資料介紹
CN0368 I如需1 MSPS以上采樣速率,應(yīng)考慮使用下列同步采樣ADC:AD7356 (5 MSPS時為12位)、 AD7357 (4.25 MSPS時為14位)。
如需12位或14位以上的分辨率,可使用AD7655 (1 MSPS時為
16位)。
本電路使用EVAL-SDP-CB1Z 系統(tǒng)演示平臺(SDP)板和
EVAL-CN0368-SDPZ電路板。這兩片板具有120引腳的對接
連接器,可以快速完成設(shè)置并評估電路性能。
EVAL-CN0368-SDPZ包含待評估電路,如CN-0368所述。
EVAL-SDP-CB1Z板與CN0368評估軟件一同使用,捕獲
EVAL-CN0368-SDPZ電路板的數(shù)據(jù)。
設(shè)備要求
需要以下設(shè)備:
帶USB端口和Windows? XP(32位)、Windows
Vista(32位)
或Windows 7(32位)PC
EVAL-CN0368-SDPZ 電路板
EVAL-SDP-CB1Z SDP 板
6 V電源或壁式電源適配器
CN0368評估軟件
傳感器封裝處磁場強度不低于25 kA/m的釹磁體
開始使用
將CN0368評估軟件光盤放入PC,加載評估軟件。打開我
的電腦,找到包含評估軟件光盤的驅(qū)動器,打開Readme
文件。按照Readme文件中的說明安裝和使用評估軟件。
功能框圖
圖27所示為測試設(shè)置的功能框圖。
圖27. 測試設(shè)置框圖
設(shè)置
將EVAL-CN0368-SDPZ上的120引腳連接器連接到
EVAL-SDP-CB1Z上的連接器。使用尼龍五金配件,通過
120引腳連接器兩端的孔牢牢固定這兩片板。
在斷電情況下,將6 V直流管式插孔連接到J4連接器。將
EVAL-SDP-CB1Z附帶的USB電纜連接到PC上的USB端口。
此時請勿將該USB電纜連接到SDP板上的微型USB連接器。
將釹磁體直接放置在IC之上,或置于專為旋轉(zhuǎn)磁體而設(shè)計
的夾具中,使IC和磁體的距離最短。
使磁場的其他來源遠離IC很重要,因為任何雜散磁場都會
使傳感器輸出電壓產(chǎn)生誤差。
測試
為直流管式插孔、J4連接器上電。啟動CN0368評估軟件,
并通過USB電纜將PC連接到EVAL-SDP-CB1Z上的微型USB
連接器。
一旦USB通信建立,就可以使用EVAL-SDP-CB1Z來發(fā)送、
接收和捕捉來自EVAL-CN0368-SDPZ的串行數(shù)據(jù)。
有關(guān)EVAL-SDP-CB1Z的信息,請參閱SDP用戶指南.
有關(guān)測試設(shè)置、校準(zhǔn)以及如何使用評估軟件來捕捉數(shù)據(jù)的
詳細信息,請參閱CN-0368 軟件用戶指南。
ADA4571 是一款各向異性磁阻(AMR)傳感器,集成信號調(diào)理
放大器和ADC驅(qū)動器,以及用于溫度補償?shù)臏囟葌鞲衅鳌?ADA4571產(chǎn)生兩路模擬輸出,指示周圍磁場的角位置。
ADA4571集成一個AMR傳感器和一個固定增益(標(biāo)稱值G = 40)
儀表放大器。ADA4571可提供有關(guān)旋轉(zhuǎn)磁場角度的干凈且
經(jīng)過放大的余弦和正弦輸出信號。T輸出電壓范圍與電源
電壓成比例。
傳感器含有兩個互成45°角的透磁合金惠斯登電橋。x-y傳
感器平面的旋轉(zhuǎn)磁場提供兩路正弦輸出信號,且傳感器與
磁場方向的角度(α)頻率翻倍。在x-y平面的均質(zhì)場內(nèi),輸
出信號與z方向(氣隙)的物理位置無關(guān)。
正弦和余弦輸出端的輸出電壓擺幅范圍為7% VDD至93% VDD。
有兩個診斷頻段(VDD的0%至7%和VDD的93%至100%),因而
