3.4高阻值厚膜電阻中的爆裂噪聲

　　在本實驗中，我們發現了大多數高阻厚膜電阻含有明顯的爆裂噪聲，其典型時域波形和頻域功率譜密度如圖4.6和圖4.7所示：

　　厚膜電阻的結構比一般電阻更加復雜，其電阻體的材料分布不是均勻的，而是由許多導電顆粒分布在絕緣材料之中構成的，如圖4.8所示：

　　上圖中的灰色球體是導電顆粒，通常是釕系氧化物RU2O2上圖中黑色部分是絕緣介質，俗稱玻璃釉，通常是由氧化鉛和二氧化硅構成。由圖4.8可見，電阻中的導電顆粒被絕緣介質分離出來，彼此之間一般不會接觸。在制作電阻時，導電顆粒添加的越少，則電阻的阻值越大，這也是常用的一種調節電阻阻值的方式。

　　已有針對厚膜電阻的研究同樣在實驗中的一部分厚膜電阻中發現了爆裂噪聲厚膜電阻中爆裂噪聲的產生和電阻材料的構成有直接的關系。載流子在厚膜電阻中的輸運是通過導電顆粒與絕緣層構成的特殊網絡來實現的，同時載流子輸運機制是由厚膜電阻中導電顆粒之間的絕緣層來決定的，而非電阻體中的金屬氧化物顆粒，因為載流子在這些絕緣層形成的勢壘兩邊進行隧穿導電，勢壘決定時域爆裂噪聲中我們可以看到高阻厚膜電阻中的爆裂噪聲是一種二的高度了載流子的輸運。有研究者認為厚膜電阻中的爆裂噪聲是由釕系厚膜電阻中諸如氣泡，空洞之類的表面缺陷導致的，并且阻值一定的情況下，尺寸更小的厚膜電阻具有更大的爆裂噪聲，且厚膜電阻中的爆裂噪聲主要出現在材料中最高場強的區域。