IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解

芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長時(shí)間使用和負(fù)載情況下...

2024-11-23 標(biāo)簽：IC芯片模擬芯片老化測(cè)試 441 0

耐久性測(cè)試：氙燈加速老化測(cè)試

在自然界中，產(chǎn)品經(jīng)常遭受光照的影響，尤其是太陽光中的紫外線（UV），結(jié)合溫度和濕度的變化，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降、表面裂紋、脫落、色澤變暗、變色、粉化等老...

2024-11-04 標(biāo)簽：測(cè)試耐久性老化測(cè)試 128 0

LED如何做老化測(cè)試

LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長壽命，廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號(hào)等領(lǐng)域。然而，為了確保LED在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性，進(jìn)行老化測(cè)試是不可或缺的一步...

2024-10-26 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備老化 712 0

高溫老化試驗(yàn)房的故障處理方案

高溫老化試驗(yàn)房作為一種重要的測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天等行業(yè)，用于評(píng)估材料和組件在高溫環(huán)境下的性能和可靠性。然而，在使用過程中，試驗(yàn)房可能...

2024-10-26 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備老化測(cè)試 123 0

普賽斯儀表 | 創(chuàng)新技術(shù)突破,激光器老化測(cè)試系統(tǒng)解決方案

大功率激光器在光束質(zhì)量、工作效率、結(jié)構(gòu)體積、壽命和系統(tǒng)維護(hù)等方面具有明顯的優(yōu)勢(shì)。但與此同時(shí),由于單顆芯片出光功率大，單位面積產(chǎn)生的熱量大，如果不做好散熱...

2024-06-07 標(biāo)簽：激光器老化測(cè)試激光器老化 850 0

電子元器件老化測(cè)試項(xiàng)目及注意事項(xiàng)

在電子產(chǎn)品在加工過程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能...

2020-09-18 標(biāo)簽：電子元器件老化測(cè)試 1.3萬 0

基于LabVIEW的三極管老化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

電子元器件的老化測(cè)試就是仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，通過測(cè)試，將不符合器件剔除，將電子產(chǎn)品的質(zhì)量在加工初期進(jìn)行有效地控制，以保證電子產(chǎn)品使用的可靠性和穩(wěn)...

2016-01-19 標(biāo)簽：FPGA三極管LabVIEW 4875 0

高精度低成本：一款LED老化測(cè)試方案

LED照明產(chǎn)品的老化試驗(yàn)是一個(gè)非常重要的測(cè)試，通過老化測(cè)試可以及早發(fā)現(xiàn)LED 產(chǎn)品在長期使用中可能產(chǎn)生的故障。本文所介紹的一種LED 老化測(cè)試方案，主要...

2013-09-23 標(biāo)簽：LEDLED照明老化測(cè)試 2491 2

臭氧老化試驗(yàn)箱：加速材料老化測(cè)試的得力助手

在科研與工業(yè)生產(chǎn)中，了解材料在長時(shí)間自然環(huán)境下的老化性能至關(guān)重要。為了快速準(zhǔn)確地模擬這一過程，臭氧老化試驗(yàn)箱應(yīng)運(yùn)而生。這款設(shè)備以其獨(dú)特的功能和高效的測(cè)試...

2024-11-21 標(biāo)簽：設(shè)備試驗(yàn)箱老化測(cè)試 112 0

A2B車載功放老化測(cè)試

A2B技術(shù)作為一種高帶寬、低延遲的音頻總線解決方案，被廣泛應(yīng)用于汽車音頻系統(tǒng)中，車載功放是其中一個(gè)關(guān)鍵組件，其性能穩(wěn)定性和可靠性直接影響到整個(gè)音頻系統(tǒng)的...

2024-06-05 標(biāo)簽：車載功放老化測(cè)試 489 0

Burn-In測(cè)試你又明白多少呢？

Burn-In測(cè)試你又明白多少呢？ burn-in測(cè)試，中文名老化測(cè)試，指的就是在產(chǎn)品出廠之前先進(jìn)行高負(fù)荷的使用讓其渡過故障高發(fā)頻率，讓其到達(dá)客戶手中能...

2024-01-12 標(biāo)簽：測(cè)試故障老化測(cè)試 6762 0

電子產(chǎn)品高溫老化測(cè)試——高溫老化試驗(yàn)箱

高溫老化測(cè)試，就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過程中，產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度...

2023-12-22 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品測(cè)試 1235 0

IC出廠前為什么要做加速老化測(cè)試？

隨著芯片進(jìn)入汽車，云計(jì)算和工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的市場(chǎng)，IC的可靠性也成為開發(fā)人員關(guān)注的點(diǎn)，事實(shí)也證明，隨著時(shí)間推移，芯片想要達(dá)到目標(biāo)的功能也會(huì)變得越來越難實(shí)現(xiàn)。 ...

2023-07-25 標(biāo)簽：IC老化測(cè)試 830 0

電子產(chǎn)品的老化測(cè)試的意義

老化測(cè)試最終的目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命，為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞！

2023-07-04 標(biāo)簽：電子產(chǎn)品老化測(cè)試 2186 0

老化測(cè)試提高了 SiC 和 GaN 的可靠性

新型寬帶隙半導(dǎo)體（如碳化硅和氮化鎵）在市場(chǎng)上的擴(kuò)散對(duì)傳統(tǒng)的老化和測(cè)試系統(tǒng)提出了挑戰(zhàn)，因?yàn)槁闫叽缭絹碓叫。⑶医M件可以承受更高的電壓和溫度。 老化試驗(yàn)箱...

2022-07-29 標(biāo)簽：SiCGaN老化測(cè)試 2168 0