資料介紹
Features
? High-density, High-performance, Electrically-erasable Complex
Programmable Logic Device
– 128 Macrocells
– 5 Product Terms per Macrocell, Expandable up to 40 per Macrocell
– 84, 100, 160 Pins
– 7.5 ns Maximum Pin-to-pin Delay
– Registered Operation up to 125 MHz
– Enhanced Routing Resources
? Flexible Logic Macrocell
– D/T/Latch Configurable Flip-flops
– Global and Individual Register Control Signals
– Global and Individual Output Enable
– Programmable Output Slew Rate
– Programmable Output Open Collector Option
– Maximum Logic Utilization by Burying a Register within a COM Output
? Advanced Power Management Features
– Automatic 10 μA Standby for “L” Version
– Pin-controlled 1 mA Standby Mode
– Programmable Pin-keeper Inputs and I/Os
– Reduced-power Feature per Macrocell
? Available in Commercial and Industrial Temperature Ranges
? Available in 84-lead PLCC and 100-lead PQFP and TQFP and 160-lead PQFP Packages
? Advanced EE Technology
– 100% Tested
– Completely Reprogrammable
– 10,000 Program/Erase Cycles
– 20-year Data Retention
– 2000V ESD Protection
– 200 mA Latch-up Immunity
? JTAG Boundary-scan Testing to IEEE Std. 1149.1-1990 and 1149.1a-1993 Supported
? Fast In-System Programmability (ISP) via JTAG
? PCI-compliant
? 3.3 or 5.0V I/O Pins
? Security Fuse Feature
? High-density, High-performance, Electrically-erasable Complex
Programmable Logic Device
– 128 Macrocells
– 5 Product Terms per Macrocell, Expandable up to 40 per Macrocell
– 84, 100, 160 Pins
– 7.5 ns Maximum Pin-to-pin Delay
– Registered Operation up to 125 MHz
– Enhanced Routing Resources
? Flexible Logic Macrocell
– D/T/Latch Configurable Flip-flops
– Global and Individual Register Control Signals
– Global and Individual Output Enable
– Programmable Output Slew Rate
– Programmable Output Open Collector Option
– Maximum Logic Utilization by Burying a Register within a COM Output
? Advanced Power Management Features
– Automatic 10 μA Standby for “L” Version
– Pin-controlled 1 mA Standby Mode
– Programmable Pin-keeper Inputs and I/Os
– Reduced-power Feature per Macrocell
? Available in Commercial and Industrial Temperature Ranges
? Available in 84-lead PLCC and 100-lead PQFP and TQFP and 160-lead PQFP Packages
? Advanced EE Technology
– 100% Tested
– Completely Reprogrammable
– 10,000 Program/Erase Cycles
– 20-year Data Retention
– 2000V ESD Protection
– 200 mA Latch-up Immunity
? JTAG Boundary-scan Testing to IEEE Std. 1149.1-1990 and 1149.1a-1993 Supported
? Fast In-System Programmability (ISP) via JTAG
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