芯片測試程序

一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設備）識別和執行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程...

2024-11-16 標簽：芯片測試ATE測試程序 220 0

高低溫測試的重要性與應用

高低溫測試，亦稱為高低溫循環測試，是環境可靠性測試中的關鍵組成部分，其主要目的是評估在高溫和低溫條件下，裝備在存儲和工作期間的性能表現。隨著科技的進步，...

2024-11-07 標簽：芯片測試試驗箱產品測試 268 0

新思科技TSO.ai助力解決芯片測試成本和時間挑戰

人工智能技術日漸普及，廣泛運用于解決當今的各種復雜問題，尤其是那些涉及海量數據的分析和相應決策等單靠人力難以應對的棘手難題。換句話說，在應對半導體設計、...

2024-08-12 標簽：芯片測試AI人工智能 509 0

一文了解芯片測試的重要性

集成電路測試卡位產業鏈關鍵節點，貫穿設計、制造、封裝以及應用的全過程。從整個制造流程上來看，集成電路測試具體包括設計階段的設計驗證、晶圓制造階段的過程工...

2024-08-06 標簽：集成電路IC測試芯片測試 1370 0

芯片測試有哪些 芯片測試介紹

本文就芯片測試做一個詳細介紹。芯片的測試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會進行SLT（s...

2024-07-26 標簽：晶圓芯片測試可靠性測試 2481 0

確保測試精準：芯片高低溫濕熱環境試驗箱操作要點

芯片高低溫濕熱環境試驗箱是一種專業的測試設備，用于在溫度快速轉變的情況下檢驗產品的各項性能。為了確保設備的正常運行和延長使用壽命，廣東貝爾為您分享一些關...

2024-07-05 標簽：芯片測試試驗箱產品測試 462 0

半導體制造的關鍵環節：芯片測試

CP（Chip Probing）測試也叫晶圓測試(wafer test)，也就是在芯片未封裝之前對wafer進行測試，這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...

2024-04-20 標簽：測試系統芯片測試測試機 1835 0

為什么要進行芯片測試?芯片測試在什么環節進行?

WAT需要標注出測試未通過的裸片（die），只需要封裝測試通過的die。 FT是測試已經封裝好的芯片（chip），不合格品檢出。WAT和FT很多項...

2024-04-17 標簽：芯片晶圓芯片測試 846 0

一文了解SOC的DFT策略及全芯片測試的內容

SOC ( System on Chip）是在同一塊芯片中集成了CPU、各種存儲器、總線系統、專用模塊以及多種l/O接口的系統級超大規模集成電路。 ...

2023-12-22 標簽：芯片soc芯片設計 3027 0

芯片導通電阻是什么？如何用ATECLOUD-IC測試系統測試？

導通電阻測試就是用來檢測導線或連線情況是否正常的一種方法，是指兩個導體間在一定電壓下通過的電流所引起的電壓降之比，通俗的說就是導線通電后的電阻值。芯片引...

2023-09-28 標簽：導通電阻測試系統芯片測試 2217 0

芯片測試方案之電源芯片片輸入閾值的測試方法

在芯片眾多特殊的引腳中，EN引腳無疑是最為重要的一個。EN引腳又稱使能引腳(Enable pins)，不同的芯片對其稱呼也有所不同，如EA、RUN等，它...

2023-09-27 標簽：測試系統芯片測試電源芯片 1486 0