平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱 箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。外箱采用SUS304＃霧面線條處理不銹鋼板，內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼SUS＃304鏡面鋼板。外形設(shè)計(jì)美觀，各零部件安裝位置合理，靜電噴涂顏色能滿足客戶實(shí)驗(yàn)室整體配套要求。

平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱規(guī)格：

型 號     工作室尺寸（mm）  外箱尺寸（mm）

HL-80     400*500*400     950*1650*950

HL-150    500*600*500    1050*1750*1050

HL-225    600*750*500    1200*1900*1150

HL-408    600*800*850    1200*1950*1350

HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450

HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450

溫度范圍:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃

濕度范圍：20%～98%RH 

降溫速率：20℃～-70℃/85min(空載下) 

升溫速率：20℃～+150℃/45min(空載下) 

發(fā)熱負(fù)載：250W.(40℃,90%RH) 

溫度穩(wěn)定度：±0.2℃ 

濕度穩(wěn)定度：±2% 

平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；

2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法；

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式 

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 

10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 

11、GB/T2423.22-2002溫度變化

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則

13、EIA364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）

平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱應(yīng)用范圍：  

    平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱又名高低溫濕熱試驗(yàn)室、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱、兩箱移動(dòng)平板電腦高低溫濕熱試驗(yàn)箱，用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具. 

    為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境，縮短測試時(shí)間，降低測試費(fèi)用，但是須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。