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標簽 > 可靠性測試
可靠性測試就是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評價產(chǎn)品在實際使用、運輸和儲存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機理。
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氮化鎵(GaN),作為一種具有獨特物理和化學性質(zhì)的半導體材料,憑借卓越的功率轉(zhuǎn)換效率、超快的開關速度以及出色的耐高溫性能,在5G通信、新能源汽車、數(shù)據(jù)中...
使用Keithley 4200-SCS半導體表征系統(tǒng)進行氧化物可靠性測試
氧化物完整性是一個重要的可靠性問題,特別對于今天大規(guī)模集成電路的MOSFET器件, 其中氧化物厚度已經(jīng)縮放到幾個原子層。JEDEC 35標準 (EIA/...
高可靠繼電器作為一種關鍵電子控制器件,在電力保護、自動化控制、通信等領域中發(fā)揮著至關重要的作用。其設計與制造過程必須嚴格遵循高標準,以確保在復雜和惡劣的...
推拉力測試機在半導體行業(yè)應用,設備功能、技術(shù)指標及安裝要求
最近有客戶在網(wǎng)站上咨詢芯片焊接強度測試設備,主要用于半導體激光器。半導體激光器廣泛應用在雷達,遙控遙測,航空航天等應用中。對其可靠性提出了越來越高的要求...
電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應力篩選測試HASS,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么...
在當今的半導體市場,公司成功的兩個重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營,...
高溫試驗是晶振在高溫條件下工作一段時間后,評定高溫對晶振的電氣和機械性能的影響;或者長時間高溫存儲(不帶電)后,評定晶振的質(zhì)量穩(wěn)定性,可參照標準GJB ...
冷熱沖擊試驗箱為什么會出現(xiàn)冰堵現(xiàn)象?
冷熱沖擊試驗箱按其內(nèi)箱分為兩箱式和三箱式,并不是說其區(qū)別是兩箱和三箱,而是在于試驗測試方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,冷熱沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行...
碳化硅作為第三代半導體經(jīng)典的應用,具有眾多自身優(yōu)勢和技術(shù)優(yōu)勢,它所制成的功率器件在生活中運用十分廣泛,越來越無法離開,因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程...
可靠性,是指產(chǎn)品在規(guī)定時間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力,是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標,如果在規(guī)定時間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能,則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障...
高度加速壽命測試是什么 高度加速壽命測試技術(shù)細節(jié)
高度加速壽命測試(HALT)是一種加速的環(huán)境測試過程,用于評估和提高產(chǎn)品設計和組件/材料的耐用性。產(chǎn)品的堅固性是最終可靠性性能的直接指標。高度加速壽命測...
2023-07-20 標簽:傳感器自動化系統(tǒng)監(jiān)測設備 517 0
可靠性/可用性驗證測試FIT:定義及目的 FIT (Fault Injection Test) :故障注入測試,通過向系統(tǒng)注入在實際應用中可能發(fā)生的故...
反復短路測試測試說明:在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應能實現(xiàn)保護或回縮,反復多次短路,故障排除后,模塊應該能自動恢復正常運行。
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