完善資料讓更多小伙伴認識你，還能領(lǐng)取20積分哦，立即完善>
標簽 > 芯片測試
文章：116個 瀏覽：20149次 帖子：13個
一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動測試設(shè)備）識別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測試程...
高低溫測試，亦稱為高低溫循環(huán)測試，是環(huán)境可靠性測試中的關(guān)鍵組成部分，其主要目的是評估在高溫和低溫條件下，裝備在存儲和工作期間的性能表現(xiàn)。隨著科技的進步，...
2024-11-07 標簽：芯片測試試驗箱產(chǎn)品測試 275 0
在芯片制造過程中，測試是非常重要的一環(huán)，它確保了芯片的性能和質(zhì)量。芯片測試涉及到許多專業(yè)術(shù)語這其中，CP（Chip Probing），F(xiàn)T（Final ...
新思科技TSO.ai助力解決芯片測試成本和時間挑戰(zhàn)
人工智能技術(shù)日漸普及，廣泛運用于解決當今的各種復(fù)雜問題，尤其是那些涉及海量數(shù)據(jù)的分析和相應(yīng)決策等單靠人力難以應(yīng)對的棘手難題。換句話說，在應(yīng)對半導(dǎo)體設(shè)計、...
集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點，貫穿設(shè)計、制造、封裝以及應(yīng)用的全過程。從整個制造流程上來看，集成電路測試具體包括設(shè)計階段的設(shè)計驗證、晶圓制造階段的過程工...
本文就芯片測試做一個詳細介紹。芯片的測試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會進行SLT（s...
芯片高低溫濕熱環(huán)境試驗箱是一種專業(yè)的測試設(shè)備，用于在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗產(chǎn)品的各項性能。為了確保設(shè)備的正常運行和延長使用壽命，廣東貝爾為您分享一些關(guān)...
2024-07-05 標簽：芯片測試試驗箱產(chǎn)品測試 470 0
在測試準備階段，需要對測試環(huán)境、測試數(shù)據(jù)和測試設(shè)備進行準備。同時需要對測試方案進行評估和修訂，以確保測試方案的合理性和可行性。此外，還需要確定測試的目標...
芯片測試的主要目的是確保芯片的質(zhì)量和可靠性，以及驗證芯片的設(shè)計是否符合規(guī)范和要求。具體來說，測試可以檢測出芯片中的故障，并及時修復(fù)它們，以保證產(chǎn)品的一致...
2024-05-08 標簽：芯片測試 1591 0
主要關(guān)注芯片本身及其所具備的電路功能、電氣特性參數(shù)等。芯片是一種微型電子器件或部件，通過集成電路工藝將所需的元件及布線互連在一起，制作在半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上。
主要關(guān)注芯片本身及其所具備的電路功能、電氣特性參數(shù)等。芯片是一種微型電子器件或部件，通過集成電路工藝將所需的元件及布線互連在一起，制作在半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上。
這是芯片在設(shè)計過程中的一個環(huán)節(jié)，主要通過EDA（電子設(shè)計自動化）工具進行仿真檢驗。它的主要目的是在芯片生產(chǎn)之前，驗證芯片設(shè)計是否符合預(yù)定的需求規(guī)格，是否...
在開始量產(chǎn)之前，芯片設(shè)計師會進行設(shè)計驗證，以確保芯片的設(shè)計滿足規(guī)格要求。這包括功能驗證、時序驗證和電氣驗證等，確保芯片在理論設(shè)計上沒有問題。
半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié)：芯片測試
CP（Chip Probing）測試也叫晶圓測試(wafer test)，也就是在芯片未封裝之前對wafer進行測試，這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...
2024-04-20 標簽：測試系統(tǒng)芯片測試測試機 1863 0
為什么要進行芯片測試?芯片測試在什么環(huán)節(jié)進行?
WAT需要標注出測試未通過的裸片（die），只需要封裝測試通過的die。 FT是測試已經(jīng)封裝好的芯片（chip），不合格品檢出。WAT和FT很多項...
集成電路芯片是由半導(dǎo)體材料制成的片狀電子元件，上面集成了多種電子器件和電路結(jié)構(gòu)。
SOC ( System on Chip）是在同一塊芯片中集成了CPU、各種存儲器、總線系統(tǒng)、專用模塊以及多種l/O接口的系統(tǒng)級超大規(guī)模集成電路。 ...
半導(dǎo)體測試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺、分選機。其中測試功能由測試機實現(xiàn)，而探針臺和分選機實現(xiàn)的則是機械功能，將被測晶圓/芯片揀選至測試機進行檢測。
芯片導(dǎo)通電阻是什么？如何用ATECLOUD-IC測試系統(tǒng)測試？
導(dǎo)通電阻測試就是用來檢測導(dǎo)線或連線情況是否正常的一種方法，是指兩個導(dǎo)體間在一定電壓下通過的電流所引起的電壓降之比，通俗的說就是導(dǎo)線通電后的電阻值。芯片引...
2023-09-28 標簽：導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)芯片測試 2225 0
在芯片眾多特殊的引腳中，EN引腳無疑是最為重要的一個。EN引腳又稱使能引腳(Enable pins)，不同的芯片對其稱呼也有所不同，如EA、RUN等，它...
2023-09-27 標簽：測試系統(tǒng)芯片測試電源芯片 1491 0
換一批
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語言教程專題
| 電機控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
| BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
| 無刷電機 | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
| 直流電機 | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
| 步進電機 | SPWM | 充電樁 | IPM | 機器視覺 | 無人機 | 三菱電機 | ST |
| 伺服電機 | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國民技術(shù) | Microchip |
| Arduino | BeagleBone | 樹莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
| 示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
| OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
| C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
| Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
| DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |
關(guān)注我們的微信
下載發(fā)燒友APP
電子發(fā)燒友觀察
版權(quán)所有 ? 湖南華秋數(shù)字科技有限公司
長沙市望城經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)航空路6號手機智能終端產(chǎn)業(yè)園2號廠房3層（0731-88081133）
電子發(fā)燒友 （電路圖） 湘公網(wǎng)安備43011202000918
工商網(wǎng)監(jiān)
湘ICP備2023018690號-1
