動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-01-16 13:32

  一文讀懂半導體晶圓形貌厚度測量的意義與挑戰(zhàn)

  

  半導體晶圓形貌厚度測量是制造和研發(fā)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，涉及精確度和穩(wěn)定性。面臨納米級別測量挑戰(zhàn)，需要高精度設(shè)備和技術(shù)。反射、多層結(jié)構(gòu)等干擾因素影響測量準確性。中圖儀器推動測量技術(shù)發(fā)展，提高精度和速度，滿足不同材料和結(jié)構(gòu)需求。光學3D表面輪廓儀和臺階儀等設(shè)備助力測量，為半導體行業(yè)注入新活力。

  半導體晶圓 晶圓 測量

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• 發(fā)布了文章 2024-01-15 09:05

  激光共聚焦顯微鏡：材料表面粗糙度的救星

  

  激光共聚焦顯微鏡因其高分辨率、高靈敏度和高測量速度，成為材料表面粗糙度檢測的理想工具。它可解決傳統(tǒng)方法的局限，如對微小結(jié)構(gòu)或曲面表面的測量問題，并適用于多種材料。該顯微鏡能獲取三維形貌信息，為粗糙度評價提供全面數(shù)據(jù)支持。

  工業(yè)顯微鏡 顯微鏡 材料

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-12 11:39

  三坐標測量機中圖儀器

  

  產(chǎn)品型號：Mars系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-12 11:37

  白光干涉三維測量系統(tǒng)

  

  產(chǎn)品型號：SuperViewW1系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-12 11:35

  材料激光共聚焦顯微鏡

  

  產(chǎn)品型號：VT6000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-12 11:33

  便攜式光柵長度測量儀器

  

  產(chǎn)品型號：SJ5120 Smart 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-11 09:12

  國產(chǎn)機床激光干涉儀

  

  產(chǎn)品型號：SJ6000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-11 09:10

  中圖高精度光柵測長機品牌廠家

  

  產(chǎn)品型號：SJ5100系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-11 09:07

  國產(chǎn)臺階儀品牌廠家

  

  產(chǎn)品型號：CP200 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2024-01-11 09:02

  工業(yè)全自動影像測量儀

  

  產(chǎn)品型號：Novator432 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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