功率放大器（ PA， Power Amplifier） ， 是各種無線發射機的重要組成部分， 是射頻前端最主要的器件之一。將調制振蕩電路所產生的射頻信號功率放大， 以輸出到天線上輻射出去。PA的性能直接決定了無線終端的通訊距離、 信號質量和待機時間， 也是射頻前端功耗最大的器件。

　　根據QYR Electronics Research 數據， 2011-2018 年， 全球射頻功率放大器的市場規模從25.33億美元增長至31.05億美元， 年均復合增長率2.95%；預計至2023年， 市場規模將達35.71億美元。PA市場整體增速較其他射頻前端芯片增速低， 主要是因為高端4G和5G PA市場將保持增長， 但是2G/3G PA市場將會逐步衰退。2020~2025年全球手機射頻前端將從185億增長到258億美元，CAGR +7%，5G是最主要驅動力：1） 5G（Sub 6GHz）：四大技術驅動ASP從4G的$17增長到$25；2）毫米波：新增ASP $18的AiP天線模組。除此之外。WiFi6亦驅動手機WiFi射頻器件市場規模從2020年$25億增長到$34億。模塊化：5G加速射頻前端模塊化，但在成本與性能的權衡下，未來幾年中低端機依然會采用大量分立器件，模組與分立器件市場規模皆有增長。

　　圖1，射頻前端是智能手機里的核心器件之一，主要由四大模塊組成：功率放大器（PA）、開關、濾波器和低噪聲放大器（LNA）

近幾十年來，無線通信技術的飛速發展，射頻和微波電路不僅促使軍事領域大步邁向現代化，更在諸多領域都得到了廣泛的應用，極大程度地提高了人們的生活水平，可以說它已經成為我們工作和生活中不可或缺的工具。在所有射頻和微波系統中幾乎都要用到放大器，放大器也是通信、雷達和衛星轉發系統中必不可少的單元，因此應用非常廣泛。通信系統的關鍵組成部分包含信號收發機，其中功率放大器（以下簡稱PA）作為發射機鏈路中的重要模塊，其作用是：將前端產生的微弱信號進行功率放大，使之獲得足夠高的功率后饋送到天線上輻射出去，從而有一個更遠的傳輸距離。因此，PA性能的好壞直接影響發射機整體的工作質量，十分關鍵。

　　通過使用全自動探針臺及測試儀表對生產中的PA芯片進行射頻電參數測量和提取，可以利用智能的測試分析軟件系統直接反映出產品在制造過程中是否符合工藝要求，以及存在哪些質量問題。

? 列舉了 GaN 射頻器件典型的測試性能功率放大器（PA）的常需要測試的項目如下：

　　1，直流特性：柵極開啟電壓、靜態工作點、漏極擊穿電壓

　　2，射頻性能：S參數、輸出功率、增益、效率互調、噪聲系數3，系統級指標：調制信號下的ACPR和EVM

　　4，ATE測試：DC、RF、EVM等

　　5，PA器件的缺陷測試：柵極遲、動態電阻和電流崩塌。

　　GBITEST 提供了完整的PA全自動測試方案

　　致力于解決功放測試中的挑戰和難題

　　易捷測試功放（PA）芯片全自動測試系統通過軟件控制矢量網絡分析儀、函數信號發生器、高精度數字萬用 表、電流夾、推放等儀器、全自動/半自動探針臺及相應的硬件改造，實現晶 圓級的PA射頻RF參數測試及相關表征。

　　用MPI TS2000-SE 探針臺的部分測試結果

　　在片測試的最大挑戰有幾個方面：

　　如何保證探針端面的S參數、功率校準精度

　　如何實現盡可能少的壓針完成全部參數的測量。

　　PA芯片的尺寸越來越小，普通的測試夾具已經無法滿足芯片的微米級探測

　　利用提供的探針座系統，可輕松搭載市面上已有的所有射頻探針及相應的校準片

　　PA芯片測試結果的優劣由整個測試系統決定，其中探針臺性能的好壞對于測試 結果起決定性影響。有別于傳統探針臺，面臨這些問題MPI TS2000-SE、TS2000-HP等探針臺可完美解決。

　　探針臺測試的校準通常會在同軸端面和探針端面分別進行S參數的校準，同時在同軸端面進行功率校準，通過兩級S參數校準得到的參數對探針端面的功率進行修正確保探針的功率精度。“單次連接，多次測量”可以通過基于PNA-X網分的基于多個通道的完整參數測試實現。

　　儀表系統的搭建（連續測試方式和脈沖測試方式）

　　GBITEST自主研發平臺化系統軟件通過 LAN、PXI及GPIB 線纜多種方式進行對測試儀表、探針臺及服務器的雙拓撲架構控制；該測試軟件真正意義上實現快速、簡潔的自動化PA晶圓級測試，并幫助工程師降低晶圓級測量系統操作的復雜性。同時結合多個FAB的工程師操作習慣優化UI，可以快速設定和執行測試計劃，提供出色的數據處理和顯示功能，以便分析測量數據。軟件還預留了可擴展接 口，為將來進行測試功能擴展提供了方便。

易捷測試（GBITEST）在片檢測平臺軟件示意圖

　　方案優勢總結 ：

　　1. PA全片自動測試方案可移植性高，兼容多種半自動、全自動探針臺、定制機臺， 可快速實現芯片測試、數據處理等功能；

　　2. 可按照客戶需求迅速搭建測試系統，縮短測試人員在選儀表上花費試錯的時間，及 資金浪費；

　　3. AOI智能化識別模塊，可實現測試時的PAD定位；

　　4. 可升級至預匹配后的模塊測試，減少人員干擾，提高一致性；

　　5. 靈活的MAP編輯功能，百萬級DIE的兼容性，多種BIN顏色可選，明文格式導出；

　　6. 自主開發的軟件平臺，無需二次購入第三方平臺軟件，減少經費投入。也無需擔心 進口軟件平臺未來限制等使用風險問題；

　　7. 可實現單個站點或多站點測試復用、數據堆疊等功能；

　　8. 優化后的軟件架構，同比借助于第三方平臺開發的大而全的軟件，將會更加穩定且 快速；

　　9. 該套系統方案在國內多名客戶端均使用，數量＞20套。10. 系統兼容性高，無需更換硬件可直接替換成非功放類芯片的全自動測試系統。