資料介紹
1 引言1 2材料生長與性能表征12-1223
近年來 , GaA s/ Al GaA s 成為繼 In P/ In GaA s/
InAlA s 之后制作量子級聯(lián)激光器[ 1 ] 最具吸引力的
材料體系。 這主要來源于三個方面: (1) GaA s 作為繼 Si 之后的半導體材料 ,處理工藝相當成熟 ,并且由于 GaA s/ Al x Ga1 - x A s 材料體系在寬成分范圍內(nèi)的晶格匹配特點 ,使得 GaA s 基量子級聯(lián)激光器在器件設計方面具有獨特的靈活性; (2) 易于獲得無鋁
的低損耗波導[ 2 ] ; (3) 能夠在遠紅外范圍獲得粒子數(shù)
反轉(zhuǎn) ,在 T Hz 量子級聯(lián)激光器研制方面扮演著重要角色。 盡管具有以上的優(yōu)點 ,目前 GaA s/ Al GaA s 量
子級聯(lián)激光器的性能還遠不如 In P/ In GaA s/ InA2
lA s 基器件。 GaA s/ Al GaA s 材料體系較小的帶階
( band off set ) 容易造成載流子的熱激活泄漏 ,降低
電子向有源區(qū)激發(fā)態(tài)能級的注入效率 ,從而限制了
器件的連續(xù)波工作溫度。 GaA s 較 In P 小的熱導率不利于波導核的熱耗散 ,易于造成波導核的自加熱效應而增強了載流子的熱激活泄漏過程。 為滿足光
學限制的要求 , 無鋁波導層的厚度往往需要超過
4μm ,使得整個外延層厚度超過 10μm ,接近了分子
束外延的極限 , 從而造成材料生長困難。 由于
GaA s/ Al GaA s 量子級聯(lián)激光器研制的這些困難 ,
目前只有法國、奧地利、英國、德國等少數(shù)幾個國家
進行這方面的工作。
實驗樣品是基于通常的三耦合量子阱有源區(qū)結(jié)構(gòu) ,類似于文獻[ 3 ] 。 材料體系選擇為 GaA s/ Al0145 2
Ga0155 A s. 具體的生長層次見圖 1 。 圖 2 為計算所得
的工作電壓下波導核的導帶結(jié)構(gòu)及相應波函數(shù)模的
平方。 波導核的具體結(jié)構(gòu)見圖 2 注釋部分。 所有的層通過分子束外延單生長步驟在 n 型摻雜的 GaA s 襯
底上完成。 高摻雜的 GaA s 波導層用于降低平面光學限制所必需的折射系數(shù)。 插入的 31 75μm 低摻雜
(4 ×1016 cm - 3 ) GaA s 層用來減小光學模與 n + + 層的
交疊系數(shù) ,從而避免過高的波導損失[ 2 ] 。 為了防止注入?yún)^(qū)電子回流上一級有源區(qū)并且保證注入條件下的
電荷電中性 ,超晶格注入?yún)^(qū)中間的兩個周期進行了
摻雜( (6~7) ×1017 cm - 3 ) [ 4 ] 。
GaAs6 ×1018 cm - 3 1μm
GaAs4 ×1016 cm - 33 75μm
30 周期波導核
GaAs4 ×1016 cm - 3175μm
3
GaAs6 ×1018 cm - 3 1μm
GaAs subst rate2 ×1018 cm - 31
圖 1 GaAs/ Al GaAs 量子級聯(lián)激光器分子束外延生長結(jié)構(gòu)簡
圖
Fig11 Schematic cro ss section of co mplete GaAs/ Al2
GaAs laser st ruct ure grown by MB E
3 國家自然科學基金( 批準號: 60136010 ) , 國家高技術(shù)研究發(fā)展計劃 ( 批準號: 2001AA311140 ) , 及國家重點基礎(chǔ)研究發(fā)展規(guī)劃 ( 批準號:
G20000683202)資助項目
-通信聯(lián)系人。 Email :f qliu @red. semi 。 ac. cn
22 ○c 2005 中國電子學會
2005 02 03 收到
第 3 期 劉俊岐等 : GaAs/ Al GaAs 量子級聯(lián)激光器 625
圖 2 在正向偏壓下導帶結(jié)構(gòu)及相關(guān)波函數(shù)模的平方 每一
級層次序由注入勢壘開始 , 分別為: 4 6 , 1 9 , 1 1 , 5 4 , 1 1 ,
418 ,21 8 ,31 4 ,11 7 ,310 ,118 ,218 ,210 ,310 ,216 ,31 0nm ,粗體為
壘 ,白體為阱 ,下劃線的部分摻雜濃度為(6~7) ×1017 cm - 3 。
Fig. 2Conductio n band diagram and2
squared wave
f unctio ns under po sitive bias co ndition2
The layer se
quence in o ne stage starting f ro m t he injection barrier is
111 11111111
4 6 ,1 9 , 1 1 , 5 4 , 1 1 , 4 8 , 2 8 , 3 4 , 1 7 , 3 0 , 1 8 ,
1111111bold script are barrier ,
2 8 ,2 0 ,3 0 ,2 6 ,3 0nm The
normal script wells ,and underscore doped regio ns(6
7) ×1017 cm - 3 11111~
樣品的 X 射線衍射搖擺曲線如圖 3 所示。 衛(wèi)星峰具有良好的周期性和窄的線寬 ,這表明樣品在外延生長方向的成分梯度可以忽略并且界面質(zhì)量良
好[ 5 ] 。 每一級的周期可通過以下方程[ 6 ] 獲得 ,
Λ = ( ni - nj )λ ≈ ( ni - nj )λ
2 ( sinθi - sinθj) 2Δθco sθi
這里 λ為所用 X 射線的波長; ni 和 n j 為兩個不同指紋的峰位;θi 和θj 為衛(wèi)星峰的角位置。 計算表明Λ
圖 3 GaAs/ Al0145 Ga0155 As 量子級聯(lián)激光器波導核 X 射線衍
射結(jié)果
Fig1 3 X2ray diff ractio n spect ra for a 30 period GaAs/
