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標簽 > 芯片測試
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隨后,江波龍在2023年12月22日向廣東高院提交了《上訴狀》,要求維持一審判決中的第一項,但請求取消一審判決中的第二和第三項,并改判盧浩、趙迎和晶存公...
據(jù)悉,近日,江波龍收到深圳中院出具的(2020)粵03民初3333號《民事判決書》。深圳中院認為,深圳晶存科技有限公司未經(jīng)過允許就在LPDDR3芯片測試...
長鑫存儲”半導體芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)“專利獲授權(quán)
根據(jù)專利摘要,該公開提供屬于半導體制造技術(shù)領(lǐng)域的半導體芯片測試方法、裝置、裝置及存儲介質(zhì)。該方法對半導體芯片進行直流應力試驗,得出直流應力試驗結(jié)果,直流...
半導體股推動日經(jīng)指數(shù)達年內(nèi)最高點 英偉達是幕后推手
芯片測試設備企業(yè)advanced測試的股價在盤中一度上漲了8%。日本最大的芯片制造設備供應企業(yè)東京電子和advanced test上升了170點以上。
芯片檢測是芯片設計、生產(chǎn)、制造成過程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),檢測芯片的質(zhì)量、性能、功能等,以滿足設計要求和市場需求,確保芯片可以長期穩(wěn)定運行。芯片測試內(nèi)容眾多,檢...
電壓檢測芯片是一種常見的集成電路芯片,用來監(jiān)測電路中的電壓變化,防止電路受到過電壓和欠電壓的損壞。電源電壓檢測芯片被廣泛應用于各種電子設備中,比如手機、...
電學測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié),用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
凝聚技術(shù)力量 共建測試生態(tài) ——集成電路測試技術(shù)交流日成功舉辦
10月18日下午,凝聚技術(shù)力量,共建測試生態(tài)?——集成電路測試技術(shù)交流會在上海成功舉辦。來自全國各地知名專家學者、技術(shù)大咖及企業(yè)代表齊聚一堂,共同探討封...
半導體封測供應鏈傳出從10月開始,手機系統(tǒng)大廠終于開始有明顯的庫存回補動作,鎖定如聯(lián)發(fā)科等一線手機SoC從業(yè)者的「舊款芯片」備貨。
芯片老化測試的目的是為了評估芯片長期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測試的內(nèi)容及注意事項,今天...
2023-10-16 標簽:測試系統(tǒng)芯片測試 843 0
電子元器件測試軟件助力可靠性測試,保證器件性能和質(zhì)量
電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個重要測試項目,同時也是電子設備可靠性的基礎。常見的可靠性測試項目有機械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測...
ESD靜電放電在芯片實際使用過程中越來越影響到芯片的可靠性,是影響芯片質(zhì)量和性能的重要因素之一。因此,ESD抗干擾測試是非常重要的,防止ESD對芯片造成損壞。
芯片靜態(tài)功耗是什么?如何產(chǎn)生?ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)如何測試?
在芯片的眾多測試項目中芯片的功耗測試可謂重中之重,因為芯片的功耗不僅關(guān)系著芯片的整體工作性能也對芯片的效率有著非常重大的影響。ATECLOUD-IC芯片...
芯片測試工具之ATECLOUD-IC系統(tǒng)如何測試電源芯片的穩(wěn)壓反饋?
電源芯片穩(wěn)壓反饋的測試需要一臺多通道直流電源和一臺數(shù)字萬用表,測試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流,保證芯片正常啟動,之后只需要...
ATECLOUD芯片測試系統(tǒng)如何對芯片靜態(tài)功耗進行測試?
靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流,是指芯片在靜止狀態(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗是衡量芯片功耗與效率地重要指標。
ATECLOUD芯片測試設備測試電源芯片持續(xù)電流的方法
連續(xù)電流(持續(xù)電流)是指元器件在工作狀態(tài)下內(nèi)部電流持續(xù)流動的狀態(tài),一般都是用于對元器件允許連續(xù)通過電流限制的一種描述。比如電源芯片允許的持續(xù)電流,就表示...
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