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直方圖測試確定 DNL 和 INL 誤差

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直方圖測試確定 DNL 和 INL 誤差直方圖測試確定 DNL 和 INL 誤差如今，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器制造商經(jīng)常使用直方圖方法來驗證其數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的積分 (INL) 和微分 (DNL) 非線性規(guī)范。這種方法也稱為代碼密度測試，在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的幅度域中執(zhí)行。在直方圖測試期間，將具有浴缸分布的重復動態(tài)信號（例如正弦波信號）應(yīng)用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)，在轉(zhuǎn)換器的輸出端生成相應(yīng)的數(shù)字代碼分布。與相應(yīng)輸出代碼分布的任何偏差都會導致各種誤差，這些誤差可以用直方圖方法進行估計。這些誤差參數(shù)首??先包括 DNL 和 INL。如今，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器制造商經(jīng)常使用直方圖方法來驗證其數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的積分 (INL) 和微分 (DNL) 非線性規(guī)范。這種方法也稱為代碼密度測試，在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的幅度域中執(zhí)行。在直方圖測試期間，將具有浴缸分布的重復動態(tài)信號（例如正弦波信號）應(yīng)用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)，在轉(zhuǎn)換器的輸出端生成相應(yīng)的數(shù)字代碼分布。與相應(yīng)輸出代碼分布的任何偏差都會導致各種誤差，這些誤差可以用直方圖方法進行估計。這些誤差參數(shù)首??先包括 DNL 和 INL。對于 ADC，給定一個模擬輸入信號，直方圖顯示每個不同的數(shù)字代碼字在 ADC 輸出上出現(xiàn)的次數(shù)。直方圖測試的一種方法涉及正弦輸入信號的采樣和數(shù)字化。然后將數(shù)字化信息分類到代碼箱中。每個代碼箱代表一個單一的輸出代碼。根據(jù)輸入信號，收集每個 bin 的樣本數(shù)或命中數(shù)。N 表示 ADC 的分辨率或總位數(shù)，將有 2 對于 ADC，給定一個模擬輸入信號，直方圖顯示每個不同的數(shù)字代碼字在 ADC 輸出上出現(xiàn)的次數(shù)。直方圖測試的一種方法涉及正弦輸入信號的采樣和數(shù)字化。然后將數(shù)字化信息分類到代碼箱中。每個代碼箱代表一個單一的輸出代碼。根據(jù)輸入信號，收集每個 bin 的樣本數(shù)或命中數(shù)。N 表示 ADC 的分辨率或總位數(shù)，將有 2 NN個代碼倉。對于理想的 ADC，每個碼位寬度應(yīng)對應(yīng)于 FSR/2 個代碼倉。對于理想的 ADC，每個碼位寬度應(yīng)對應(yīng)于 FSR/2 N的位寬N的位寬，其中 FSR 是 ADC 的滿量程范圍，以伏特為單位。然而，在現(xiàn)實世界中，ADC 的代碼倉寬度可能不同。例如，如果代碼倉中收集的樣本（對于已知輸入信號）的數(shù)量大于預(yù)期，那么這個數(shù)字將表明代碼倉寬度大于理想值（從統(tǒng)計學上講）。，其中 FSR 是 ADC 的滿量程范圍，以伏特為單位。然而，在現(xiàn)實世界中，ADC 的代碼倉寬度可能不同。例如，如果代碼倉中收集的樣本（對于已知輸入信號）的數(shù)量大于預(yù)期，那么這個數(shù)字將表明代碼倉寬度大于理想值（從統(tǒng)計學上講）。代碼示例的頻率顯示為代碼的函數(shù)。對于理想的 ADC，該圖將是正弦波的概率密度函數(shù) p(V)，表示如下代碼示例的頻率顯示為代碼的函數(shù)。