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JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯合測試行為組織）”的詞頭字母的簡寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發起制訂的PCB 和IC 測試標準。
JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯合測試行為組織）”的詞頭字母的簡寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發起制訂的PCB 和IC 測試標準。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結構標準。該標準規定了進行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后，IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標準作了補充，形成了現在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應用于：電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統編程。
JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯合測試行為組織）”的詞頭字母的簡寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發起制訂的PCB 和IC 測試標準。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結構標準。該標準規定了進行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后，IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標準作了補充，形成了現在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應用于：電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統編程。
JTAG也是一種國際標準測試協議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內部測試。現今多數的高級器件都支持JTAG協議，如DSP、FPGA、ARM、部分單片機器件等。標準的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。 相關JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數據輸入，數據通過TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測試數據輸出，數據通過TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設置JTAG接口處于某種特定的測試模式；TRST為測試復位，輸入引腳，低電平有效。GND
TI還定義了一種叫SBW-JTAG的接口，用來在引腳較少的芯片上通過最少的利用引腳實現JTAG接口，它只有兩條線，SBWTCK，SBWTDIO。實際使用時一般通過四條線連接，VCC，SBWTCK，SBWTDIO，GND，這樣就可以很方便的實現連接，又不會占用大量引腳。
JTAG最初是用來對芯片進行測試的，基本原理是在器件內部定義一個TAP（Test Access Port測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在一起，形成一個JTAG鏈，能實現對各個器件分別測試。現今，JTAG接口還常用于實現ISP（In-System Programmable;在線編程），對FLASH等器件進行編程。
JTAG編程方式是在線編程，傳統生產流程中先對芯片進行預編程后再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進度。JTAG接口可對DSP芯片內部的所有部件進行編程。
在硬件結構上，JTAG 接口包括兩部分：JTAG 端口和控制器。與JTAG 接口兼容的器件可以是微處理器（MPU）、微控制器（MCU）、PLD、CPL、FPGA、DSP、ASIC 或其它符合IEEE1149.1 規范的芯片。IEEE1149.1 標準中規定對應于數字集成電路芯片的每個引腳都設有一個移位寄存單元，稱為邊界掃描單元BSC。它將JTAG 電路與內核邏輯電路聯系起來，同時隔離內核邏輯電路和芯片引腳。由集成電路的所有邊界掃描單元構成邊界掃描寄存器BSR。邊界掃描寄存器電路僅在進行JTAG 測試時有效，在集成電路正常工作時無效，不影響集成電路的功能。
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