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數據: Test Bus Controllers, JTAG TAP Masters With 16-Bit Generic Host Interfaces 數據表
'ACT8990測試總線控制器(TBC)是德州儀器SCOPE TM 可測性集成電路系列的成員。該系列元件支持IEEE標準1149.1-1990(JTAG)邊界掃描,便于測試復雜的電路板組件。 'ACT8990與其他SCOPE TM 集成電路不同。它們的功能是控制JTAG串行測試總線,而不是目標邊界可掃描設備。
JTAG串行測試總線所需的信號 - 測試時鐘(TCK),測試模式選擇(TMS),測試數據輸入(TDI)和測試數據輸出(TDO)可以從TBC到目標設備沒有額外的邏輯。這是作為IEEE標準1149.1-1990邊界可掃描組件的鏈完成的,它們共享相同的串行測試總線。 TBC為其目標生成TMS和TDI信號,從其目標接收TDO信號,并將其測試時鐘輸入(TCKI)緩沖到測試時鐘輸出(TCKO)以分發到其目標。 TMS,TDI和TDO信號可以直接或通過流水線連接到目標,重定時延遲高達31位。由于TBC可配置為生成多達六個獨立的TMS信號[TMS(5-0)],因此可用于控制多達六個并行連接的目標掃描路徑(即共享公共TCK,TDI和TDO信號)。
雖然TBC的大多數操作與TCKI同步,但是為目標接口的輸出控制提供了測試關閉(TOFF \)輸入,并且測試復位(TRST \)輸入用于TBC的硬件/軟件復位。另外,提供四個事件[EVENT(3-0)] I /O用于與目標設備的異步通信。每個事件都有自己的事件生成/檢測邏輯,檢測到的事件可以由兩個16位計數器計數。
TBC通過5位地址總線在主機微處理器/微控制器的控制下運行[ADRS(4-0)]和16位讀/寫數據總線[DATA(15-0)]。實現讀(RD \)和寫(WR \)選通,使得關鍵主機接口時序獨立于TCKI周期。可以尋址24個寄存器中的任何一個用于讀取和/或寫入操作。除控制和狀態寄存器外,TBC還包含兩個命令寄存器,一個讀緩沖區和一個寫緩沖區。 TBC的狀態通過就緒(RDY \)和中斷(INT \)輸出傳輸到主機。
主機可以發出主要命令,使TBC生成移動所需的TMS序列目標從任何穩定的測試訪問端口(TAP)控制器狀態到任何其他穩定的TAP狀態,執行Run-Test /Idle TAP狀態的指令,或通過目標掃描指令或測試數據(s) )。可以預設一個32位計數器,以允許執行預定數量的執行或掃描操作。
在選定的TDI輸入(TDI1或TDI0)上出現的串行數據被傳輸到讀緩沖區,可以是由主機讀取以獲得最多16位的串行數據流。從TDO輸出發送的串行數據由主機寫入寫緩沖區。
SN54ACT8990的特點是在-55°C的整個軍用溫度范圍內工作至125°C。 SN74ACT8990的工作溫度范圍為0°C至70°C。
NC - 無內部連接
<小> SCOPE和EPIC是德州儀器公司的商標。
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Technology Family |
VCC (Min) (V) |
VCC (Max) (V) |
Bits (#) |
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA) |
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns) |
IOL (Max) (mA) |
Input Type |
Output Type |
Rating |
Operating Temperature Range (C) |
? |
SN54ACT8990 |
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ACT ? ? |
4.5 ? ? |
5.5 ? ? |
16 ? ? |
0.45 ? ? |
20 ? ? |
8 ? ? |
TTL ? ? |
CMOS ? ? |
Military ? ? |
-55 to 125 ? ? |
無樣片 |