可向所有內(nèi)部連接提供焊線斷開檢測。
ADA4571采用8引腳SOIC封裝。
VSIN和VCOS輸出的輸出阻抗為50 Ω,采用外部10 nF電容
時組成318 kHz噪聲濾波器。
AD7866是一款雙通道、同步采樣、12位、1 MSPS SAR ADC。
RANGE引腳的極性確定模擬輸入范圍和輸出編碼。如果片
選信號變?yōu)榈碗娖綍r該引腳連接邏輯高電平,則下次轉(zhuǎn)換
的模擬輸入范圍為0 V至2 × VREF(0 V至5 V),為ADA4571 AMR
傳感器的0.35 V至4.65 V信號提供大約350 mV裕量。
將REFSEL引腳連接至低電平可配置ADC使用內(nèi)部2.5 V基準(zhǔn)
電壓源。VREF引腳提供該電壓,但將其用于系統(tǒng)的其他位置前必須先使用緩沖器。DCAPA引腳和DCAPB引腳采用470 nF
電容去耦,確保ADC正常工作。
AD7866同步采樣傳感器的兩個通道。數(shù)字字通常在 DOUTA和DOUTB每個數(shù)據(jù)流包括1個前導(dǎo)零,隨后是3個狀態(tài)位,再加上12位轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。然而,保持CS 引腳為低電
平并持續(xù)額外16個時鐘周期,則兩個數(shù)字字均可從一個通道(DOUTA)獲取。因此,SPI接口允許在一條數(shù)據(jù)線路上訪問兩個通道。
AD7866的兩個ADC輸入均帶有雙通道多路復(fù)用器。A0輸
入引腳上的邏輯0允許A1和A2輸入端轉(zhuǎn)換,而A0輸入引腳
上的邏輯1允許B1和B2輸入端轉(zhuǎn)換。ADA4571的溫度傳感
器輸出連接AD7866的B1輸入,并允許對系統(tǒng)進行軟件溫
度校準(zhǔn)。
磁阻(MR)理論
磁阻是存在外部磁場時,材料改變其電阻值的能力。最常
用的MR傳感器基于AMR技術(shù)。
??
圖2. 各向異性磁阻示例
AMR效應(yīng)示例如圖2所示。電流(I)流過導(dǎo)體,受外部磁場
(HY)影響。導(dǎo)體電阻的變化與磁化矢量(M)和電流矢量(I)
之間的角度(?)成函數(shù)關(guān)系。磁化矢量是內(nèi)部磁場(HX)與施
加的外部磁場(HY)的凈求和結(jié)果。
當(dāng)磁化矢量(M)與電流矢量(I)平行時,具有最大電阻。當(dāng)磁化矢量(M)與電流矢量(I)垂直時,具有最小電阻。
有效利用AMR效應(yīng)要求導(dǎo)體自身必須對機械應(yīng)力材料不敏
感,但對磁約束敏感。由于這些原因,透磁合金(80%鎳,
20%鐵)是AMR傳感器制造中最常用的合金。
透磁合金屬性
透磁合金條有兩個屬性,創(chuàng)建角度測量系統(tǒng)時會具有設(shè)計
挑戰(zhàn)性。
首先,透磁合金具有較窄的線性工作區(qū)(見圖3)。僅當(dāng)磁化
矢量(M)和電流矢量(I)之間的角度(?)變大時,響應(yīng)才是線
性的。不幸的是,線性響應(yīng)不久后透磁合金就會飽和。
圖3. 透磁合金電阻與磁場的關(guān)系
其次,透磁合金對極性不敏感。無論磁化矢量(M)和電流
矢量(I)之間的角度(?)是正或負,透磁合金條的電阻都將
下降。
雙色條磁極
改善透磁合金條線性度和磁極非敏感特性的常用方法是與
金屬條的軸向成45°添加鋁條(稱為雙色條磁極,如圖4所
示)。雙色條磁極間流動的任何電流都將走最短的路徑——
垂直路徑,并且電流矢量(I)和磁化矢量(M)之間的角度偏
移45°。
圖4. 透磁合金條的雙色條磁極效應(yīng)
圖5顯示向透磁合金條中加入雙色條磁極后的結(jié)果。電流矢量偏移45°,但磁化矢量保持不變。注意,線性特性現(xiàn)在存在于圖形的中央部分。
