一、描述：

?????客戶有一臺LENOVO小雅音箱需要做ESD放電測試，按照客戶的要求，此款音箱的最低標準是要能接受±4KV的接觸放電，和±8KV的空氣放電。但是在實際的測試中我們發現，此款樣機的抗靜電能力為±1KV，超過此電壓測試的時候就會出現樣機無法被平板識別 。由于產品還在開發狀態不便公布其外觀，下圖為示意圖：

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??（圖一）

二、整改過程：

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?（圖二）

從圖二中可以看出，工程師在PCB設計的時候已經將ESD元器件設計進去了，但是樣機的抗靜電能力還是這么差，說明ESD元器件并沒有給靜電提供一條更低的阻抗回路，使得靜電并沒有按照我們預期的路線泄放。

從圖一中的結構中分析靜電的泄放回路，當靜電施加在轉接口的時候，靜電通過耦合的方式到線材上（5V,DEL,D+,D-，GND），在通過線材到PCB板上，最后通過PCB板與水平耦合板之間的分布電容泄放到耦合板上，再泄放到地。而我們整改ESD的基本思路就是改變靜電的泄放路徑，使得靜電的泄放路徑不包括敏感信號。

由分布電容的公式：C=S/d（其中S為分布電容的有效面積，d為兩幾板間的距離）可知，通過改變分布電容的有效面積和兩幾板之間的距離是可以改變分布電容的容值的，從而使得回路的阻抗更低。但是由于結構的限制，我們怎么改變電容，MCU始終都是在靜電的泄放路徑上，如圖三中，紫色箭頭為靜電的泄放路徑：

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（圖三）

根據ESD的干擾原理，我們可知ESD干擾也是一種共模干擾，并且從樣機表現出來的現象分析；一種是平板這邊有信號發出，樣機這邊接受不到，一種是平板信號沒有發出來。

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