EMI干擾 :傳導是罪魁禍首
2012年11月07日 09:51 來源:電子發燒友 作者:灰色天空 我要評論(0)
圖 1 傳導性 EMI 信號的耦合介質
傳導性 EMI 干擾是開關電路正常工作與寄生電容和電感共同作用產生的結果。圖 1 顯示了一些會進入到您的 PCB 線跡中的 EMI 干擾源情況。Vemi1 源自開關網絡,例如:時鐘信號或者數字信號線跡等。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電容。這些信號將電流尖脈沖帶入鄰近 PCB 線跡。同樣,Vemi2 源自開關網絡,或者來自 PCB 上的某個天線。這些干擾源的耦合方式均為通過線跡之間的寄生電感。該信號將電壓擾動帶入鄰近 PCB 線跡。每三個 EMI 源來自于線纜內相鄰的導線。沿這些導線傳播的信號可產生串擾效應。
開關式電源產生 Vemi4。開關式電源產生的干擾駐存在電源線跡上,并以 Vemi4 信號的形式出現。
在正常運行期間,開關式電源 (SMPS) 電路為傳導性 EMI 的形成帶來機會。這些電源內的“開”和“關”切換操作,會產生較強的非連續性電流。這些非連續性電流存在于降壓轉換器的輸入端、升壓轉換器的輸出端,以及反激和降升壓拓撲結構的輸入和輸出端。開關動作引起的非連續性電流會產生電壓紋波,其通過 PCB 線跡傳播至系統的其它部分。SMPS 引起的輸入和/或輸出電壓紋波,會危害負載電路的運行。圖 2 顯示了工作在 2 MHz 下的一個 DC/DC 降壓 SMPS 輸入的頻率組成例子。SMPS 傳導干擾的基本頻率組成范圍為 90 – 100 MHz。
圖 2 DC/DC 降壓轉換器:開關頻率=2MHz
輸入和輸出針腳使用10 ?F濾波器時的傳導性EMI測量。
共有兩類傳導性干擾:差模干擾和共模干擾。差模干擾信號出現在電路輸入端之間,例如:信號和接地等。電流流經同相的兩個輸入端。但是,1號電流輸入大小與2號相等,但方向相反(差動參考)。這兩個輸入端的負載,形成一個隨電流強弱變化的電壓。線跡1和差分基準之間的這種電壓變化,在系統中形成干擾或者通信誤差。
在您向電路添加一個接地環路或者不良電流通路時,便出現共模干擾。如果存在某個干擾源,則線跡 1 和線跡 2 上形成共模電流和共模電壓,而接地環路充當一個共模干擾源。差模干擾和共模干擾都要求使用特殊的濾波器,來應對 EMI 干擾的不利影響。
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