在產業化生產的今天，測試程序的運行時間直接關系到測試的成本，一般芯片規模越大，所需測試的向量就越多，測試時間也越長。考慮到生產成本，芯片大量生產時，減少整個測試程序的運行時間是降低測試成本的關鍵（就當今許多最先進的集成電路而言，測試成本已占到總成本的30％ 一40％）。因此，這就需要優化測試程序，使其既有較高的故障覆蓋率，又能夠快速、高效地測試。優化測試程序時，減少測試時間在這方面將起到重大的作用。

　　優化直流參數測試程序

　　HiLEVEL公司的ETs77O測試系統每執行一次．set（執行）文件，就需調用一個．tn1（向量）文件。而調用．tⅡl文件所需的執行時間遠大于調用．set文件。這樣．仃n文件容量的大小直接影響測試程序的運行時間。因此在測試直流參數時，最好單獨調制一個測試向量，只供測試直流參數使用。此測試向量的容量越少越好，只要包含所測試管腳要求的狀態即可。這樣在調用向量文件時，可以節省時間。像82c51的功能測試有上萬條的測試向量而直流參數的測試向量只需要幾十條就可以完成全部直流參數測試（調用過萬條的向量文件需要522ms，而調用十條以內的向量文件則只需要90ms）。

　　在測試直流參數時，減少測試時間的主導思想就是將串行測試方法改為并行測試方法，同時測量多個管腳的直流參數要比逐一測試單個管腳的直流參數節省時間。以82C51電路為例，在測試其數據總線的輸出高電平時，八個管腳同時測試花費的時間為126ms，如果單獨測試每一個管腳，八個管腳全部測試完成大約需要4o0ms。但同時測量多個管腳的直流參數需要兩個條件：①每個測試管腳對應的測試通道都具有獨立的驅動測試能力；②合適的功能測試向量將這些管腳同時設置到一定的狀態。

　　ETS77O測試系統完全可以滿足條件①的要求，而條件②是對測試程序設計者提出的要求，需要在調試測試向量時，提前考慮到這一點。盡量使多個管腳可以停在同一狀態，82c5l測試直流參數的具體方法是將0地址寫全“0”數據，FF地址寫全“l”數據。這樣，在讀0地址數據時，數據總線的輸出狀態為全“O”，可以測試有關低電平的所有直流參數。在讀FF地址數據時，數據總線的輸出狀態為全“l”，可以測試有關高電平的所有直流參數。這樣在測試直流參數時，數據總線都停在同一狀態，可以同時完成對不同管腳的電參數的測試，而且測試向量只需幾條就可實現，這樣又可以減少調用．tn1文件的時間，一舉兩得。另外，在不同的測試系統上有不同的節約測試時間的方法。就目前正在使用的ETs77O測試系統，在測試直流參數時，還可以利用許多小細節來完善程序，減少測試時間，降低測試成本。如在測試漏電流和電源電流時，根據規范所要

　　求值的大小選擇合適的量程，即在測試程序中激活Rangs對話框，選擇合適的范圍。因為，測試系統在測試漏電流和電源電流時，如果不激活Rangs對話框，系統默認參考值與測量值相比較，以固定差值逐漸向測量值逼近，得出實測值。這樣很浪費時間，如果設定了量程，系統根據量程設定參考值與測量值相比較，以固定差值逐漸向測量值逼近，很快就可以得出實測值。如82c5l電路的輸入高電平電流標準要求應在±1O A，如果激活Rangs對話框，并選擇20 A這一擋，測試時花費的測試時間大約為2O9ms，而不激活Rangs對話框，直接測試則需要花費的測試時間約為1170ms。依此類推在測試輸人低電平電流和電源電流時同樣都激活Rangs對話框要比不激活Rangs對話框節省大量的測試時間。82C5l僅為28管腳的電路，對于上百管腳的電路而言，優化直流參數的測試程序，減少的測試時間更為明顯，有些電路測試程序經過優化后，測試時間僅為優化前的三分之一甚至更少。

　　優化交流參數測試程序

　　目前，普遍使用的交流測試方法主要有兩種：搜索法和功能驗證法。就兩種測試方法而言，各有優缺點。利用搜索法測試交流參數簡單易學，可以得到確定的參數值，但測試時間長，適合在芯片的研制過程中使用，了解器件的具體參數值，對設計和修改工藝參數提供參考。但在大規模生產過程中，整個流程都相對穩定可靠，就沒必要使用這種方法了。此時，功能驗證法就顯示出它的優點。功能驗證法并不是真正去i貝4試和顯示器件的交流參數，而是采用定時判別的方法來確定交流參數是否在合格范圍之內，可以理解為進行了一次具有定時精度的高速邏輯功能測試。這樣在功能測試的同時，就可以完成交流參數的測試，不必再逐一測試交流參數，減少了大量的測試時間，達到降低測試成本的目的。以27cl28—2O為例，講述測試交流參數的具體方法。27c128—2O讀操作的交流測試波形如圖1所示，參數如表l所示。

　　在編制功能測試程序時，按要求給出輸人、輸出值，測試頻率f=1MHz。地址輸入端采用NRz調制，延遲時間為1Ons。／cE、／OE采用R0ne調制，／cE的延遲時間為l0ns，而／OE 的延遲時間為135ns。數據輸出端的比較時間為2l0ns。在測試

　　時，／cE、／OE的測試向量一直為0，這樣經過調制的波形與上述波形一致。在測試系統上對其功能進行測試，若測試通過，則電路滿足參數手冊的要求，說明了所測值在合理范圍內。利用搜索法測試每一項參數的延遲時間大約需要534ms，而27c128—20讀操作的延遲時間就有3項，如果使用搜索法測試以上三項參數，就需要l6O2ms。而使用功能驗證法則完全省去這些測試時間。同樣寫操作的交流參數還有約l0項，如果同樣都使用功能驗證法，則可以省去大量的測試時間。但功能驗證法測試交流參數，要求測試編程人員相當熟悉器件的功能和各種參數要求及測試系統的測試原理，才能使功能測試與交流參數測試完美結合。

　　優化鏈接程序

　　ETS770測試系統在測試時，需要將每一個獨立的．set文件連接起來形成一套完整的測試程序。而將單獨的已調試通過的測試程序逐一鏈接時，也有一定的技巧。在鏈接時盡量將同一文件名的．tm文件鏈接到一起，這樣系統在前一級調用．tm文件后，如果文件名相同，則不用再重新調用此文件，而是直接默認前一級文件。默認上一級的．tHl文件測試向量有上萬條的也只需要47ms，而重新調用新的．tm文件即使是只有十條也需要90ms。

　　結束語

　　現代社會是個科技發展一日千里，生產日新月異的時代。集成電路還在按著摩爾定律的方式發展，整個測試程序的運行時間限制著測試成本，優化測試程序已成為迫在眉睫的問題。以上介紹的幾種優化測試程序的方法，如果能在測試程序中同時使用，可以減少大量的測試時間，降低測試成本。