資料介紹
當插卡(或接口板)在主板帶電的情況下插入或拔出時,由于插卡上濾波電容的放電作
用會對主電源呈現低阻狀態,造成主電源損壞。圖一所示電路能夠在可編程的開啟時間內對負載電流加以限制、調節,保證系統在熱插拔過程中安全、可靠工作。正常工作狀態下,MAX4370內部的兩個比較器(低速/高速比較器)提供雙速/雙電平短路和過流保護,電源電壓范圍+3V至+12V,內置電荷泵控制器為外部N 溝道MOSFET 功率開關提供柵極驅動。檢測到系統故障時,MAX4370將處于鎖存狀態。
開啟狀態:系統上電時,MAX4370 處于開啟狀態,開啟時間由外接電容CTIM 決定,內部低速比較器不工作,通過以下兩個途徑為系統提供電流限制:
1、 控制外部的MOSFET柵極驅動電壓,使供給負載的電流緩慢上升。
2、 通過調整外部限流電阻的電壓限制流入負載的電流。
當高速比較器檢測到過流時,柵級電壓以固定的80μA 電流通過限流電阻放電,從而有效控制了上電期間的導通電流。
正常工作模式:開啟過程結束后,MAX4370 進入正常工作模式,利用兩個比較器以不同的檢測門限(雙電平)和響應時間(雙速)檢測負載電流,一旦檢測到故障,則斷開MOSFET。檢測過程為:
1、 低速比較器的的響應時間由外接電容CSPD 確定(tCSPD(ms)=0.2 x CSPD(nF)),CSPD 引腳浮空時,響應時間為默認值20μs;檢測門限電壓為固定的50mV;低速比較器對瞬態小電流沒有響應,當檢測到過流時,MOSFET柵極被放電,而后關斷MOSFET。
2、 高速比較器的響應時間和檢測門限電壓均為固定值,門限電壓為200mV,當檢測到故障時,立即斷開MOSFET。
出現故障時,STAT 引腳輸出低電平,MAX4370 處于鎖存狀態,要清除鎖存狀態需在ON 引腳輸入一負脈沖,脈沖寬度應大于20μs。
應用:
1、 選擇N溝道MOSFET:N溝道MOSFET的額定電流應滿足負載電流的要求;在滿負荷范圍內,MOSFET 的導通電阻RDS(ON)應足夠小,以降低柵漏間的壓差減小功耗,當負載電流為1A時,可選用IR公司的IRLMS1503。參考表一。
用會對主電源呈現低阻狀態,造成主電源損壞。圖一所示電路能夠在可編程的開啟時間內對負載電流加以限制、調節,保證系統在熱插拔過程中安全、可靠工作。正常工作狀態下,MAX4370內部的兩個比較器(低速/高速比較器)提供雙速/雙電平短路和過流保護,電源電壓范圍+3V至+12V,內置電荷泵控制器為外部N 溝道MOSFET 功率開關提供柵極驅動。檢測到系統故障時,MAX4370將處于鎖存狀態。
開啟狀態:系統上電時,MAX4370 處于開啟狀態,開啟時間由外接電容CTIM 決定,內部低速比較器不工作,通過以下兩個途徑為系統提供電流限制:
1、 控制外部的MOSFET柵極驅動電壓,使供給負載的電流緩慢上升。
2、 通過調整外部限流電阻的電壓限制流入負載的電流。
當高速比較器檢測到過流時,柵級電壓以固定的80μA 電流通過限流電阻放電,從而有效控制了上電期間的導通電流。
正常工作模式:開啟過程結束后,MAX4370 進入正常工作模式,利用兩個比較器以不同的檢測門限(雙電平)和響應時間(雙速)檢測負載電流,一旦檢測到故障,則斷開MOSFET。檢測過程為:
1、 低速比較器的的響應時間由外接電容CSPD 確定(tCSPD(ms)=0.2 x CSPD(nF)),CSPD 引腳浮空時,響應時間為默認值20μs;檢測門限電壓為固定的50mV;低速比較器對瞬態小電流沒有響應,當檢測到過流時,MOSFET柵極被放電,而后關斷MOSFET。
2、 高速比較器的響應時間和檢測門限電壓均為固定值,門限電壓為200mV,當檢測到故障時,立即斷開MOSFET。
出現故障時,STAT 引腳輸出低電平,MAX4370 處于鎖存狀態,要清除鎖存狀態需在ON 引腳輸入一負脈沖,脈沖寬度應大于20μs。
應用:
1、 選擇N溝道MOSFET:N溝道MOSFET的額定電流應滿足負載電流的要求;在滿負荷范圍內,MOSFET 的導通電阻RDS(ON)應足夠小,以降低柵漏間的壓差減小功耗,當負載電流為1A時,可選用IR公司的IRLMS1503。參考表一。
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