什么是DFT？我們?yōu)槭裁葱枰緿FT可以永久的消除故障嗎？

如今，半導(dǎo)體是整個電子行業(yè)不斷發(fā)展的核心。新技術(shù)的發(fā)展，尤其是先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)，如7nm及以下工藝，使集成電路行業(yè)能夠跟上消費(fèi)者不斷增長的性能需求，也即摩爾...

2023-09-15 標(biāo)簽：電路控制器EDA工具 1.7萬 0

最佳DFT設(shè)計(jì)實(shí)踐的詳細(xì)過程解析

SoC子組件（IP）通常來自各種來源 - 內(nèi)部和外部 - 因此設(shè)計(jì)人員必須確保RTL是可測試的。如果RTL存在可測試性問題，則無法滿足測試覆蓋率目標(biāo)，并...

2019-08-09 標(biāo)簽：PCB打樣華強(qiáng)PCBDFT設(shè)計(jì) 7006 0

DFT設(shè)計(jì)—MBIST算法測試

當(dāng)SoC上有超過80%的芯片面積被各種形式的存儲器占用之時，存儲器的DFT測試已經(jīng)變得非常重要。

2023-12-09 標(biāo)簽：控制器DRAM存儲器 5000 0

如何對芯片進(jìn)行失效分析和診斷呢？

眾所周知，經(jīng)過一系列工藝制成的芯片，內(nèi)部是復(fù)雜多樣的，其電路中可能存在著很多制造上的缺陷，并且芯片產(chǎn)生故障的原因也是多樣的，可能是連線的短路或開路，摻雜...

2023-09-15 標(biāo)簽：仿真器PIN管DFT設(shè)計(jì) 3367 0

MBIST BAP的配置方法與時鐘連接結(jié)構(gòu)

BAP(BIST Access Port)，即內(nèi)建自測試訪問接口，主要用于In System Test，它要求芯片在已經(jīng)部署到產(chǎn)品中，甚至芯片正在運(yùn)行中...

2023-09-15 標(biāo)簽：控制器存儲器時鐘源 2595 0

可測性設(shè)計(jì)DFT-生產(chǎn)測試簡介

生產(chǎn)測試的目的是把好的物品和有瑕疵的物品分離出來，集成電路行業(yè)，測試的目標(biāo)是把功能正確的芯片和有瑕疵的芯片分離出來，保證客戶使用的是功能完整的芯片。

2023-09-15 標(biāo)簽：寄存器晶體管DFT設(shè)計(jì) 2229 0

典型的DRC案例介紹

在進(jìn)行DFT Logic的設(shè)計(jì)和插入之前，DFT工程師會先使用EDA工具對原Design執(zhí)行DRC（Design Rule Checking），即設(shè)計(jì)規(guī)則檢查。

2023-09-15 標(biāo)簽：寄存器EDA工具DRC 1864 0

Formal Verify形式驗(yàn)證的流程概述

Formal Verify，即形式驗(yàn)證，主要思想是通過使用數(shù)學(xué)證明的方式來驗(yàn)證一個修改后的設(shè)計(jì)和它原始的設(shè)計(jì)，在功能上是否等價。

2023-09-15 標(biāo)簽：RTL形式驗(yàn)證SPEC 1185 0