曾幾何時(shí)，要驗(yàn)證 FPGA 的邏輯設(shè)計(jì)，可以先編譯、寫(xiě)入，然后按下評(píng)估板上的復(fù)位按鈕。但是，隨著FPGA規(guī)模的增大，這種被Xilinx公司軟件產(chǎn)品營(yíng)銷總監(jiān)Hitesh Patel 稱為“blow and go”（逃生法）的驗(yàn)證方式已不能滿足要求。要做出一個(gè)近乎完美的有百萬(wàn)個(gè)門(mén)的設(shè)計(jì)，達(dá)到可以從封裝引腳就可以調(diào)試的地步，成功的機(jī)會(huì)非常之渺茫。因此，F(xiàn)PGA設(shè)計(jì)組也開(kāi)始采取ASIC設(shè)計(jì)組已使用多年的方法，采用基于軟件的設(shè)計(jì)模擬。

但是這種方法也引出了一系列重要的問(wèn)題： FPGA設(shè)計(jì)中模擬的作用應(yīng)該跟在ASIC設(shè)計(jì)中一樣嗎？驗(yàn)證人員是否還是要在某個(gè)時(shí)刻將設(shè)計(jì)裝入產(chǎn)品FPGA并馬上開(kāi)始測(cè)試它？如果是這樣，這個(gè)時(shí)刻是在什么時(shí)候？為了弄清設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)現(xiàn)在都在做什么，我們?cè)儐?wèn)了一些工作中與FPGA用戶關(guān)系最緊密的人。作為參考，我們還詢問(wèn)了幾個(gè)在驗(yàn)證過(guò)程中采用FPGA 原型來(lái)進(jìn)行ASIC設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)，以了解他們的意見(jiàn)。

優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)

多數(shù)人討論驗(yàn)證流程時(shí)，首先會(huì)比較模擬和在FPGA內(nèi)驗(yàn)證的優(yōu)劣。盡管有經(jīng)驗(yàn)的讀者可能會(huì)覺(jué)得乏味，本文也還是采用類似的模式。

模擬的一個(gè)很大的優(yōu)點(diǎn)自然是它的訪問(wèn)能力。該方法可以以時(shí)鐘周期分辨率觀察RTL （寄存器傳輸層）設(shè)計(jì)中任何信號(hào)。只要有必要，對(duì)設(shè)計(jì)狀態(tài)的控制可以達(dá)到任何水平。達(dá)到可觀性和可控性的唯一限制就是對(duì)RTL的了解程度和對(duì)模擬環(huán)境的掌握程度。你可以在有限的設(shè)計(jì)領(lǐng)域交互式地工作，也可以構(gòu)建運(yùn)行好幾天的大型試驗(yàn)。構(gòu)建的模擬項(xiàng)目運(yùn)行相對(duì)較快，所以可以快速地對(duì)很多東西進(jìn)行試驗(yàn)。

模擬的另一優(yōu)點(diǎn)是現(xiàn)在的多數(shù)模擬環(huán)境都可以很好地使用OVL（開(kāi)放驗(yàn)證庫(kù)，Open Verification Library）或SystemVerilog斷言。經(jīng)常可以找到直接的方法將這些斷言輸入到模擬環(huán)境中。隨著基于斷言的驗(yàn)證日益普遍，這點(diǎn)就越發(fā)重要。此外，通過(guò)模擬環(huán)境還可以將設(shè)計(jì)的激勵(lì)和測(cè)量部分與設(shè)計(jì)本身分割開(kāi)。這看起來(lái)似乎不是主要問(wèn)題，但是，在密集驗(yàn)證工作中，這一特點(diǎn)對(duì)于保證設(shè)計(jì)的完整性會(huì)很重要。

但是，模擬比較慢。“如果你在做一個(gè)有2百萬(wàn)或3百萬(wàn)個(gè)門(mén)的塊，模擬非常好，” 硬件仿真設(shè)備廠商Eve的營(yíng)銷副總裁Lauro Rizzatti說(shuō)。“但是，在有多個(gè)塊的層次，模擬會(huì)變慢，最終達(dá)到完全不可用的程度。”

