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IC芯片（Integrated Circuit集成電路）是將大量的微電子元器件（晶體管、電阻、電容等）形成的集成電路放在一塊塑基上，做成一塊芯片。而今幾乎所有看到的芯片，都可以叫做IC芯片
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芯片老化試驗是一種對芯片進行長時間運行和負載測試的方法，以模擬芯片在實際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負載情況下...
耐壓80V10A降壓恒流PWM調光驅動IC芯片FP7130,調光深度可達0.01%
FP7130是一款高效的降壓控制器，可用于為6V至80V輸入的高亮度LED提供電源。它采用一種高端檢測遲滯型控制結構，通過外部反饋精確節LED電流。通過...
IC芯片引腳封膠用什么好？IC芯片引腳封膠的選擇需要考慮多個因素，包括芯片的類型、工作環境、性能要求以及封裝工藝等。以下是一些常見的芯片引腳封膠材料及其...
在當今高度信息化的社會中，集成電路（IC）芯片作為電子設備的核心部件，其質量和可靠性對于整個電子產品的性能和使用壽命具有至關重要的影響。因此，對IC芯片...
芯片開封（Decap），也被稱為開蓋或開帽，是指對完整封裝的IC芯片進行局部腐蝕處理，以暴露出芯片內部結構，同時確保芯片的各項功能不受損。
CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor， 互補金屬氧化物半導體）工藝技術是當今集成電路制造的主流技術，...
在19世紀末期，消費類產品包括照明、加熱、電話和電報等一些簡單的電路。但是無線電的發明和對于能夠整流和放大信號的電器元件的需求推動了真空管的發明。
IC芯片，全稱集成電路芯片，是一種將多個電子元件（如晶體管、電阻、電容等）集成到同一塊半導體芯片上的電子器件。
探針測試臺是一種用于測試集成電路（IC）的設備，工作原理是將待測試的IC芯片安裝在測試座上，然后通過探針接觸到芯片的引腳，以測試芯片的功能和性能。在測試...
電源管理IC是電子系統中非常重要的組成部分，它們負責管理電源供應、功率輸出、電源濾波和電壓調節等功能。隨著越來越多的人依賴電子設備，對電源管理芯片的需求...
IC芯片損壞后，最常見的問題是其功能異常，芯片無法正常工作。芯片功能異常的表現可能有多種，例如系統無法啟動、設備失靈、通信故障等等。
前一陣子，一位小伙伴咨詢我一款新IC芯片怎么使用，借此機會我順便把我日常工作中經常用到的一種調試方法介紹給小伙伴們，希望對對大家有所幫助。準備倉促，文中...
點陣屏：LED點陣屏由多個LED發光二極管組成，通過控制LED亮滅來顯示文字、圖片、動畫、視頻等，被廣泛應用于公共場合做信息展示，如廣告屏、公告牌等。
如果電子器件遭到破壞，且如果能發現燒灼痕跡等明顯的故障癥狀，則通常需要分析硅芯或電子元件。通過此類檢查，應該能夠找出破壞事件的根本原因。最后應總結出損壞...
據估計我國集成電路的年消費將達到932億美圓，約占世界市場的20%，其中的30%將用于電子封裝，則年產值將達幾千億人民幣，現在每年全國大約需要180億片...
BGA芯片封裝（Ball Grid Array）和IC芯片封裝（Integrated Circuit）是兩種常見的芯片封裝技術。
PCBA電子產品焊接導入無鉛制程后，由于無鉛焊料的特性，如熔點高、潤濕性差、工藝窗口窄等，焊接過程出現了無鉛焊接特有的缺陷及不良，如錫珠、焊點粗糙、漏焊...
輸出和接地之間的電位差異電流從輸出通過下部MOS向下移動到接地。電感利用存儲磁場中的能量在 ΔVO和 ΔVB之間建立電勢差，試圖抵抗磁場的變化。
當兩個輸入端同時輸入理想的共模信號時，即相當于將Vi1和Vi2短接并同時接到輸入電壓Vs，其re模型小信號交流等效電路如下圖所示
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