| SetPoint type | Resistor Programmable |
| SetPoint value (deg C) | -40 to 160 |
| Operating temperature range (C) | -50 to 125, -50 to 150, -50 to 160 |
| Accuracy over temp range (Max) (C) | 1.3 |
| Sensor gain (mV/Deg C) | -5.2 to 12.9 |
| Output type | Open Drain, Push Pull |
| Supply voltage (Min) (V) | 2.4 |
| Supply voltage (Max) (V) | 5.5 |
| Supply current (Typ) (uA) | 24 |
| Comparator channels (#) | 1 |
| Features | Built-in hysteresis |
| Rating | Automotive |
| Interface type | Analog output, Switch |
- 符合汽車級(jí)應(yīng)用要求。關(guān)于商用器件，請(qǐng)參見(jiàn) 數(shù)據(jù)表
- 具有符合 AEC-Q100 的下列結(jié)果：
- 溫度 0 級(jí)擴(kuò)展：?50°C 至 +160°C 的工作溫度范圍，甚至可高達(dá) 170°C
- 溫度 0 級(jí)：-50°C 至 +150°C 的工作溫度范圍
- 溫度 1 級(jí)：-50°C 至 +125°C 的工作溫度范圍
- 人體模型 (HBM) 靜電放電 (ESD) 組件分類等級(jí) 2
- 充電器件模型 (CDM) ESD 組件分類等級(jí) C5
- 可通過(guò)外部電阻在 ?40°C 至 +150°C 溫度范圍內(nèi)設(shè)置跳變溫度，
精度為 ±2.3°C - 電阻容差不會(huì)引入誤差
- 推挽和開(kāi)漏開(kāi)關(guān)輸出
- 寬工作溫度范圍：?50°C 至 160°C
- 超線性模擬 VTEMP 溫度傳感器輸出，?50°C 至 +150°C 溫度范圍內(nèi)的精度為
±1.3°C - 具有短路保護(hù)的模擬和數(shù)字輸出
- 數(shù)字輸出具有鎖存功能
- TRIP-TEST 引腳支持系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試
- 低功耗特性最大程度減少自發(fā)熱，使其低于 0.02°C
應(yīng)用范圍
- 汽車用
- 井下設(shè)備和航空電子設(shè)備
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LM57-Q1 器件是一款具有模擬溫度傳感器輸出的精密雙路輸出溫度開(kāi)關(guān)，適用于寬溫度范圍的應(yīng)用（例如汽車級(jí)）。 跳變溫度 (TTRIP) 可從 –40°C 至 160°CVTEMP 是 AB 類模擬電壓輸出，該電壓輸出與溫度成正比，負(fù)溫度系數(shù) (NTC) 可編程。 兩個(gè)外部 1% 電阻設(shè)置 TTRIP 和 VTEMP 斜率。 數(shù)字和模擬輸出具有保護(hù)功能，并且可監(jiān)視系統(tǒng)過(guò)熱事件。
內(nèi)置的熱滯后功能 (THYST) 可防止數(shù)字輸出發(fā)生振蕩。 TOVER 和 TOVER 數(shù)字輸出將在芯片溫度超過(guò) TTRIP 時(shí)置為有效，在芯片溫度低于 TTRIP 與 THYST 的差值時(shí)置為無(wú)效。
TOVER 為高電平有效，并且采用推挽結(jié)構(gòu)。 TOVER 為低電平有效，并且采用開(kāi)漏結(jié)構(gòu)。 將 TOVER 與 TRIP-TEST 相連，可在輸出發(fā)生跳變后將其鎖存。 將 TRIP-TEST 強(qiáng)制為低電平可將輸出清零。 將 TRIP-TEST 驅(qū)動(dòng)為高電平會(huì)將數(shù)字輸出置為有效。 處理器可檢查 TOVER 或 TOVER 的狀態(tài)，從而確認(rèn)它們是否已切換至激活狀態(tài)。 這樣一來(lái)，便可以在系統(tǒng)裝配后現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證比較器和輸出電路的功能。 當(dāng) TRIP-TEST 為高電平時(shí)，VTEMP 引腳為跳變基準(zhǔn)電壓。 系統(tǒng)隨后可使用該電壓計(jì)算 LM57-Q1 的閾值。
