電路中的噪聲通常都是有害的，任何好電路都應該輸出盡可能低的噪聲。盡管如此，在某些情況下，一個特性明確且沒有其他信號的噪聲源就是所需的輸出。電路特性測量就是這種情況。許多電路的輸出特性可通過掃描一定頻率范圍內的輸入信號并觀測設計的響應來測量。輸入掃描可以由離散輸入頻率或掃頻正弦波組成。干凈的極低頻率正弦波（低于 10 Hz）難以產生。處理器、DAC 和一些復雜的精密濾波可以產生相對干凈的正弦波，但對于每個頻率階躍，系統必須穩定下來，使得包含許多頻率的順序全掃描很緩慢。測試較少的離散頻率可能較快，但會增加跳過高 Q 現象所在的關鍵頻率的風險。白噪聲發生器比掃頻正弦波更簡單、更快速，因為它能高效地同時產生幅度相同的所有頻率。在被測器件（DUT）的輸入端施加白噪聲可以快速產生整個頻率范圍上的頻率響應概貌。在這種情況下，不需要昂貴或復雜的掃頻正弦波發生器。只需將 DUT 輸出連接到頻譜分析儀并觀察即可。使用更多的均值操作和更長的采集時間，產生的目標頻率范圍上的輸出響應就更精確。 DUT 對白噪聲的預期響應是頻率整形的噪聲。以這種方式使用白噪聲可以快速暴露出意外行為，例如怪異的頻率雜散、奇怪的諧波以及不希望出現的頻率響應偽像。此外，細心的工程師可利用白噪聲發生器測試測試儀。測量頻率響應的實驗室設備在測量已知平坦的白噪聲發生器時應產生平坦的噪聲曲線。在實際應用方面，白噪聲發生器易于使用；體積小，足以實現緊湊的實驗室設置；便于攜帶，適合現場測量；并且價格低廉。具有大量設置的高質量信號發生器非常靈活，十分吸引人。但是，多功能性會妨礙快速頻率響應測量。設計良好的白噪聲發生器不需要任何控制，卻能產生完全可預測的輸出。