設(shè)計(jì)的復(fù)雜度并不是唯一的限制因素。Altera公司技術(shù)營(yíng)銷高級(jí)經(jīng)理Phil Simpson指出，如果設(shè)計(jì)本身就需要大量數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行驗(yàn)證，即使在塊的級(jí)別模擬也會(huì)變得不實(shí)用。他以視頻編解器為例說(shuō)明這個(gè)問(wèn)題。在視頻編解器中內(nèi)部狀態(tài)非常之多，所以可能只有在15分鐘的視頻短片中間才能表露出問(wèn)題。但是，對(duì)15分鐘高清視頻壓縮和解壓的模擬會(huì)非常費(fèi)勁。

對(duì)電路內(nèi)方法的討論

FPGA 內(nèi)驗(yàn)證方法的優(yōu)劣與模擬正好相反。首先， 顯然FPGA 很快。人們經(jīng)常可以以全速運(yùn)行設(shè)計(jì)。不過(guò)，在某些情況下，這樣做就意味著時(shí)序收斂問(wèn)題會(huì)較多，超乎設(shè)計(jì)早期預(yù)期的程度。另外，與模擬不同，將多個(gè)模塊綜合到設(shè)計(jì)中時(shí)，F(xiàn)PGA 并不會(huì)降速。這樣就可以測(cè)試整個(gè)設(shè)計(jì)，而非單個(gè)塊，并且可以以大量的實(shí)際數(shù)據(jù)集來(lái)運(yùn)行測(cè)試，而不是采用精心編制的測(cè)試用例。

由于FPGA速度較快，而且它的I/O部件就是實(shí)際應(yīng)用所需要的I/O部件，所以也可以采用系統(tǒng)中測(cè)試設(shè)計(jì)：可以在裝入目標(biāo)系統(tǒng)的FPGA開(kāi)發(fā)板上測(cè)試，或者，如果目標(biāo)PCB（印刷電路板）可以用的話，就在目標(biāo)PCB上測(cè)試。這樣的測(cè)試可以消除測(cè)試用例是否能夠如實(shí)反映設(shè)計(jì)工作環(huán)境的疑慮。另外，在實(shí)際使用的電路板上測(cè)試設(shè)計(jì)可以暴露出I/O方面的問(wèn)題——例如電氣問(wèn)題、信號(hào)完整性問(wèn)題，或是在高速串行協(xié)議下不兼容問(wèn)題。這些問(wèn)題用其他方法幾乎無(wú)法檢測(cè)，而系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試則會(huì)形成一個(gè)軟件測(cè)試平臺(tái)，帶來(lái)額外的好處。

這些優(yōu)點(diǎn)都是系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證方面的。但Altera公司的Simpson指出：在芯片內(nèi)測(cè)試塊也有一些有用的優(yōu)點(diǎn)。“一旦將某個(gè)塊裝入FPGA，就可以使用嵌入式處理器核（如Nios）來(lái)輔助調(diào)試過(guò)程，” Simpson說(shuō)。“例如，處理器核可以使數(shù)據(jù)進(jìn)出芯片，可以控制測(cè)試時(shí)序。這樣，在塊周邊電路還沒(méi)做好的時(shí)候就可以單獨(dú)測(cè)試某個(gè)塊。”

“在我們的自有IP（知識(shí)產(chǎn)權(quán)）開(kāi)發(fā)部門(mén)，我們編寫(xiě)了在Nios核上運(yùn)行的事務(wù)處理器，以此來(lái)生成偽隨機(jī)測(cè)試，” Simpson 接著說(shuō)。“據(jù)我所知，這樣的做法在用戶中還不普遍，但它非常有價(jià)值。”

既然FPGA有這么多優(yōu)點(diǎn)，您可能會(huì)覺(jué)得疑惑：直接將編好的核裝入FPGA、為它編寫(xiě)一個(gè)試件（test fixture），然后開(kāi)始測(cè)試 ，這樣做會(huì)有什么問(wèn)題呢？這個(gè)問(wèn)題的答案在于FPGA的一些缺點(diǎn)。

FPGA的缺點(diǎn)

最明顯的突出的問(wèn)題是可見(jiàn)性。理論上說(shuō)， FPGA中每個(gè)邏輯元件都可以通過(guò)芯片的調(diào)試接口觀察。但是，廠商估計(jì)只有一半的FPGA用戶在設(shè)計(jì)中加入了調(diào)試接口并將其用于驗(yàn)證。考慮到內(nèi)置調(diào)試口提供的功能是如此強(qiáng)大，這非常令人吃驚。Xilinx公司的Patel認(rèn)為，隨著FPGA規(guī)模變大，人們會(huì)更普遍地使用調(diào)試接口。

