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標(biāo)簽 > ATE
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
在元器件的工藝流程中，根據(jù)工藝的需要，存在著各種需要測(cè)試的環(huán)節(jié)。目的是為了篩選殘次品，防止進(jìn)入下一道的工序，減少下一道工序中的冗余的制造費(fèi)用。這些環(huán)節(jié)需要通過各種物理參數(shù)來把握，這些參數(shù)可以是現(xiàn)實(shí)物理世界中的光，電，波，力學(xué)等各種參量，但是，目前大多數(shù)常見的是電子信號(hào)的居多。ATE設(shè)計(jì)工程師們要考慮的最多的，還是電子部分的參數(shù)比如，時(shí)間，相位，電壓電流，等等基本的物理參數(shù)。就是電子學(xué)所說的，信號(hào)處理。
一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程...
IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高...
OM3多模光纖（Multi-ModeFiber），屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm，包層直徑為125μm。具有低色散和激光優(yōu)化的性能特...
2024-08-30 標(biāo)簽：光纖ATE測(cè)試設(shè)備 246 0
如何選擇和應(yīng)用機(jī)電繼電器實(shí)現(xiàn)多功能且可靠的信號(hào)切換
作者：Bill Schweber 投稿人：DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 和安全設(shè)備等應(yīng)用越來...
DFT全稱為Design for Test，可測(cè)性設(shè)計(jì)。就是說我們?cè)O(shè)計(jì)好一個(gè)芯片后，在仿真時(shí)可能99%的用例都通過了，怎么保證流片出來的實(shí)際芯片也能正常工作呢？
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能，將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 標(biāo)簽：芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2061 0
作為一名測(cè)試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。
聊聊IC測(cè)試機(jī)（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。
聊聊IC測(cè)試機(jī)（3）基于ATE的IC測(cè)試原理、方法及故障分析
本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測(cè)試的基本原理和測(cè)試方法，并進(jìn)行了故 障分析.
聊聊IC測(cè)試機(jī)（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE(Auto Test Equipment) 在測(cè)試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hào)是否是...
類別：IC datasheet pdf 2023-09-08 標(biāo)簽：寄存器dacATE
類別：測(cè)試測(cè)量 2021-06-17 標(biāo)簽：集成電路測(cè)試ATE
N6700模塊化電力系統(tǒng)開發(fā)改進(jìn)的ATE系統(tǒng)英文原版資料免費(fèi)下載立即下載
類別：電源技術(shù) 2018-12-12 標(biāo)簽：傳感器電力系統(tǒng)ATE
針對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的配電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)立即下載
類別：課件下載 2016-01-07 標(biāo)簽：ATE配電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)
ATS_自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)_及ATE技術(shù)_李行善立即下載
類別：測(cè)試測(cè)量 2013-04-25 標(biāo)簽：自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATSATE
基于1641的面向信息模型ATE應(yīng)用解決方案立即下載
類別：測(cè)試測(cè)量 2012-10-24 標(biāo)簽：自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATE
為什么電源適配器制造商需要ATE測(cè)試系統(tǒng)？
電子產(chǎn)品日益普及，電源適配器作為其不可或缺的能源供應(yīng)部件，其質(zhì)量直接關(guān)系到電子產(chǎn)品的性能和安全性。因此，電源適配器的生產(chǎn)過程中，ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）測(cè)...
2024-12-20 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)電源適配器ATE 31 0
兼容SiTime，國產(chǎn)可編程硅振用于智能化測(cè)試設(shè)備ATE中
兼容SiTime，國產(chǎn)可編程硅振用于智能化測(cè)試設(shè)備ATE中
2024-10-30 標(biāo)簽：ATE測(cè)試設(shè)備國芯思辰 98 0
ATE測(cè)試系統(tǒng)集成設(shè)備：電子測(cè)量領(lǐng)域自動(dòng)化測(cè)試的核心
西安天宇微納作為專業(yè)的ate測(cè)試系統(tǒng)集成公司，在電子測(cè)試測(cè)量行業(yè)深耕16年，積累了豐富的業(yè)務(wù)經(jīng)驗(yàn)，既擁有專業(yè)的軟件開發(fā)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，也擁有精通測(cè)試儀器與業(yè)務(wù)...
2024-09-20 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)ATE 299 0
一套電源ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何完成多型號(hào)電源模塊測(cè)試？
在使用NSAT-8000電源ATE測(cè)試系統(tǒng)后，鑒于不同型號(hào)的VPX電源生產(chǎn)工藝、參數(shù)有所不同，工程師可根據(jù)電源型號(hào)搭建相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目和方案，一套系統(tǒng)便完...
2024-09-18 標(biāo)簽：ATE電源測(cè)試系統(tǒng) 243 0
電源模塊測(cè)試系統(tǒng)ATE的數(shù)據(jù)報(bào)告與數(shù)據(jù)分析功能
電源測(cè)試數(shù)據(jù)收集與分析軟件是電源測(cè)試領(lǐng)域中的重要工具，幫助用戶高效收集電源模塊測(cè)試數(shù)據(jù)，并分析電源測(cè)試指標(biāo)，從而評(píng)估電源模塊質(zhì)量，是電源測(cè)試過程中的利器...
2024-09-10 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)電源模塊ATE 346 0
電源ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的定制化測(cè)試柜
納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化內(nèi)嵌式框架結(jié)構(gòu)，將測(cè)試設(shè)備與測(cè)試PC集成在電源測(cè)試柜中。該測(cè)試柜是標(biāo)準(zhǔn)36U自動(dòng)化測(cè)試柜，后門和左右側(cè)門可開啟，確保了...
2024-08-26 標(biāo)簽：電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATE 405 0
ATE新能源汽車充電樁自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
新能源汽車的快速發(fā)展，推動(dòng)了充電基礎(chǔ)設(shè)施的建設(shè)，而充電樁作為這一基礎(chǔ)設(shè)施的重要組成部分，其性能直接關(guān)系到用戶的充電體驗(yàn)和車輛的使用安全。因此，ATE新能...
2024-08-26 標(biāo)簽：新能源汽車自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATE 482 0
POL 負(fù)載點(diǎn) 電源特點(diǎn)以及ate檢測(cè)系統(tǒng)知識(shí)分享
在電子設(shè)備的電源設(shè)計(jì)中，POL電源（負(fù)載點(diǎn)）正逐漸成為核心焦點(diǎn)，本文納米軟件將為大家介紹負(fù)載點(diǎn)電源的作用和特點(diǎn)，以及助力POL電源測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試軟件—...
2024-08-06 標(biāo)簽：負(fù)載點(diǎn)ATEPOL 420 0
納米軟件ATECLOUD集成測(cè)試設(shè)備的功能與特點(diǎn)
ATE測(cè)試設(shè)備的未來發(fā)展?jié)摿薮螅鼘⒗^續(xù)在電子測(cè)試領(lǐng)域扮演關(guān)鍵角色。納米軟件將不斷探索和升級(jí)ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)，在自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域進(jìn)一步發(fā)展。
ate測(cè)試設(shè)備：ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)的應(yīng)用介紹
隨著手動(dòng)測(cè)試以及傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)逐漸無法滿足目前市場(chǎng)上的測(cè)試要求，全新的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)逐漸興起，ATECLOUD作為一款智能自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，為全面檢測(cè)...
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