描述

借助 Analog Devices ADN8834 控制器和 Vishay 熱敏電阻 NTCLE203 /NTCLE213 10 Kohms 提供的輸入，對激光模塊冷卻 Peltier 元件進行 LTspice 仿真

總應用仿真電路轉載于圖1

圖1

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我們將詳細介紹這些電路組件的不同模型。

1）PELTIER的內部結構

本項目的模型復制自以下參考

熱電元件的 SPICE 模型，包括熱效應

2000 年 2 月會議記錄 - IEEE 儀器與測量技術會議 2:1019 - 1023 vol.2

DOI: 10.1109/IMTC.2000.848895 來源IEEE Xplore

會議：儀器儀表和測量技術會議，2000。IMTC 2000。第 17 屆 IEEE 論文集卷：2

為 Peltier 提供的網表已在 LTspice 中重新創建，如圖 2 所示。您將在此模擬中找到影響 TE 元件熱行為的所有參數（存在于與此項目一起下載的存檔中）。這將允許用戶通過與冷熱溫度測量值進行比較來校準 Peltier 參數（熱質量、散熱器容量）。

圖 2

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圖 3

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2）熱敏電阻NTCLE213/203

熱敏電阻的精確特性在文件中定義。

vishay_pspice_models_voltage_driven.lib

取決于應用的參數是響應時間，它取決于使用的介質（空氣），以及空氣是否被攪拌的事實（NTCL213：攪拌空氣中的 5 秒/靜止空氣中的 9 秒）

3）激光源：

這實際上是直接與 Peltier 的熱質量相通的熱源。您將需要評估產生了多少瓦特并將源 V5 中的電流調整為等于該功率（等效 W 和 I）

4) 使用 ADN8834 進行總仿真

幸運的是，ADI LTspice XVII 直接提供了一個 spice 模型，并且應用電路從數據表中轉載。 優點是我們將能夠測試任何元素的任何參數的影響，所有這些都是為了開發應用程序的直覺。

在圖 4 中，我們執行了一個模擬，其中初始溫度低于或高于設定溫度。我們看到，在任何情況下，達到的溫度總是向設定溫度收斂。

在圖 5/6 中，我們掃描了反饋電阻值 (Rfeedback)，以便可視化對熱穩定性的影響。該電阻值越高，溫度擺動越低。

圖 4

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圖 5

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圖 6

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在圖 7 和圖 8 中，我們可視化了設定溫度值 Tset（25°C 或 27°C）的影響。

您可以通過饋入參考熱敏電阻的虛擬電壓來修復此值：ADN8834 將完美地保持目標 Tset 的熱質量

在圖 9 中，每次停留時環境溫度變化的影響：我們看到開關頻率與環境溫度成反比。

在圖 10 中，我們看到當熱敏電阻響應時間降低到非常低的值（溫度擺動略有降低）時，熱回路會發生什么情況

圖 7

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圖 8

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圖 9

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圖 10

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在圖 11/12 中：激光器的熱功率對電路行為的影響，以及之前的環境溫度變化。

使用功率激光：1000s以上，當激光的熱量打開，并且環境太高時，Peltier總是打開但無法冷卻目標的熱質量。

圖 11

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無激光功率

圖 12

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該項目的結論：這種模擬是準備實驗的理想（且成本低廉）的方法，并將提供大量結果，以便稍后與實際結果進行比較。