Al0145 Ga0155 As quant um cascade laser waveguide co re
的實驗值基本符合設計值。 我們把圖 3 中央的兩個相鄰的主峰看作襯底峰和一個周期內(nèi)具有平均成分
的層峰 ,則波導核中勢壘層的 Al 摩爾組分接近設
計值。
3 器件的制作與測量結(jié)果分析
樣品通過光刻和濕法化學腐蝕做成具有不同脊
寬的雙溝脊型波導結(jié)構(gòu)(條寬分別為 35 ,45 ,55μm)
刻蝕深度穿透波導核。 利用 CVD 法生長 300nm 的
SiO2 作為脊周圍的絕緣層。 在脊區(qū)的中部開出電流
注入窗口 (寬度分別為 15 ,25 ,35μm) , 然后蒸發(fā)非
合金的 Ti/ Au 作為正面歐姆接觸。 樣品從背面減薄至 100μm ,淀積合金的 A u Ge/ Ni/ Au 作為背面歐姆接觸。 器件解理成 2 ~3mm 長的法布里2貝羅腔結(jié)
構(gòu)。 考慮到級聯(lián)激光器的閾值電流密度較高 ,我們采用了上電極引線的多重壓焊和外延面朝下芯片焊接
技術(shù)。
測量過程中 ,激光器管芯安裝在液氮杜瓦內(nèi)的冷指上 ,其溫度可以控制。 光譜測量在 BRU KER E2
Q U INO X55 型紅外傅里葉變換光譜儀上進行 ,采用
時間分辨步進掃描模式。 光功率測量使用了已校準
的熱電探測器。
圖 4 為光功率2注入電流曲線 ,其中的插圖為器件的光譜。 圖 4 中的光功率未進行收集效率的修正 ,
在我們的實驗中收集效率小于 30 %.
圖 4 寬 35μm 長 2mm 的激光器在脈沖驅(qū)動模式下的光功率
電流曲線 占空比為 2μs/ 200μs. 插圖為激射譜.2
Fig14 Optical outp ut power per facet versus t he driv2 ing current in p ulsed mode operation of a 35μm wide and 2mm long laser The duty cycle is 2μs/ 200μs1 The insert is t he lasing spect rum of t he laser 。
626 半 導 體 學 報 第 26 卷
工藝方面的改善將進一步提高器件的性能。 由
于 GaA s/ Al GaA s 量子級聯(lián)激光器的波導核區(qū)平行于層方向的熱導率比垂直方向高一個數(shù)量級[ 7 ] ,增
加淀積 A u 的厚度或者采用離子注入而不是濕法刻蝕來定義條形結(jié)構(gòu)將會提高器件的橫向散熱 ,這必
然會大大減少注入?yún)^(qū)載流子的熱激活 ,從而提高注
入效率 ,改善器件工作的溫度特性和功率輸出特性 ,
這一工作正在進行中。
4 結(jié)論
在國內(nèi)首次利用分子束外延技術(shù)成功地生長出
了 GaA s/ Al GaA s 量子級聯(lián)激光器材料。 長 2mm 脊
寬 35μm 的條形激光器在 5k Hz 、1 %占空比的脈沖電流驅(qū)動下最高工作溫度為 120 K ,81 K 未經(jīng)修正的
峰值功率超過 70mW.
致謝 在材料生長過程中 , 得到李路、梁凌燕的協(xié)助; X 射線衍射實驗在北京同步輻射站進行 ,得到郭立平、賈全杰二位老師的幫助;在器件工藝方面得到常秀蘭、梁平、胡穎、孫虹的大力幫助 ,在此一并表示
感謝 !
參考文獻
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Ga As/ Al Ga As Quantum Cascade Lasers
Liu J unqi , L u Xiuzhen , Guo Yu , Liu Fengqi , and Wang Zhanguo
( L aboratory of S emicon d uctor M ateri als S cience , I nstit ute of S emicon d uctors , Chi nese A ca dem y of S ciences , B ei j i n g 100083 , Chi na)
Abstract : Growt h of quant um cascade lasers based on GaAs/ Al0 45 Ga0 55 As and operating at a wavelengt h of 9μm is reported.
22 2
Fo r a 2mm cavity lengt h and 35μm ridge waveguide widt h ,quasi co ntinuous wave operation at 120 K is achieved and o utp ut opti
cal power wit hout co rrection at 81 K mo re t han 70mW is demonst rated. 3
Key words : quant um cascade laser ;molecular beam epitaxy ;active region ;injector
PACC : 6855 ; 4255 PEEACC : 4320J ; 2520D11-
222
Article ID : 0253 4177(2005) 03 0624 03
3 Project supported by National Nat ural Science Foundation of China ( No 。 60136010) , National High Technology Research and Develop ment Program of China ( No 。 2001AA311140) ,and State Key Develop ment Program for Basic Research of China ( No 。 G2000068322)
- Email :f qliu @red1 semi1ac1cn
Received 3 February 2005c
○ 2005 Chinese Instit ute of Elect ronics
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