Tektronix/DSA8300/數(shù)字采樣示波器
詳細資料：
為挑戰(zhàn)性的高速檢定測試提供*秀的信號保真度
DSA8300系列提供了行業(yè)的<100 fs固有抖動，可以實現(xiàn)異常準確的器件檢定，全面支持光通信、時域反射計和S參數(shù)。DSA8300數(shù)字采樣示波器為155Mb/s - 100G的數(shù)據(jù)通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
Tektronix/DSA8300/數(shù)字采樣示波器
主要特點 | 優(yōu)點 |
電接口模塊信號測量精度：
| <100 fs固有抖動，測試儀器占用的信號單位間隔一般<5%，可以檢定高信息速率(40和100 (4′25) Gb/s)器件。70 GHz帶寬可以全面檢定高信息速率信號(五階諧波，28 Gb/s數(shù)據(jù)速率；三階諧波，> 45 Gb/s數(shù)據(jù)速率)。 |
在所有帶寬下提供業(yè)內(nèi)zui低的系統(tǒng)噪聲：
| 在采集高信息速率、低幅度信號時zui大限度地降低儀器噪聲數(shù)量，消除額外噪聲，這些噪聲本身可能表現(xiàn)為額外的抖動和眼圖閉合。 |
| 在一臺主機中zui多6通道同時采集數(shù)據(jù)，<100 fs抖動 | 對多條差分通道進行高保真采集，可以測試跨通道損傷，改善擁有多條高速串行通道的系統(tǒng)的測試吞吐量。 |
| 光接口模塊支持40 Gb/s和100 Gb/s (4x25)以太網(wǎng)光接口*性測試 | 為40 Gb和100 Gb (4x25), IEEE 802.ba以太網(wǎng)標準提供經(jīng)濟的通用光接口測試系統(tǒng)。 |
| 杰出的采集吞吐量，zui大采樣率高達300 kS/s | 杰出的系統(tǒng)吞吐量，把制造或器件檢定測試時間降低4倍。 |
| 能夠讓采樣器緊鄰被測器件(DUT) | 遠程采樣頭，zui大限度地降低由于DUT到儀器的布線和夾具引起的信號劣化，簡化測試系統(tǒng)反嵌。 |
| 獨立校正校準后的通道偏移 | 雙通道模塊集成校準后通道偏移校正功能，消除偏移校正，增強多通道測量的信號保真度。
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