因此，在多數(shù)情況下，如果想觀測(cè)設(shè)計(jì)中的某個(gè)信號(hào)，就必須先把它引出到一個(gè)引腳，然后用邏輯分析儀分析它。由于邏輯分析儀的特點(diǎn)，可能還需要引出大量其他信號(hào)，如內(nèi)部時(shí)鐘。這樣做就會(huì)有很多額外的工作，另外，如果要觀測(cè)的信號(hào)是一個(gè)與I/O塊相隔甚遠(yuǎn)的快信號(hào)，可能還必須降低FPGA上的時(shí)鐘頻率。因此，一些經(jīng)理認(rèn)為：在原始驗(yàn)證方案中包括對(duì)FPGA信號(hào)可觀性的要求是很重要的。

訪問(wèn)信號(hào)所需的附加設(shè)計(jì)工作是該方法的一個(gè)缺點(diǎn)。芯片內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的激勵(lì)和觀測(cè)還涉及另一個(gè)問(wèn)題，那就是需要修改設(shè)計(jì)、重建和重新綜合測(cè)試，因此有可能導(dǎo)致設(shè)計(jì)和測(cè)試部分不能清楚地分割開(kāi)。如果不能仔細(xì)地將調(diào)試代碼和設(shè)計(jì)代碼分開(kāi)和切實(shí)做好版本控制，就可能無(wú)法跟蹤這些修改，有可能發(fā)生類似于外科醫(yī)生把手術(shù)工具留在患者體內(nèi)的情況。

另外，建立測(cè)試的時(shí)間也是個(gè)弱項(xiàng)。規(guī)模較大的設(shè)計(jì)中，綜合時(shí)間并不短，而插入測(cè)試設(shè)備、重建、重新綜合和重新繪圖的時(shí)間也會(huì)是個(gè)重要因素，可以影響到是否進(jìn)行某個(gè)試驗(yàn)。這里采用增量綜合（Incremental-synthesis）工具會(huì)有所幫助，但是對(duì)于有2千萬(wàn)個(gè)門(mén)的設(shè)計(jì)，構(gòu)造和合成過(guò)程可能需要一晚上的時(shí)間。

最后，將測(cè)試平臺(tái)從模擬環(huán)境轉(zhuǎn)向FPGA環(huán)境也有問(wèn)題。此時(shí)，激勵(lì)模塊需要有電路，而非一組模擬命令。觀測(cè)某個(gè)節(jié)點(diǎn)需要的不僅是命令，還需要有電路和物理儀器。盡管基于斷言的驗(yàn)證被越來(lái)越多的人接受，但似乎還沒(méi)人開(kāi)發(fā)出哪種方法可以系統(tǒng)性地將斷言從模擬環(huán)境移植到FPGA。 “現(xiàn)在還沒(méi)有可以自動(dòng)將斷言移植到FPGA的解決方案，但是我們收到的對(duì)該功能的要求在不斷增加，” Simpson說(shuō)。

覆蓋尺度也是一個(gè)弱項(xiàng)。雖然對(duì)于模擬環(huán)境正在開(kāi)發(fā)完善的工具來(lái)測(cè)評(píng)驗(yàn)證覆蓋情況和來(lái)自不同類工具的熔斷測(cè)量值（fuse measurement），但在FPGA領(lǐng)域，幾乎就沒(méi)什么覆蓋的概念，也沒(méi)有現(xiàn)存的工具可用于測(cè)評(píng)測(cè)試設(shè)計(jì)的覆蓋情況并將數(shù)據(jù)報(bào)告給中心覆蓋收斂（coverage-closure）系統(tǒng)。

對(duì)ASIC開(kāi)發(fā)組的觀察

因此，簡(jiǎn)言之，每種方法都有優(yōu)缺點(diǎn)。根據(jù)這些信息，有經(jīng)驗(yàn)的ASIC設(shè)計(jì)組（即經(jīng)常在其驗(yàn)證流程中采用FPGA者）是如何在模擬測(cè)試和基于FPGA的測(cè)試間做出平衡的呢？

視頻處理器廠商Ambarella有一個(gè)例子來(lái)回答這個(gè)問(wèn)題。執(zhí)行副總裁Didier LeGall 說(shuō)，“多數(shù)情況下，我們根本就不使用FPGA 仿真。根據(jù)我們的經(jīng)驗(yàn)，必須得有非常成熟的RTL仿真才會(huì)有用。但是，目前流程階段，將設(shè)計(jì)輸入 FPGA和建立測(cè)試平臺(tái)（的過(guò)程）是一件事倍功半的事。”

