數(shù)碼產(chǎn)品中邏輯信號處理頻率越高，信號所需的上升沿越陡峭。對于半導體測試設備來說，波形品質特別重要。在測量被測器件(DUT)的過程中，測試信號通過某些繼電器到達DUT，但在到達前信號會衰減。 TLP3375和TLP3275將重點放在高頻信號的通過特性上，等效上升時間(ERT)分別大幅改進至40 ps 和 60 ps。此外，TLP3375 採用新開發(fā)的超小型USOP封裝，支援高密度封裝。
?
特徵
杰出的高頻通過特性
應用
半導體測試設備
測量設備
輪廓圖
?
?
高頻通過特性小型光繼電器:TLP3375,TLP3275
2012年03月14日 13:58 電子發(fā)燒友網(wǎng) 作者：灰色天空 用戶評論（0）
- 第 1 頁：高頻通過特性小型光繼電器:TLP3375,TLP3275
- 第 2 頁：電路實例
本文導航
非常好我支持^.^
(0) 0%
不好我反對
(0) 0%
相關閱讀：
- [電子說] 東芝推出用于半導體測試儀的高速光繼電器 2024-11-28
- [電子說] 東芝推出小型封裝車載光繼電器TLX9150M 2024-11-12
- [電子說] 東芝發(fā)布900V耐壓小型封裝車載光繼電器 2024-10-30
- [電子說] 高速光耦-高性價比國產(chǎn)光耦介紹及選型 2024-10-09
- [電子說] 淺析晶體管光耦產(chǎn)品 2024-09-19
- [電子說] 東芝發(fā)布高電壓車載光繼電器TLX9152M 2024-09-03
- [電源/新能源] 東芝為電動汽車BMS推出新款900 V輸出耐壓的車載光繼電器 2024-09-02
- [電子說] 探索光耦：光耦安全標準解讀——確保設備隔離與安全的重要規(guī)范 2024-08-30
( 發(fā)表人：灰色天空 )