??跌落測(cè)試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn),落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測(cè)試規(guī)范來決定)。
跌落測(cè)試
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2023-09-01 11:19:34459
PCB印刷電路板應(yīng)力測(cè)試儀TSK-32
TSK-64系列、TSK-32系列和DL-1000系列都是便攜式應(yīng)力測(cè)試儀,主要用于電路板ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、分板應(yīng)力測(cè)試和跌落應(yīng)力測(cè)試等等,也
2023-08-15 11:36:09
車載測(cè)試是什么 車載測(cè)試介紹
車載測(cè)試是什么 車載測(cè)試是指在汽車領(lǐng)域中對(duì)車輛及其相關(guān)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試和診斷的過程。它是一種系統(tǒng)性的測(cè)試方法,旨在評(píng)估車輛的功能、性能、安全性、可靠性并確保其符合預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。 車載測(cè)試主要包含
2023-07-19 11:03:112732
一個(gè)低光液位跌落檢測(cè)器的電路
這是一個(gè)低光液位跌落檢測(cè)器的電路。該電路利用自偏置配置來檢測(cè)光照水平的微小變化。該電路通常用于監(jiān)測(cè)非常低的液滴速率。晶體管的集電極提供反饋,用于穩(wěn)定光電達(dá)林頓的偏置。10μF電容和10MΩ電阻產(chǎn)生的高基源阻抗降低了對(duì)光學(xué)性能的影響。
2023-07-15 17:31:52447
振動(dòng)和跌落測(cè)試可在產(chǎn)品在正式出廠之前,分析和評(píng)估出產(chǎn)品的可靠性,降低后期出現(xiàn)不良品的概率,也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)。
PCBA
品控科技發(fā)布于 2023-07-05 15:24:04
【技術(shù)分享】ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過程
示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所,同時(shí)示教器作為手持操作裝置,也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)?ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過程告訴
2023-07-01 10:01:29294
【技術(shù)分享】ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過程
示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所,同時(shí)示教器作為手持操作裝置,也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)?ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過程告訴
2023-06-30 11:40:02207
紐扣電池電芯CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)EN62133測(cè)試
,測(cè)試內(nèi)容有 1.電芯:持續(xù)低速率充電、振動(dòng)測(cè)試、溫度循環(huán)測(cè)試、外部短路測(cè)試、自由跌落、沖擊、熱誤用、擠壓、低氣壓、過充電、強(qiáng)制放電、高倍率充電保護(hù)功能。 2.電池:振動(dòng)測(cè)試、高溫下外殼應(yīng)力、溫度循環(huán)測(cè)試、外部短路測(cè)試、自由跌落測(cè)試、沖擊
2023-06-28 16:55:07595
電動(dòng)車前叉車架跌落試驗(yàn)機(jī)
電動(dòng)車前叉車架跌落試驗(yàn)機(jī) 圖片僅供參考一、產(chǎn)品概述:將裝入軸承的后叉端通過固定軸固定于測(cè)試臺(tái)上,完全模擬車架的原尺寸,配置負(fù)載的情況下將前叉車架提升到300mm處跌落,觀察經(jīng)
2023-06-26 14:23:20
觸摸屏控制-動(dòng)力電池跌落試驗(yàn)機(jī)-滿足GB/T31485標(biāo)準(zhǔn)
觸摸屏控制-動(dòng)力電池跌落試驗(yàn)機(jī)-滿足GB/T31485標(biāo)準(zhǔn)電池安全性測(cè)試主要有:常溫或高溫外部短路、過充電、強(qiáng)制放電加速度沖擊、跌落、擠壓、針刺、重物沖擊等;電池環(huán)境安全實(shí)驗(yàn):低氣壓、溫度循環(huán)、振動(dòng)