但是，實(shí)際應(yīng)用情況可能會(huì)使LeGall 的看法有所調(diào)整。Ambarella 公司的SOC （片上系統(tǒng)） 用于以高幀速率處理高清視頻和10M像素靜止圖像，需要采用非常快的內(nèi)部時(shí)鐘和復(fù)雜的算法。但是，LeGall 在對(duì)FPGA 仿真做出評(píng)論后，又對(duì)整個(gè)驗(yàn)證過(guò)程的目標(biāo)提出了一個(gè)非常有趣的看法。“新推出IC成功的關(guān)鍵不在于完美的驗(yàn)證工作，” LeGal說(shuō)。“而在于軟件”：也就是說(shuō)，要知道設(shè)計(jì)中哪部分比較容易出問(wèn)題，并且在開(kāi)始，而不是事后，就做好軟件解決計(jì)劃。這種策略下，驗(yàn)證工程師經(jīng)過(guò)廣泛的基于FPGA的測(cè)試所獲得的很多信息的確會(huì)變得比較沒(méi)用。

LSI Corp的存儲(chǔ)元件部門(mén)提出了另一個(gè)觀點(diǎn)。該部門(mén)的副總裁和總經(jīng)理Bill Wuertz敘述了他們是如何做SCSI （小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口）和SAS （串行連接）控制器的。

Wuertz 說(shuō)LSI采用了幾乎是并行的過(guò)程，一個(gè)驗(yàn)證小組進(jìn)行模擬實(shí)現(xiàn)一些目的，而另一組則采用FPGA實(shí)現(xiàn)另外一些目的。“在設(shè)計(jì)早期，我們建立一個(gè)稱為試驗(yàn) RTL（trial RTL）的步驟，” Wuertz 說(shuō)。“我們要知道RTL基本工作正常、各個(gè)塊互相已連接好，這是第一個(gè)點(diǎn)。在此階段，驗(yàn)證工作分為兩個(gè)方向。模擬小組編寫(xiě)他們的工具所用的設(shè)計(jì)，并繼續(xù)對(duì)單個(gè)的塊進(jìn)行模擬。另一個(gè)組，即系統(tǒng)工程組，則通過(guò)綜合RTL得到內(nèi)部開(kāi)發(fā)FPGA 版——我們現(xiàn)在正在設(shè)計(jì)第五代板卡——然后開(kāi)始在系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行徹底的壓力測(cè)試。”

如Wuertz所述，這兩個(gè)組具有不同的工作目的。模擬組要努力確保電路正確。系統(tǒng)組通常不考慮電路，但要確保芯片在變化異常大和非常復(fù)雜的存儲(chǔ)網(wǎng)絡(luò)環(huán)境下可以工作。Wuertz 說(shuō)FPGA 原型會(huì)與一屋子的磁盤(pán)和磁帶驅(qū)動(dòng)器相連運(yùn)行幾天的測(cè)試。“這些測(cè)試已經(jīng)過(guò)了20多年的發(fā)展，”他說(shuō)。“我們知道，可能需要對(duì)不同磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器組合進(jìn)行很長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試后才可以產(chǎn)生暴露設(shè)計(jì)問(wèn)題的時(shí)間匹配異常情況。”

LSI 已開(kāi)發(fā)了自有的將兩種環(huán)境聯(lián)系起來(lái)的內(nèi)部工具。例如，通過(guò)這些工具，系統(tǒng)組可以捕捉到導(dǎo)致故障的跟蹤數(shù)據(jù)，并將此數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為模擬組可用的激勵(lì)文件。反過(guò)來(lái)說(shuō)，模擬組可以根據(jù)它在設(shè)計(jì)中所發(fā)現(xiàn)的危險(xiǎn)，給系統(tǒng)組發(fā)出提醒。在兩個(gè)工作于不同環(huán)境的驗(yàn)證組間建立聯(lián)系是LSI公司兩方向測(cè)試方法的關(guān)鍵。在整個(gè)過(guò)程中，兩個(gè)組會(huì)交換數(shù)據(jù)，而且，最后設(shè)計(jì)晶粒需要兩個(gè)組的結(jié)論。

