微鏡能以出色的分辨率表征晶體結(jié)構(gòu)缺陷，但其使用的高能電子會使晶格退化。
2023-08-03 15:10:08391 
全球排名前20的超級計算機用戶中有70%使用Arm工具來快速理解應用程序性能，并通過調(diào)試、分析和優(yōu)化更快地獲得結(jié)果努力。
2023-08-02 09:51:51
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過對該圖像進行解釋
2023-08-01 10:02:152342 。量子技術(shù)，國儀閃耀CIQTEK國儀量子在本屆大會上全面展現(xiàn)了以量子精密測量技術(shù)為核心的先進測量技術(shù)、產(chǎn)品與解決方案，量子傳感、量子教學、磁共振、電子顯微鏡、氣體
2023-07-31 23:30:51250 掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330 
pyverilog是一個非常強大的verilog分析工具，本節(jié)介紹pyverilog的使用
2023-07-26 17:04:441357 
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650 波長微分干涉（DIC）顯微鏡采用緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，滿足顯微操作的防震要求；模塊化功能設計理念，方便系統(tǒng)升級，導柱升降裝置，可快速調(diào)整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測，搭載機械移動式載物平臺，有效定位工件，適合于顯微觀察或多試樣快速檢測。人機工程學理想設計，操作更方便舒適，空間更廣闊。
2023-07-25 10:59:47525 
引言綜合熱分析儀是一種多功能的熱學測量儀器，能夠同時測量樣品的多種熱學性能和物理性質(zhì)。它在材料科學、化學、冶金、生物醫(yī)學等領域中具有廣泛的應用，為研究材料的性能和反應過程提供了強有力的支持。本文
2023-07-14 16:02:48362 
今天小編三本精密儀器給大家介紹下共聚焦顯微鏡Smartproof5數(shù)碼顯微鏡可信的數(shù)據(jù)輸出1、由于其受專利保護的寬場相關孔徑共聚焦技術(shù)，Smartproof5能夠有效地減少獲取分析結(jié)果的時間，從而
2023-07-12 14:40:13421 
、電子順磁共振波譜儀、掃描電子顯微鏡、氣體吸附分析儀、量子測控等系列產(chǎn)品參展。誠邀您作為我司特邀觀眾蒞臨參觀！國儀量子展位號：2.2B301深耕產(chǎn)業(yè)，多領域解決方案報告會議期
2023-07-06 10:03:56316 Veritas系列保持EMVeritas系列保持EM科特（EmCrafts）電子顯微鏡的高性能高效率，大樣品倉內(nèi)含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。科特（EmCrafts）電子顯微
2023-07-05 15:13:38270 
這是Amanda王莉第55篇文章,點這里關注我,記得標星在當今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應用在半導體、材料科學、生命科學和納米材料
2023-07-05 10:04:061995 
掃描隧道顯微鏡STM 掃描隧道顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope, 縮寫為STM) 是一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子，它具有
2023-07-04 13:12:051130 
共聚焦顯微鏡的系統(tǒng)點擴散函數(shù)分布等于物鏡和點像能量分布的卷積。在物鏡相同的情況下，其橫向分辨率(x-y面)比傳統(tǒng)光學顯微鏡提高了1.4倍，達到0.4λ/NA，如中圖儀器的VT6000材料共聚焦顯微
2023-06-20 10:19:29
產(chǎn)品介紹—— 普密斯PMS-TM200是一種新型的數(shù)字測量顯微鏡.結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測量儀的X、Y、Z軸表面尺寸測量功能，具備明暗場、微分干涉、偏光等多種
2023-05-31 15:19:59
產(chǎn)品介紹—— 3D視頻顯微鏡有多種3D觀察角度：30°，35°，40°，45°，直流伺服馬達驅(qū)動3D轉(zhuǎn)換鏡圍繞式樣進行360°旋轉(zhuǎn)，實時將圖像傳導在高清顯示器上在線觀察。 3D視頻顯微
2023-05-31 15:16:47
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微
2023-05-31 09:20:40782 
以共聚焦技術(shù)為原理的激光共聚焦顯微鏡，是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。VT6000激光共聚焦顯微鏡材料科學的目標是研究材料表面結(jié)構(gòu)對于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析
2023-05-26 14:43:421229 
在材料生產(chǎn)檢測領域中，共聚焦顯微鏡主要測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。與傳統(tǒng)光學顯微鏡相比，它具有更高
2023-05-25 11:27:02
顯微光譜測試系統(tǒng) 1.輕松實現(xiàn)具有微米級空間分辨率的顯微熒光光譜。 2.簡單方便的擴展功能與設計精巧的可選模塊。 3.可實現(xiàn)微米級樣品的反射光譜，透射光譜、熒光光譜，熒光壽命，拉曼光譜等光譜分析測試
2023-05-24 07:17:23286 
在材料生產(chǎn)檢測領域中，共聚焦顯微鏡在陶瓷、金屬、半導體、芯片等材料科學及生產(chǎn)檢測領域中也具有廣泛的應用。例如，鋼的鑄造組織一般比較粗大，可直接用共聚焦顯微鏡進行觀察，同時可以利用其模擬微合金鋼在
2023-05-18 14:05:46
在調(diào)試開發(fā)藍牙Mesh產(chǎn)品時，除了打開設備端的Log外，有時還需要用到抓包工具分析空中的Mesh消息格式和交互流程是否正確。目前市面上的抓包儀器價格較貴，在缺少專業(yè)的抓包工具時，可通過泰凌自研的藍牙Mesh包解密分析工具進行初步分析。
2023-05-17 10:43:571557 
研究SEI對電池性能的影響是開發(fā)穩(wěn)定鋰金屬電池的關鍵。盡管如此，SEI的確切納米結(jié)構(gòu)和工作機制仍然不清楚。
2023-05-15 18:27:53710 
為了支持半導體制造商的自動化需求，先進的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數(shù)據(jù)生成時間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25500 【核芯觀察】是電子發(fā)燒友編輯部出品的深度系列專欄，目的是用最直觀的方式令讀者盡快理解電子產(chǎn)業(yè)架構(gòu)，理清上、中、下游的各個環(huán)節(jié)，同時迅速了解各大細分環(huán)節(jié)中的行業(yè)現(xiàn)狀。本期【核芯觀察】的主題是衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)，對上下游企業(yè)、技術(shù)、市場等方面進行梳理，分析當前衛(wèi)星通信產(chǎn)業(yè)中芯片的需求趨勢。
2023-04-23 00:01:004089 
隨著科技的不斷進步和發(fā)展，高頻電路的應用越來越廣泛，對于電子材料的性能要求也越來越高。為了更好地了解新材料在高頻電路中的性能表現(xiàn)，矢量網(wǎng)絡分析儀（Vector Network Analyzer，VNA）成為了一種重要的測試工具。
2023-04-18 16:42:06314 
對所有制造材料進行100%全面檢查。 制造商測試實驗室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學顯微鏡(SAM)設備的投資。失效分析和可靠性檢測計量技術(shù)已變得至關重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實驗室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925 
場發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進的鏡筒設計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時
2023-04-12 11:38:30572 
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