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標(biāo)簽 > jtag接口
JTAG接口(Joint Test Action Group,聯(lián)合測(cè)試工作組),是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試。現(xiàn)在多數(shù)的高級(jí)器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。
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基于先楫HPM5300 RISC-V內(nèi)核MCU的HPM5361EVK開(kāi)發(fā)板測(cè)評(píng)效果(二)
HPM5361EVK是基于先楫HPM5300系列高性能RISC-V內(nèi)核MCU的一款開(kāi)發(fā)板。
淺析FPGA的調(diào)試-內(nèi)嵌邏輯分析儀(SignalTap)原理及實(shí)例
對(duì)于FPGA調(diào)試,主要以Intel FPGA為例,在win10 Quartus ii 17.0環(huán)境下進(jìn)行仿真和調(diào)試,開(kāi)發(fā)板類型EP4CE15F17。
2024-01-12 標(biāo)簽:FPGA設(shè)計(jì)寄存器狀態(tài)機(jī) 2625 0
嵌入式C開(kāi)發(fā)中的JTAG接口定義及主要特點(diǎn)
JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)是測(cè)試和調(diào)試集成電路的標(biāo)準(zhǔn),廣泛用于嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)。
JTAG和SWD的特點(diǎn)、優(yōu)劣勢(shì)以及適用場(chǎng)景比較
嵌入式系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)和調(diào)試是一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù),需要強(qiáng)大的工具和接口來(lái)確保硬件和軟件的正確性。
FPGA學(xué)習(xí)之vivado邏輯分析儀的使用
其中待測(cè)設(shè)計(jì)就是我們整個(gè)的邏輯設(shè)計(jì)模塊,在線邏輯分析儀也同樣是在FPGA設(shè)計(jì)中。通過(guò)一個(gè)或多個(gè)探針來(lái)采集希望觀察的信號(hào)。然后通過(guò)JTAG接口,將捕獲到的...
2023-07-25 標(biāo)簽:fpga邏輯分析儀邏輯設(shè)計(jì) 1067 0
在之前的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)時(shí),利用modelsim得出中間某單元的數(shù)據(jù),并且輸入也是設(shè)計(jì)者在testbench中自己給出的。
2023-07-18 標(biāo)簽:FPGA設(shè)計(jì)存儲(chǔ)器RTL 910 0
對(duì)于點(diǎn)到點(diǎn)拓?fù)湮覀冎恍枰⒁膺x擇合適的匹配方式,并優(yōu)化好整個(gè)channel的阻抗即可,但是當(dāng)一個(gè)網(wǎng)絡(luò)上的器件超過(guò)兩個(gè)時(shí),信號(hào)可以選擇的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)就會(huì)變得非...
2023-06-15 標(biāo)簽:驅(qū)動(dòng)器DDRPCB設(shè)計(jì) 1.9萬(wàn) 0
MBIST邏輯的復(fù)位信號(hào)怎么來(lái)的?
jtag端口的復(fù)位信號(hào)jtag_trst用于復(fù)位TAP狀態(tài)機(jī)模塊,該復(fù)位信號(hào)可選。
2023-05-25 標(biāo)簽:狀態(tài)機(jī)jtag接口復(fù)位信號(hào) 1007 0
對(duì)HPM6750的這幾種調(diào)試方式展開(kāi)介紹
HPM6750支持jlink、dap和ft2232等多種調(diào)試方式,本文將對(duì)這幾種調(diào)試方式展開(kāi)介紹,方便大家靈活選用不同的調(diào)試方式。
JTAG是Joint Test Action Group的縮寫(xiě),是IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)。使用JTAG的優(yōu)點(diǎn):JTAG的建立使得集成電路固定在PCB...
ADV202和ADV212在功能上是相同的,只是ADV212具有用于邊界掃描描述語(yǔ)言(BSDL)的附加JTAG接口。 ADV212的功耗比ADV202低...
JTAG接口如何轉(zhuǎn)SWD接口_JTAG接口轉(zhuǎn)SWD接口方法
本文為大家介紹JTAG接口轉(zhuǎn)SWD接口方法,利用此轉(zhuǎn)換方式,可以簡(jiǎn)化板載調(diào)試接口(相應(yīng)單片機(jī)應(yīng)支持SWD調(diào)試)。
JTAG(JointTestActionGroup,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議,主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試及對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行仿真、調(diào)試,JTAG技術(shù)是...
TAG(JointTestActionGroup;聯(lián)合測(cè)試工作組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試。
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