一種可為大家接受的方法

根據(jù)與FPGA廠商和用戶的討論，我們可以看到對(duì)模擬和仿真（圖1）混合驗(yàn)證流程大家基本達(dá)成一致意見(jiàn)。這種流程首先對(duì)設(shè)計(jì)開(kāi)始元件塊級(jí)的模擬——不是傳統(tǒng)上ASIC所用的那種窮舉式的力求完美的模擬，而更像是對(duì)實(shí)際情況進(jìn)行檢查。其目標(biāo)是驗(yàn)證元件塊可用、引腳工作基本正確、在實(shí)驗(yàn)環(huán)境中可滿足FPGA 的時(shí)序需要。

在此階段，很多開(kāi)發(fā)組將某個(gè)版本的塊轉(zhuǎn)入FPGA并開(kāi)始更為徹底的電路中測(cè)試。如果此電路塊（如視頻編解器）需要很長(zhǎng)的高速數(shù)據(jù)流來(lái)驗(yàn)證功能或是包括高速I(mǎi)/O功能，則該方法尤為常見(jiàn)。在其他情況下，繼續(xù)對(duì)塊進(jìn)行模擬工作，直到所有問(wèn)題都經(jīng)過(guò)驗(yàn)證，可以進(jìn)行集成為止。

根據(jù)大家的一致意見(jiàn)，當(dāng)開(kāi)發(fā)組開(kāi)始將塊集成時(shí)——建立試驗(yàn)系統(tǒng)時(shí)——FPGA 才真正被更多人使用。這里，可能就是因?yàn)樵O(shè)計(jì)太大才無(wú)法進(jìn)行快速模擬，或是對(duì)于已知可正常工作的塊，在FPGA上解決集成問(wèn)題可能要比在模擬器上效率更高點(diǎn)。

但是，根據(jù)大家的意見(jiàn)，從模擬轉(zhuǎn)到仿真并不是單步的可逆步驟。正如軟件開(kāi)發(fā)中并行進(jìn)行模擬一樣，模擬工作在系統(tǒng)仿真期間也在繼續(xù)。多數(shù)開(kāi)發(fā)組利用FPGA 仿真捕捉和隔離缺陷，然后將其送回模擬組診斷。在FPGA上做詳細(xì)診斷是非常痛苦的工作。

這里先總體敘述當(dāng)前的情況，然后指出該方法的幾個(gè)嚴(yán)重缺點(diǎn)。首先，在兩個(gè)環(huán)境間來(lái)回傳送測(cè)試平臺(tái)數(shù)據(jù)很困難。似乎還沒(méi)有方法可以將創(chuàng)建測(cè)試的模擬指令自動(dòng)映射到實(shí)施同一測(cè)試的 FPGA 結(jié)構(gòu)。第二，各大 FPGA 廠商都可提供的嵌入式RISC核資源似乎遠(yuǎn)沒(méi)有得到充分利用，它可以管理數(shù)據(jù)和控制測(cè)試，但是又是與模擬測(cè)試平臺(tái)分開(kāi)的。理論上說(shuō)，模擬組可以將其轉(zhuǎn)為嵌入式處理器核的C代碼，而不是轉(zhuǎn)為FPGA的RTL。第三，沒(méi)有簡(jiǎn)單的途徑可以將FPGA 試驗(yàn)中開(kāi)發(fā)組收集的數(shù)據(jù)送回模擬平臺(tái)。最后，隨著模擬領(lǐng)域基于斷言的驗(yàn)證工作不斷增多，F(xiàn)PGA 側(cè)急需一種類似的基于斷言的工具。

基于 FPGA的仿真系統(tǒng)銷售廠商對(duì)這些問(wèn)題提出了應(yīng)對(duì)措施（見(jiàn)附文《解決覆蓋空隙的一些思路》），證明了這些問(wèn)題是確實(shí)存在的。這里的例子有Eve公司的系統(tǒng)；模擬加速器，如GateRocket；以及“big- iron”（大型的）仿真盒，如Cadence的Palladium。至于這個(gè)基礎(chǔ)平臺(tái)會(huì)發(fā)展為FPGA驗(yàn)證領(lǐng)域常見(jiàn)的那種專用板卡級(jí)仿真平臺(tái)，還是仍然會(huì)是昂貴的加速器和仿真系統(tǒng)的一種變形，我們尚無(wú)法知道。