圖5. 雙色條磁極透磁合金電阻與磁場的關(guān)系
磁場強度
磁場強度至少為25 kA/m,才能確保滿足ADA4571數(shù)據(jù)手冊
中的規(guī)格。該激勵磁場必須與ADA4571封裝內(nèi)傳感元件的
中央部分相交。
選擇磁體時,需考慮傳感器和磁體之間的氣隙,如圖6所
示。如果磁體未靠近傳感器放置(即距離d極大),則可能需
要更強或更大的磁體才能確保達到最小磁場強度要求。
圖6. 用于轉(zhuǎn)軸角度測量的磁體方向與氣隙
傳感器基礎(chǔ)知識
標(biāo)準(zhǔn)AMR傳感器由兩個惠斯登電橋組成,互相之間的相對
角度為45°,如圖7所示。
圖7. ADA4571雙惠斯登電橋配置
旋轉(zhuǎn)磁場產(chǎn)生正弦(2?)和余弦(2?)輸出信號,如圖8所示。
兩個信號在180°范圍內(nèi)均為周期信號,因此沒有額外元件
或參考點就無法進行全方位360°測量檢測。
圖8. 磁阻傳感器輸出電壓
通道靈敏度
ADA4571傳感器標(biāo)稱靈敏度為每通道52 mV/°,這意味著磁
化矢量和傳感器方向之間的每一度變化都會產(chǎn)生52 mV的輸
出電壓改變。角度的靈敏度并非常量。靈敏度下降的部分
是線路斜率接近零時的輸出部分。
如圖8所示,余弦輸出(綠線)在磁化矢量角度接近0°、90°、
180°或270°時損失靈敏度。類似地,正弦輸出(紅線)在磁化
矢量角度接近45°、135°、225°和315°時損失靈敏度。幸運
的是,當(dāng)一個通道的靈敏度降低時,另一個通道處于高靈
敏度區(qū)域。
系統(tǒng)帶寬、磁場旋轉(zhuǎn)
磁場角度矢量是理解電路帶寬的重要內(nèi)容。ADC每微秒
轉(zhuǎn)換一個樣本。為了獲得1°分辨率,磁場1 ms只能移動1°
(2.778 kHz),否則ADC無法以足夠高的速度進行采樣,以
便跟上磁場變化的速度。對于1 MSPS ADC,這表示磁場的
最大可用角速度為2.778 kHz。
旋轉(zhuǎn)測量測試結(jié)果
將直徑方向的N42磁體(直徑 = 0.5英寸,厚度 = 0.125英寸)連
接至金屬桿的末端。精密直流電機可對金屬桿進行精細角
度控制。傳感器精確安裝在磁體正面。氣隙設(shè)為2 mm。只
要磁鐵激勵使傳感器完全飽和,則結(jié)果便與氣隙基本無關(guān)。
電機轉(zhuǎn)動,創(chuàng)造出與傳感器相交的旋轉(zhuǎn)磁場,進而產(chǎn)生重復(fù)
性正弦和余弦輸出電壓,適合進行角度計算和數(shù)據(jù)采集。
圖9顯示了該設(shè)置的功能框圖。圖10是該設(shè)置的照片,可
用來采集軸尾配置的數(shù)據(jù)。該設(shè)置由無刷直流電機、物理
安裝、磁體和集成相應(yīng)ADA4571傳感器的PCB組成。
圖9. 數(shù)據(jù)采集測試設(shè)置——軸尾配置
圖10. 無刷直流電機基準(zhǔn)測試設(shè)置照片
圖11通過磁體的多次轉(zhuǎn)動,將電機的機械角與傳感器的計
算磁場角相比較。該計算利用兩個輸出之比的反正切函
數(shù)。未進行校準(zhǔn)時,誤差接近±1°。
圖11. 失調(diào)校正前的角誤差與機械角之間的關(guān)系
圖12顯示僅有一次失調(diào)校正的誤差。無需針對正弦和余弦
的幅度失配、非線性度或正交性校正進行額外調(diào)節(jié)。使用
每個通道的峰峰值或平均值可確定失調(diào)值,因為它貫穿整
個機械旋轉(zhuǎn)。從對應(yīng)通道中減去失調(diào),以獲得線性傳感器
響應(yīng)。最大誤差接近±0.2°,而該范圍內(nèi)的絕大部分誤差小
于±0.1°。
