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上海伯東美國 inTEST 熱流儀車規級芯片,汽車芯片高低溫沖擊測試
不同于傳統消費電子產品, 車規芯片前期的開發及驗證期可能長達3年, 相關研發費用和時間成本高昂, 從而需要更快地響應不斷變化的車輛架構和嚴苛的產品上市時...
上海伯東美國 inTEST 熱流儀 MCU 芯片高低溫沖擊測試
上海伯東美國 inTEST 高低溫測試機可以快速提供需要的模擬環境溫度, 解決了因為環境受限的 MCU 芯片高低溫測試難題.微控制器 MCU 芯片廣泛應...
上海伯東美國inTEST 熱流儀光通信模塊, 光纖收發器高低溫測試應用
光通信器件在出廠前需要做元件級測試, 主要包括對光纖收發器內部關鍵器件在電工作的電性能測試, 失效分析, 可靠性評估等, 例如溫度循環測試 Therma...
2022-06-13 標簽:高低溫測試機 675 0
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