隨著數字集成電路的廣泛應用，測試系統就顯得越來越重要。本文介紹了一種數字集成電路測試系統的工作原理、組成。提出了系統的軟硬件設計方案。

　　測試系統結構及工作原理

　　系統需要對集成電路進行功能測試和直流參數測試。功能測試通過向集成電路輸入端施加設定的測試向量，檢測并比較其輸出的測試向量，從而驗證器件的邏輯功能是否正常。直流參數測試是以電壓或電流的形式驗證集成電路的電氣參數，要保證較高的測試精度。

　　為了使系統結構靈活，便于升級，采用了基于總線的模塊化結構，其結構如圖1所示。系統由通道板、數控電源板（DPS板）、精密測量單元板（PMU板）、測試接口板、單片機系統板（CPU板）和總線板組成。各個板卡通過總線板進行數據連接和交換。DPS板給測試系統提供電源、電壓參考，給被測器件（DUT）提供工作電壓。測試接口板功能是給DUT提供測試接口，給器件上電。

　　在功能測試過程中，計算機把預先生成的測試向量送到單片機系統，單片機控制通道板把信號電平轉換為測試所需的電平，并把轉換后的時序波形施加到待測器件（DUT）的輸入管腳上，然后檢測DUT的輸出，把檢測結果通過總線傳到單片機進行判斷處理。直流參數測試過程是向DUT施加直流參數測試條件，通過PMU實現DUT直流參數的精密測量。

　　通道板

　　通道板功能有兩個，一是把測試碼合成最終的測試信號施加到DUT，另外的功能是對DUT的返回信號進行分析比較，將比較結果通過總線返回到單片機系統。通道板的結構設計如圖2所示。控制總線通過譯碼與邏輯控制單元設定并控制DUT管腳的地址，管腳驅動與控制單元驅動并控制繼電器陣列完成DUT管腳數據的輸入和輸出功能。VIH（VIL）是由DPS板設定產生的測試所需的高（低）驅動電平。總線發送由程序預先生成的測試向量，電平轉換與驅動單元把測試向量轉換為設定電平的測試時序波形，管腳驅動與控制單元控制繼電器陣列把波形施加到DUT的輸入管腳。管腳電平比較單元檢測輸出管腳信號電平，與預期輸出數據進行邏輯比較后把比較結果傳回下位機。在直流參數測試過程中，繼電器控制單元將測試接口板上的DUT連接到PMU，利用PMU模塊實現電壓或電流的精密測量。在通道板的電平轉換部分設計如圖3所示。電路在穩定后，在無信號輸入時，V1略高于V2，輸出為VIH；當TTL輸入為低電平時，由于電容電壓不能突變，使得V1低于V2，比較器翻轉，輸出為VIL；當TTL輸入為高電平時，同樣，V1略高于V2，輸出為VIH。由于電容充放電，輸出端電平不能長久保持在低電平，選取足夠大的電容可滿足本系統的測試需要

　　精密測量單元

　　精密測量單元（PMU）是系統精密測量直流參數的基本單元。系統采用12位A/D和D/A轉換器、分檔以及開爾文接法等手段來實現高精度測量。PMU可實現加壓測流（FVMI）和加流測壓（FIMV）兩種工作方式。其中PMU中加壓測流原理圖如圖3所示。Vin作為輸入，器件施加電壓Vp經測試接口板施加到DUT，通過測試Vout可得到到測試電流I。根據電路圖可以計算出：這樣，根據公式（1），通過控制Vin就可以向被測器件施加設定的電壓Vp，根據公式（2）可通過測試Vout來計算被測器件管腳上流過的電流I。

　　直流參數測試中，PMU可通過測試輸出端高/低電平、輸入端漏電流、輸出短路電流以及靜態功耗電流等來檢測器件的負載特性和靜態功耗。

　　為了使PMU具有足夠寬的測試范圍和測試精度，A3采用具有FET輸入級的高壓運放OPA445，接成跟隨器，使得流入A3的電流極小，保證了電流測試的精度，并且其高壓特性保證了PMU的測試范圍

　　軟件部分

　　軟件部分的作用是用計算機控制測試系統，并為用戶提供一個友好、易于操作的界面。下位機軟件用C51程序編寫，主程序流程圖如圖4所示。上位機采用VC#.net編寫。下位機軟件的主要工作是根據上位機傳送的測設參數設置系統電壓及測試條件，載入測試向量向DUT管腳發送輸入波形，然后測試輸出端波形數據，發送到上位機并存儲到數據庫。經過用戶的實際應用，證明該系統性價比高，測試準確