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發布了文章 2022-04-23 01:42
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發布了文章 2022-04-20 01:27
新品 | 1200V低阻值CoolSiC™ MOSFET產品
新品CoolSiC1200VSiCMOSFET低歐姆產品CoolSiC1200VSiCMOSFET低歐姆產品,采用TO247封裝,建立在最先進的溝槽柵半導體工藝上。經過優化,性能和可靠性均有進一步提高。封裝采用.XT互連技術,最新的CoolSiCMOSFET具有一流的熱耗散性能。產品規格:1200V,7mΩ、14mΩ和20mΩTO247封裝CoolSiC12938瀏覽量 -
發布了文章 2022-04-19 01:24
無磁芯變壓器(CT)隔離驅動芯片技術優勢及產品系列
在之前的技術文章中,介紹了驅動芯片的概覽,PN結隔離(JI)技術,SOI驅動芯片技術等非隔離的驅動技術,本文會繼續介紹英飛凌的無磁芯變壓器(CT)隔離驅動芯片技術。在隔離器件的技術上,有三種主流的隔離技術,分別是光隔離,電容隔離和變壓器隔離。顧名思義,其隔離的介質分別是光,電場信號和磁信號,隔離器件的使用及其廣泛,從輸入輸出接口,通訊端口,到功率器件的柵極驅1.5k瀏覽量 -
發布了文章 2022-04-16 01:38
IGBT驅動電流行為綜述
IGBT驅動需要電流:IGBT是一種電壓驅動的電子開關,正常情況下只要給15V電壓就可以飽和導通,實際器件的驅動是給柵極端口電容充放電,還是需要電流的。IGBT驅動電流峰值電流取決于柵極總電阻,電流取決于柵極電荷,但我們一般講的是峰值電流。驅動的峰值電流很好理解,按照歐姆定律,由驅動電壓和驅動電阻決定:但在小阻值驅動回路中,實際測得驅動電流一般比上述公式計算2.2k瀏覽量 -
發布了文章 2022-04-15 01:29
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發布了文章 2022-04-12 01:27
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發布了文章 2022-04-08 01:25
如何正確理解功率循環曲線
近年來IGBT的可靠性問題一直受到行業的廣泛關注,特別是風力發電、軌道交通等應用領域。IGBT的可靠性通常用以芯片結溫變化為衡量目標的功率循環曲線和基板溫度變化為衡量目標的溫度循環曲線來評估。引起IGBT可靠性問題的原因主要是IGBT是由多種膨脹系數不同的材料焊接在一起,工作過程中溫度的變化會引起結合點的老化,以及綁定線在工作過程中熱脹冷縮;另外綁定線的成分2k瀏覽量 -
發布了文章 2022-04-07 01:25
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發布了文章 2022-04-02 01:41
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發布了文章 2022-04-01 01:23