2023-06-20 15:40:00
跌落試驗(yàn)裝置GB9706.1-2020 15.3.4標(biāo)準(zhǔn)要求
跌落試驗(yàn)裝置產(chǎn)品說明:功能概述:驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)頂桿使支承木板上升至預(yù)定高度,突然高速落下(下落加速度為9.8),支承木板自由跌落至木質(zhì)平臺(tái)上。該機(jī)配護(hù)欄及高位攔桿,用以防止試驗(yàn)過程中產(chǎn)品傾倒及震落到
2023-06-12 09:58:29
如何分辨測(cè)試治具和測(cè)試座
測(cè)試治具和測(cè)試座是電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)常用的兩種工具。雖然它們的作用相似,但它們的外形和用途略有不同。
2023-06-09 15:11:33388
手持or車載式測(cè)繪儀器CPU芯片用底部填充膠
未點(diǎn)膠和只做四膠點(diǎn)膠點(diǎn)膠固定,須做TC、振動(dòng)、跌落測(cè)試,僅在跌落測(cè)試后CPU芯片和存儲(chǔ)芯片(如圖兩大芯片)出現(xiàn)導(dǎo)通不良的情況,不良率高達(dá)20%TC測(cè)試的參數(shù)為:-40攝氏度
2023-06-09 15:06:31392
GB 31241-2022鋰電池測(cè)試新標(biāo)準(zhǔn)之試驗(yàn)項(xiàng)目?jī)?nèi)容
鋰電池測(cè)試新標(biāo)準(zhǔn)GB 31241-2022之試驗(yàn)項(xiàng)目?jī)?nèi)容:其中電池電芯模組安全性檢測(cè)主要包含有:低氣壓試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、加速度沖擊、跌落試驗(yàn)、重物沖擊試驗(yàn)、擠壓試驗(yàn)、熱濫用試驗(yàn)。
2023-06-07 09:26:581041
EMC中電容的應(yīng)用
中,涉及電源波動(dòng)抗擾度測(cè)試,通過儲(chǔ)能電容可以讓電路在測(cè)試過程中有足夠的能量保持正常工作。
以電壓跌落測(cè)試為例,電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)是為了模擬因?yàn)榫€路過載引起的長(zhǎng)時(shí)供電電壓升高或降低,或者其他
2023-06-07 09:02:22
電池跌落試驗(yàn)機(jī)使用方法
用途:用于鋰原電池和其它原電池、以及鋰離子電池(用于移動(dòng)電話、筆記本電腦、攝像機(jī)等數(shù)碼電子產(chǎn)品)、鎳氫、鎳鎘以及鉛酸電池(用于電動(dòng)工具、玩具、電動(dòng)自行車等產(chǎn)品)的自由跌落試驗(yàn) 技術(shù)規(guī)格要求
2023-06-06 13:36:08315
車載導(dǎo)航儀BGA芯片底部填充膠應(yīng)用案例
,尺寸14×14mm,錫球數(shù)量282個(gè),球心間距0.8mm,錫球直徑0.4mm,可靠性測(cè)試:a.跌落測(cè)試,1m,3邊6面12次跌落b.震動(dòng)測(cè)試,在他們客戶那里的震動(dòng)
2023-06-06 05:00:00420
電池跌落試驗(yàn)機(jī)GB 31241-2022
電池跌落試驗(yàn)機(jī) 用途:用于鋰原電池和其它原電池、以及鋰離子電池(用于移動(dòng)電話、筆記本電腦、攝像機(jī)等數(shù)碼電子產(chǎn)品)、鎳氫、鎳鎘以及鉛酸電池(用于電動(dòng)工具、玩具、電動(dòng)自行車等產(chǎn)品)的自由跌落
2023-06-02 09:17:46
車載定位儀BGA芯片底部填充膠
車載定位儀BGA芯片底部填充膠由漢思新材料提供客戶的產(chǎn)品是車載定位儀,需要用膠的是一塊QFN芯片,正方形10mm×10mm,18個(gè)腳×4。客戶需要解決芯片加固,防止跌落時(shí)芯片脫落。客戶需要做跌落測(cè)試
2023-06-01 09:31:15407
海外銷售終端(POS機(jī))抗跌落bga芯片補(bǔ)強(qiáng)加固底部填充膠方案
海外銷售終端(POS機(jī))抗跌落bga芯片補(bǔ)強(qiáng)加固底部填充膠應(yīng)用方案由漢思新材料提供1.客戶產(chǎn)品類型:海外銷售終端(POS機(jī));2.用膠部位及要求:用于主芯片底部填充,以提高產(chǎn)品抗跌落特性3.產(chǎn)品正常
2023-05-30 10:34:12482
汽車零部件環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)室及電磁兼容EMC測(cè)試機(jī)構(gòu)
電磁兼容試驗(yàn)(EMI/EMS)/電磁兼容測(cè)試:
靜電放電試驗(yàn),電快速瞬變脈沖群,浪涌沖擊測(cè)試,雷擊試驗(yàn),輻射抗繞度/發(fā)射,傳導(dǎo)抗繞度/發(fā)射,工頻磁場(chǎng)測(cè)試,電壓跌落試驗(yàn),諧波電流測(cè)試,電壓波動(dòng)和閃爍
2023-05-23 15:55:57
芯片測(cè)試及測(cè)試方法有哪些?
芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測(cè)試5%。測(cè)試是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331848
電池自由跌落試驗(yàn)機(jī)故障維修方法-電池安全檢測(cè)設(shè)備
4、手臂摔落后無法復(fù)位:需要檢查復(fù)位開關(guān)是否故障,檢查復(fù)位繼電器是否出現(xiàn)問題,檢查復(fù)位電機(jī)是否故障,檢查復(fù)位感應(yīng)器是否正常工作,還需檢查復(fù)位齒輪是否受損。
5、無法從機(jī)臺(tái)上墜落;可檢查跌落
2023-05-11 14:29:52418
鋰離子電池跌落測(cè)試機(jī)的維護(hù)保養(yǎng)
鋰離子電池跌落測(cè)試機(jī)的維護(hù)保養(yǎng):
1、如果機(jī)器長(zhǎng)時(shí)間不使用,需要在進(jìn)行測(cè)試前先對(duì)機(jī)器進(jìn)行預(yù)熱;或者隔一段時(shí)間就讓機(jī)器運(yùn)轉(zhuǎn)半天左右的時(shí)間。
2、保持清潔:機(jī)器使用前后,隨時(shí)使用棉布擦拭
2023-05-10 10:05:27365
軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試的區(qū)別點(diǎn)
軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試是軟件測(cè)試過程中的兩個(gè)階段。驗(yàn)收測(cè)試是部署軟件之前的最后一個(gè)測(cè)試操作。在軟件產(chǎn)品完成了單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之后,產(chǎn)品發(fā)布 之前所進(jìn)行的軟件測(cè)試活動(dòng)。它是技術(shù)測(cè)試的最后
2023-05-06 21:32:23460
華秋PCB工藝干貨分享:第十三道主流程之PCB包裝
損壞,嚴(yán)重的可能導(dǎo)致無法使用,所以包裝使用的包裝袋、紙箱、防護(hù)材料等都很重要。紙箱也有承重的要求,不能超重,便于裝卸。同時(shí)針對(duì)整箱的包裝,我們還會(huì)定期進(jìn)行跌落測(cè)試,以便確認(rèn)包裝的質(zhì)量,確保運(yùn)輸過程中的產(chǎn)品安全。
2023-04-21 16:04:55
PCB生產(chǎn)工藝 | 第十三道主流程之包裝
損壞,嚴(yán)重的可能導(dǎo)致無法使用,所以包裝使用的包裝袋、紙箱、防護(hù)材料等都很重要。紙箱也有承重的要求,不能超重,便于裝卸。同時(shí)針對(duì)整箱的包裝,我們還會(huì)定期進(jìn)行跌落測(cè)試,以便確認(rèn)包裝的質(zhì)量,確保運(yùn)輸過程中的產(chǎn)品安全。
2023-04-21 15:49:40
配電線路中跌落式熔斷器熔絲熔斷的處理
高壓跌落式熔斷器用于高壓配電線路、配電變壓器、電壓互感器、電力電容器等電氣設(shè)備的過載及短路保護(hù)。跌開式熔斷器的熔絲裝于一個(gè)在電弧下能產(chǎn)生氣體的絕緣管中,利用絕緣管在電弧作用下產(chǎn)生大量氣體所形成的氣流
2023-04-15 09:34:294834
YY-0505醫(yī)療器械EMC整改測(cè)試
提供Ⅰ類Ⅱ類及Ⅲ類有源醫(yī)療器械產(chǎn)品EMC預(yù)測(cè)試,提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的EMC輻射發(fā)射、傳導(dǎo)發(fā)射、EFT高壓脈沖群干擾、ESD靜電抗擾度、CS傳導(dǎo)抗擾度、Surge雷擊、RS輻射抗擾度相關(guān)弱項(xiàng),進(jìn)行提前分析
2023-04-11 10:05:12
跌落測(cè)試試驗(yàn)條件能力介紹
季豐嘉善實(shí)驗(yàn)室包裝跌落試驗(yàn)機(jī) 能力: ? ? ? 治具示意圖(不僅限圖示,更多治具開發(fā)中): 樣品示意圖: 參考標(biāo)準(zhǔn): GB/T 6587-2012電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范5.9.4 & 5.10.1
2023-03-27 14:47:09847
評(píng)論
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