圖12. 僅針對失調(diào)進行校正后的角誤差與機械角的關(guān)系
線性位置測試結(jié)果
創(chuàng)建增量線性位置測量系統(tǒng)時,只需進行極少量的修改。
采用由一系列變化的南北極組成的多極條狀磁體代替現(xiàn)有
磁體,如圖13所示。
圖13. 線性位置測量磁體、PCB和傳感器
隨著傳感器沿與磁體平行方向移動,每轉(zhuǎn)過磁極長度的
180°,它都會檢測磁場。磁極長度(P)和傳感器的角度精度
(? = 0.05°)確定理論精度(Δx)。
Δx = P × Δ?/180°
這樣便形成了僅有一個磁極長度的絕對測量系統(tǒng)。若磁體
有多個磁極,則對通過的磁極進行計數(shù)可獲得更精確的讀
數(shù)。傳感器與磁體的理想距離是磁體磁極長度的一半。
通過在數(shù)顯卡尺的臂上安裝磁體,測試EVAL-CN0368-SDPZ PCB。安放EVAL-CN0368-SDPZ PCB,使其ADA4571 AMR
傳感器(U5)正面與磁體正面垂直。當(dāng)磁體移動時,數(shù)顯卡
尺顯示移動的距離,精度達0.0005英寸。同時,磁力線與
傳感器相交,提供可用輸出范圍。圖14是該設(shè)置的功能框
圖,圖15是該設(shè)置的照片。
圖14. 線性測量的數(shù)據(jù)采集測試設(shè)置
圖15. 基準(zhǔn)測試設(shè)置照片
該設(shè)置采用了長度為2英寸的磁體,放置位置離開傳感器1
英寸。建議用于線性運動檢測的傳感器至磁體氣隙等于磁
體磁極長度的一半。通過沿x軸移動磁體來采集數(shù)據(jù),并
將評估軟件讀數(shù)與卡尺數(shù)字顯示屏的讀數(shù)做比較。圖16顯
示1.0英寸范圍內(nèi)記錄的輸出位置誤差。整個范圍內(nèi)的誤差
為±2密耳。
圖16. 磁場位置誤差:1.0英寸范圍
將測量范圍限制在0.4英寸可獲得更好的測量結(jié)果。注意,
0.4英寸與圖8所示的三角波的線性部分重合,并將測量限
制在30°范圍內(nèi)。對此更改范圍應(yīng)用新的增益校正系數(shù),可
獲得±1密耳的誤差,如圖17所示。
圖17. 磁場位置誤差:0.4英寸范圍
傳感器放在磁體本體的中央,如圖18所示。當(dāng)傳感器相對磁
體上下移動時,會產(chǎn)生一個常見誤差源——垂直對齊誤差。
圖18. 基準(zhǔn)測試設(shè)置照片:垂直對齊誤差
圖19顯示了傳感器與磁體在垂直方向上未對齊所造成的誤
差。測試將PCB上移或下移0.25英寸和0.5英寸,然后獲取
數(shù)據(jù)。對于1.0英寸測量范圍,將目標(biāo)上移或下移0.25英寸
會給計算增加數(shù)密耳的誤差。上移或下移0.5英寸會使測量
情況更糟,原始讀數(shù)的誤差會增加數(shù)十密耳。
圖19. 磁場位置誤差:垂直對齊誤差
通過調(diào)整增益校正系數(shù),可以減小這些誤差,但無法完全
消除。增大與磁體的距離會對磁場強度產(chǎn)生不利影響,磁
力線的方向會使得某些數(shù)據(jù)不可恢復(fù)。
第二個常見的誤差源是旋轉(zhuǎn)對齊誤差,如圖20所示。雖然
傳感器和磁體相對于垂直軸上定位理想,但傳感器與磁體
的正面并不平行。
圖20. 基準(zhǔn)測試設(shè)置照片:旋轉(zhuǎn)對齊誤差
圖21顯示了與旋轉(zhuǎn)對齊誤差有關(guān)的讀數(shù)。綠線顯示了平行
配置所記錄的誤差,紅線和藍線顯示了傳感器相對于磁體
正面左右旋轉(zhuǎn)所帶來的額外誤差。
圖21. 磁場位置誤差:旋轉(zhuǎn)對齊誤差
最后一個常見的誤差源是傳感器至磁體距離,如圖22所
示。傳感器與磁體的理想距離是磁體長度的一半。增大或
減小該距離都會導(dǎo)致數(shù)據(jù)組誤差。圖22顯示了磁體和傳感
