資料介紹
1.電路設(shè)計(jì)及EMC器件選擇
在新設(shè)計(jì)及開發(fā)項(xiàng)目的開始,正確選擇有源與無源器件及完善的電路設(shè)計(jì)技術(shù),將有利于以最低的成本獲得EMC認(rèn)證,減少產(chǎn)品因屏蔽和濾波所帶來的額外的成本、體積和重量。 這些技術(shù)也可以提高數(shù)字信號(hào)的完整性及模擬信號(hào)信噪比,可以減少重復(fù)使用硬件及軟件至少一次,這也將有助于新產(chǎn)品達(dá)到其功能技術(shù)要求,盡早投入市場(chǎng)。這些EMC技術(shù)應(yīng)視為公司竟?fàn)巸?yōu)勢(shì)的一部分,有助于使企業(yè)獲得最大的商業(yè)利益。
1.1數(shù)字器件與EMC電路設(shè)計(jì)
1.1.1器件的選擇
大部分?jǐn)?shù)字IC生產(chǎn)商都至少能生產(chǎn)某一系列輻射較低的器件,同時(shí)也能生產(chǎn)幾種抗ESD的I/O芯片,有些廠商供應(yīng)EMC性能良好的VLSI(有些EMC微處理器比普通產(chǎn)品的輻射低40dB);大多數(shù)數(shù)字電路采用方波信號(hào)同步,這將產(chǎn)生高次諧波分量,如圖1示。時(shí)鐘速率越高,邊沿越陡,頻率和諧波的發(fā)射能力也越高。 因此,在滿足產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)的前提下,盡量選擇低速時(shí)鐘。在HC能用時(shí)絕不要使用AC,CMOS4000能行就不要用HC。要選擇集成度高并有EMC特性的集成電路,比如: * 電源及地的引腳較近 * 多個(gè)電源及地線引腳 * 輸出電壓波動(dòng)性小 * 可控開關(guān)速率 * 與傳輸線匹配的I/O電路 * 差動(dòng)信號(hào)傳輸 * 地線反射較低 * 對(duì)ESD及其他干擾現(xiàn)象的抗擾性 * 輸入電容小 * 輸出級(jí)驅(qū)動(dòng)能力不超過實(shí)際應(yīng)用的要求 * 電源瞬態(tài)電流低(有時(shí)也稱穿透電流這些參數(shù)的最大、最小值應(yīng)由其生產(chǎn)商一一指明。由不同廠家生產(chǎn)的具有相同型號(hào)及指標(biāo)的器件可能有顯著不同的EMC特性,這一點(diǎn)對(duì)于確保陸續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品具有穩(wěn)定的電磁兼容符合性是很重要的。高技術(shù)集成電路的生產(chǎn)商可以提供詳盡的EMC設(shè)計(jì)說明,比如Intel的奔騰MMX芯片就是這樣。設(shè)計(jì)人員要了解這些并嚴(yán)格按要求去做。詳盡的EMC設(shè)計(jì)建議表明:生產(chǎn)商關(guān)心的是用戶的真正需求,這在選擇器件時(shí)是必須考慮的因素。在早期設(shè)計(jì)階段,如果IC的EMC特性不清楚,可以通過一簡(jiǎn)單功能電路(至少時(shí)鐘電路要工作)進(jìn)行各種EMC測(cè)試,同時(shí)要盡量在高速數(shù)據(jù)傳輸狀態(tài)完成操作。發(fā)射測(cè)試可方便地在一標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)上進(jìn)行,將近場(chǎng)磁場(chǎng)探頭連接到頻譜分析儀(或?qū)拵?a href='http://www.1cnz.cn/v/tag/577/' target='_blank' class='arckwlink_none'>示波器)上,有些器件明顯地比其他一些器件噪聲小得多,測(cè)試抗擾度時(shí)可采用同樣的探頭,并連到信號(hào)發(fā)生器的輸出端(連續(xù)射頻或瞬態(tài))。但如果探頭是儀器專配的(不只是簡(jiǎn)單的短路環(huán)或?qū)Ь€),首先要檢查其功率承受能力是否滿足要求。測(cè)試時(shí)近場(chǎng)探頭需貼近器件或PCB板,為了定位“關(guān)鍵探測(cè)點(diǎn)”和最大化探頭方向 , 應(yīng)首先在整個(gè)區(qū)域進(jìn)行水平及垂直掃描(使探頭在各個(gè)方向相互垂直),然后在信號(hào)最強(qiáng)的區(qū)域集中進(jìn)行掃描。
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