Bs&T Frankfurt am Main GmbH 開發了一種新的基于 SCR 的脈沖發生器,并在各種感應功率組件上進行了測試。脈沖發生器具有一些獨特的特性,這些特性受益于 SCR 的高脈沖電流處理能力,并且與基于IGBT的系統相比,它具有一些主要優勢。?
電力電子的問題之一是確定電感器在其去飽和-飽和過渡期間的特性。這對于電感飽和會產生致命后果的大功率應用尤其如此。由于磁芯材料的非線性特性,電感器特性的計算很困難,而且由于制造公差、數據表規格不精確以及材料特性的變化等原因,電感特性的計算往往不一致。因此,通常需要測量功率扼流圈和電感器的飽和特性L ( I ) 和dL / dI,以確定它們在最壞情況下的電氣特性。?
為避免用于測試的重型設備和大功率負載,解決此問題的方法之一是在短時間內向測試樣本施加高功率脈沖,即幾毫秒到 100 毫秒。產生的電流和電壓波形可用于確定被測設備 (DUT) 的相關屬性。為此,大功率 SCR 可用于驅動非常高的脈沖電流通過電感器并創建去飽和-飽和轉換,從而實現測試樣本的高負載測量和最壞情況記錄。由于更高的脈沖電流處理能力,SCR 通常比 IGBT 更適合此目的。Bs&T 基于該技術開發了多種脈沖發生器,適用于各種應用。?
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Bs&T脈沖發生器的基本原理
對于測量功率扼流圈或任何其他類型的電感器,其基本工作原理是在短時間內向 DUT 施加一定量的能量,以驅動它通過雙重飽和-去飽和過程,并提取相關的電特性。這個過渡。這是通過將電容器組充電到一定的電壓/能量水平來實現的。通過一個 SCR 開關,該電壓脈沖被施加到 DUT,并與內部電感器一起創建一個諧振電路。根據 DUT 的特性,此電壓脈沖將導致電流上升,由此產生與電流相關的電感L ( I ) 和功率耗散損耗P diss可以使用 Pearson 型非接觸式電流探頭通過電流測量來提取。由于 SCR 具有出色的脈沖電流處理能力,測試樣本可以用幾千安培驅動,如果需要,甚至可以超過 10 kA。與 SCR 反向并聯的二極管保證了測試樣本的雙重飽和-去飽和轉變。這是 Bs&T 脈沖發生器的獨特特性,任何其他扼流圈測試設備都無法滿足。?
圖 :Bs&T 脈沖發生器的基本工作原理?
目前,有幾種 Bs&T 脈沖發生器可用,涵蓋了廣泛的脈沖能量和充電電壓。脈沖電流可高達 10 kA 甚至更高。所有脈沖發生器都是短路安全的,這意味著如果輸出因任何原因短路,電容器組將安全放電,而不會損壞內部組件。?
表 1:Bs&T Pulse 當前版本的性能數據?
*對于 SCR 脈沖發生器,脈沖長度定義為每個脈沖記錄的測量數據長度。
與其他測量方法的區別
最近,有一些出版物詳細闡述了 IGBT 脈沖發生器和基于 SCR 的系統之間的區別,聲稱關斷能力使基于 IGBT 的系統更加優越。關于脈沖生成和 DUT 飽和的基本物理原理,實際上差別不大。要看到這一點,只需將圖 2 中的 SCR 二極管組合替換為 IGBT — 它們基本相同。兩種系統都將電能存儲在電容器組中,并通過某種開關(IGBT 或 SCR)將 DUT 連接到電能存儲系統。因此,在這兩個系統中,都創建了一個帶有非線性電感器的臨時諧振電路。然而,基于 IGBT 的系統通常在電感器完全飽和之前關閉,以防止 IGBT 被大浪涌電流破壞。這就是為什么使用基于 IGBT 的脈沖發生器需要指定脈沖寬度的原因。圖 3 是使用基于 Bs&T 脈沖 SCR 的系統進行的測量。跟隨電流波形直到電感飽和,兩個系統的結果大致相同。然后,基于 IGBT 的系統將在定義的脈沖寬度后關閉——最好是在飽和前不久——而基于 SCR 的系統則保持開啟。兩個系統的結果大致相同。然后,基于 IGBT 的系統將在定義的脈沖寬度后關閉——最好是在飽和前不久——而基于 SCR 的系統則保持開啟。兩個系統的結果大致相同。然后,基于 IGBT 的系統將在定義的脈沖寬度后關閉——最好是在飽和前不久——而基于 SCR 的系統則保持開啟。??
圖 :使用基于 SCR 的脈沖發生器測試的功率扼流圈的典型電壓-電流波形。注意電壓反轉時的第二次飽和-去飽和轉變。?
就測得的電壓和電流波形而言,在發生飽和的那一點,沒有大的差別。但是,對于基于 IGBT 的系統,操作人員需要提前定義一些脈沖寬度,以防止 IGBT 被浪涌電流破壞。基于 SCR 的系統不會出現這個問題,因為 SCR 具有比 IGBT 高得多的浪涌電流處理能力。因此,在剩下的時間里——這不一定與實際電感測量相關——電容器將通過 DUT 放電以產生幾個飽和-去飽和轉變,這有助于確定電感在極端或故障條件下的特性. 此外,DUT 的損耗可以通過阻尼曲線確定,這是其他脈沖系統無法實現的。因此,與基于 IGBT 的脈沖發生器相比,使用基于 SCR 的系統進行的這一單一測量可以獲得更多的信息。表 2 顯示了一個比較。?
表 2:基于 IGBT 的脈沖發生器與基于 SCR 的脈沖發生器?
一般來說,基于 IGBT 的系統的問題歸結為 IGBT 的低浪涌電流能力,這需要在測量開始時定義脈沖寬度。對于基于 SCR 的系統,這不是必需的。一個簡單地定義放電電壓/能量。在測量波形中可以看到從去飽和到飽和的過渡期(見圖 3)。因此,當最大脈沖寬度(可以在飽和之前施加到測試樣本上)可以在最壞情況下測量時,不需要定義脈沖寬度。?
概括
關于使用 Bs&T 基于 SCR 的脈沖發生器測量電感元件特性,優勢可總結如下:?
1 A 至 10 kA 或更高的大電流范圍?
施加到 DUT 的可調電壓為 40 V 至 1,200 V 或更高?
DUT 的雙極(正負)電流驅動?
飽和時電感特性的文檔(最壞情況研究)?
脈沖能量可調,從毫焦耳到千焦耳或更多?
測量期間 DUT 兩端的電壓反轉?
無需在測量前定義任何脈沖寬度?
在沒有熱應力的情況下可靠地測量功率損耗?
交流電阻的測量?
為 DUT 提供高達數兆伏安的高脈沖功率的緊湊型設備?
短路安全?
結論
Bs&T 脈沖發生器設計已經證明,可以設計一個強大的基于 SCR 的脈沖發生器來測試電感器的飽和特性以及功率損耗。此外,雙極電流驅動提供雙飽和-去飽和轉換,提供更真實的交流環境,這是任何其他方法都無法實現的。因此,Bs&T 脈沖發生器是電力電子行業廣泛應用的獨特工具。?
審核編輯:湯梓紅
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