器相距太近的基準(zhǔn)測試設(shè)置。
圖22. 基準(zhǔn)測試設(shè)置照片:平面距離變化
磁體與傳感器的距離先后設(shè)置為0.1英寸、0.5英寸和1英
寸,然后獲取數(shù)據(jù)。圖23顯示了不同配置相關(guān)的誤差。
圖23. 磁場位置誤差:平面距離變化
通過調(diào)整增益校正系數(shù),可以減小這些誤差,但無法完全消除。增大或減小與磁體的距離會對磁場強度產(chǎn)生不利影響,磁力線的方向會使得某些數(shù)據(jù)不可恢復(fù)。
圖24是LabVIEW?評估軟件的屏幕截圖,該軟件可用于角位置應(yīng)用的一切讀數(shù)顯示與計算。圖25是線性測量選項卡的
屏幕截圖。
圖24. CN0368評估軟件旋轉(zhuǎn)測量選項卡屏幕截圖
圖25. CN0368評估軟件線性測量選項卡屏幕截圖
校準(zhǔn)期間確定每個惠斯登電橋的最大和最小電壓輸出(VMAX
和VMIN)。了解這些數(shù)值可以更精確地將電壓映射到數(shù)字碼。通過選擇校準(zhǔn)方法下拉框,用戶可以有兩種方法確定
VMAX和VMIN值。
第一種方法是在磁激勵360°旋轉(zhuǎn)時,軟件確定VMAX和
VMIN。隨后,軟件計算各通道的失調(diào)電壓值,并使用這些值來確定磁場角度。
第二種方法是在磁激勵360°旋轉(zhuǎn)時,軟件確定VMAX、VMIN
和VTEMP。然后在不同的溫度下重復(fù)該步驟。軟件使用這些
變量計算各通道的失調(diào)電壓和溫度相關(guān)性,進而計算磁場角度。
PCB布局考慮
在任何注重精度的電路中,必須仔細考慮電路板上的電源
和接地回路布局。PCB應(yīng)盡可能隔離數(shù)字部分和模擬部
分CN-0368 系統(tǒng)的PCB采用4層板堆疊而成,具有較大面
積的接地層和電源層多邊形。有關(guān)布局和接地的詳細論
述,請參見MT-031 指南 ;有關(guān)去耦技術(shù)的信息,請參見MT-101 指南。
所有IC的電源應(yīng)當(dāng)用1μF和0.1μF電容去耦,以適當(dāng)抑制噪
聲并減小紋波。這些電容應(yīng)盡可能靠近器件。對于所有高
頻去耦,建議使用陶瓷電容。
電源走線應(yīng)盡可能寬,以提供低阻抗路徑,并減小電源線
路上的毛刺效應(yīng)。通過數(shù)字地將時鐘及其它快速開關(guān)數(shù)字
信號屏蔽起來,使之不影響電路板的其它器件。圖26為
PCB的照片。
用于CN-0368的完整設(shè)計支持包可參見 www.analog.com/CN0368-DesignSupport.
圖26. EVAL-CN0368-SDPZ板的照片
CN0368 CN0368 磁阻角度和線性位置測量 圖1所示緊湊型雙芯片電路提供非接觸式各向異性磁阻
(AMR)測量解決方案,可用于角度或線性位置測量。該雙
芯片系統(tǒng)在180°范圍內(nèi)具有優(yōu)于0.2°的角精度,在0.5英寸范
圍內(nèi)具有2 mil(0.002英寸)線性精度,具體取決于所用磁體的
尺寸。
該電路適用于高速、高精度、非接觸式角度和長度測量關(guān)
鍵型應(yīng)用,比如機床速度控制、起重機角度控制、無刷直
流電機和其他工業(yè)或汽車應(yīng)用。
圖1. 磁阻角度和線性檢測系統(tǒng)(原理示意圖: 未顯示去耦和所有連接)
CN0368
- MR Angular and Linear Position Measurement
- Single Supply
- Small Footprint
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