半導體器件高低溫試驗箱具有自動演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為準確穩定，控制器操作界面設中英文可供選擇，實時運轉曲線圖可由屏幕顯示，具有100組程式、每組100段、每段可循環999步驟的容量，每段時間設定大值為99小時59分，資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機，具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設計程式，監視試驗過程并執行自動開關機、數據等功能控制器。

半導體器件高低溫試驗箱技術指標：

型 號     工作室尺寸（mm）  外箱尺寸（mm）

HL-80     400*500*400     950*1650*950

HL-150    500*600*500    1050*1750*1050

HL-225    600*750*500    1200*1900*1150

HL-408    600*800*850    1200*1950*1350

HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450

HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450

1、溫度范圍:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃ 

2、RT--------->150℃約3度/分鐘

3、RT--------->-20℃約1度/分鐘

4、顯示精度：溫度：0、1℃

5、偏差：溫度：±2、0℃

6、均勻度：溫度：±2、0℃

7、波動度：溫度：±0、5℃

半導體器件高低溫試驗箱箱體結構：

1．箱體采用數控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。

2．箱體內膽采用進口不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質感和潔凈度。

3．大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用發熱體內嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。

4．配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用

半導體器件高低溫試驗箱控制系統：

1．溫度范圍：0℃-150℃   -20℃-150℃  -40℃-150℃  -60℃-150℃   -70℃-150℃也可按客戶需要定制非標試驗箱

2．溫濕度顯示控制儀表采用（進口）熒幕操作簡單，無須按鍵輸入，精度：0.1℃(顯示范圍)，解析度：±0.1℃；

半導體器件高低溫試驗箱系統：

1．采用多翼式送風機強力送風循環，避免任何死角，可使測試區域內溫度分布均勻。

2．風路循環出風回風設計，風壓、風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫度回穩時間快。

3．升溫、降溫、系統完全獨立可提高 效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。

4．整體設備超溫；整體設備欠相/逆相；整體設備過載；制冷機組超壓；整體設備定時；

5．其它還有漏電、運行指示，故障報警后自動停機等保護。

6．具有熒屏自動屏保功能，在運轉或設定中，如發生錯誤時，會提供警示迅號。

7．制冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。

8．干燥過濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進口原裝件

9．冷凍系統采用單元或二元式低溫回路系統設計。

半導體器件高低溫試驗箱用途：

    半導體器件高低溫試驗箱壹叁伍叁捌肆陸玖零柒陸又名高低溫老化試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在復雜的高、低溫濕熱環境下貯存、運輸、使用時復雜的高低溫濕熱變化適應性試驗。