附文　解決覆蓋空隙的一些思路

人人都喜歡FPGA 內(nèi)仿真的速度。但是在FPGA中建立系統(tǒng)、控制和觀測(cè)試驗(yàn)的難度過(guò)大，這常常迫使人們將費(fèi)力費(fèi)時(shí)的測(cè)試工作轉(zhuǎn)回到模擬環(huán)境中。在實(shí)際中，有些人會(huì)搭建一個(gè)驗(yàn)證平臺(tái)，結(jié)合FPGA執(zhí)行速度高和模擬方法易于構(gòu)造和訪問(wèn)數(shù)據(jù)的優(yōu)點(diǎn)。毫不奇怪，有些廠商已經(jīng)瞄準(zhǔn)了這個(gè)目標(biāo)。

首次這么做還是 ASIC時(shí)代早期的事，這也就是 “big-iron”邏輯仿真系統(tǒng)。從效果上說(shuō)，這些系統(tǒng)就是一組專用的巨型計(jì)算機(jī)，其中由定制微處理器或定制可編程元件分別模擬或仿真邏輯操作。這類系統(tǒng)的代表是Cadence Palladium。此系統(tǒng)執(zhí)行速度為模擬的很多倍，同時(shí)其廠商聲稱它對(duì)被測(cè)設(shè)計(jì)的訪問(wèn)能力至少與模擬相當(dāng)。但是，這些系統(tǒng)的容量有限，不會(huì)比通常模擬的塊規(guī)模大很多——除非你有非常多的錢(qián)。這些設(shè)備是主要的耗資設(shè)備，因此多數(shù)最終設(shè)計(jì)面向FPGA的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)都無(wú)力支付高昂的費(fèi)用。

近年來(lái)，有大量系統(tǒng)進(jìn)入市場(chǎng)（例如Eve等公司的產(chǎn)品），這些系統(tǒng)可以在使用商業(yè)FPGA的簡(jiǎn)單環(huán)境下進(jìn)行邏輯仿真。這類系統(tǒng)具有不同的特點(diǎn)，有些是小型化巨型機(jī)仿真系統(tǒng)，有些基本上就是帶支持調(diào)試軟件的FPGA評(píng)估卡。在所有情況下，它們都試圖提供一個(gè)設(shè)計(jì)中邏輯開(kāi)銷低于big-iron仿真系統(tǒng)的 FPGA執(zhí)行環(huán)境。由于邏輯開(kāi)銷較低，通常基于FPGA的系統(tǒng)運(yùn)行速度可以比巨型機(jī)仿真系統(tǒng)快一到幾個(gè)數(shù)量級(jí)。總的來(lái)說(shuō)，運(yùn)行速度越快，保留的模擬的方便性就越少。但是，當(dāng)單個(gè)FPGA的設(shè)計(jì)（包括調(diào)試開(kāi)銷）變得過(guò)大時(shí)，它們就會(huì)表現(xiàn)出局限性。將設(shè)計(jì)分區(qū)是很復(fù)雜的，而且經(jīng)常涉及到FPGA間信號(hào)的多路復(fù)用，這會(huì)將所有工作都拖慢。

這些系統(tǒng)中，確實(shí)提供了將測(cè)試平臺(tái)和數(shù)據(jù)在FPGA 系統(tǒng)和模擬環(huán)境來(lái)回傳送所需的軟件支持。例如，Eve就報(bào)道說(shuō)正在開(kāi)展工作，以便能將斷言也導(dǎo)入到其環(huán)境中。

GateRocket 的系統(tǒng)是一個(gè)很有趣的產(chǎn)品，它使當(dāng)前的這個(gè)狀況發(fā)生了改變。該公司將其定位為既可以充當(dāng)模擬加速器，也可以充當(dāng)電路中仿真器。作為模擬加速器時(shí)，該系統(tǒng)會(huì)試圖插入用戶的模擬環(huán)境，加速耗時(shí)的RTL （寄存器傳輸級(jí)） 邏輯部件的模擬，而不會(huì)影響模擬環(huán)境的特性。如果假設(shè)90/10法則正確（也就是說(shuō)，90%模擬時(shí)間花在10%的代碼上），通過(guò)這種加速能力，可以使驗(yàn)證工程師們繼續(xù)使用模擬環(huán)境，將其用于在無(wú)加速時(shí)基本無(wú)法實(shí)現(xiàn)的檢驗(yàn)流程中。GateRocket聲稱，該系統(tǒng)可以支持名為“可綜合斷言子集”的特性。

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