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透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡)以被高壓加速后的高能電子束為入射光源，利用電子束與物質的相互作用，對物質的微結構進行成像與分析的一種儀器。
位錯是晶體原子排列的一種特殊組態。位錯的概念最早是在研究晶體滑移過程時提出來的。當金屬晶體受力發生塑性變形時，一般是通過滑移過程進行的，即晶體中相鄰兩部...
透射電子顯微鏡（TEM）具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力，可用于先進半導體技術中亞納米尺寸器件特征的計量和材料表征，比如評估界面細節、器件結...
透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣，這兩種像分別為不同電子成像，前者是透射電子成像，后者為散射電子成像。
隨著鋰離子電池能量密度的提高，傳統的“含鋰氧化物/石墨”電池結構已經難以滿足高比能量鋰離子電池的需求。
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子...
季豐電子HITACHI HF5000功能豐富，借助超高的分辨率和獨特的探頭設計，可滿足客戶大多數極限應用需求，比如高分辨單原子像、輕元素成像、表面納米級...
最近收到老師同學們的許多問題，其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位錯、混合位錯)”。在此，為了能快速理解并分析，我整理...
18R-LPSO 相主要存在于鑄態鎂稀土合金中，普遍認可其化學式為 Mg10YZn 或Mg29Y4Zn3 相，原子堆垛順序為 ACACBABABACBC...
鈉離子電池（NIB）資源豐富、成本低廉，可以作為鋰離子電池的有益補充。然而，Na+（1.02 ?）的半徑比 Li+（0.76 ?）大，容易導致電極材料在...
隨著材料科技的發展，需要更細致地觀察研究材料的微觀物理化學結構特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數的顯微分析方法，是觀察...
在外電場下(圖2)，通過疇壁的移動實現了通量閉合核的橫向移動，極化方向與外電場一致的c疇逐漸變大，而極化方向與外電場方向相反的c疇逐漸減小至消失，伴隨著...
電子束穿透固體樣品的能力主要取決于加速電壓，樣品厚度以及物質的原子序數。一般來說，加速電壓愈高，原子序數愈低，電子束可穿透樣品厚度就愈大。因此，通常情況...
隨著材料科技的發展，需要更細致地觀察研究材料的微觀物理化學結構特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數的顯微分析方法，是觀察...
在芯片制造領域，透射電鏡TEM技術發揮著至關重要的作用。通過TEM測試，科學家可以觀察芯片中晶體結構的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結構，從而深入了解...
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠對各種材質的導電和不導電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結構進行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附...
研究發現對鈾原子在GB的分布是由鈾-氧相互作用造成的。CRG和Yakub勢的這種優勢與之前的研究一致，這兩個勢給出了關于UO2中GBs能量的最佳結果。雖...
此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士、廣電計量半導體技術副經理劉辰作為講師。屆時，報名用戶不僅能免費參與課程，聽課期間還有超強的技術專家團隊為大...
蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學技術大學龔明教授進行了采訪，談了對于蔡司場發射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學技術大學工程與材料...
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