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中圖儀器

深圳市中圖儀器股份有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè),致力于全尺寸鏈精密測量儀器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

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納米測厚臺階儀 探針接觸式輪廓測量儀

型號: CP200
品牌: 中圖儀器(中圖儀器)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 注釋 如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

--- 產(chǎn)品詳情 ---

中圖儀器CP系列納米測厚臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級的分辨率,同時,其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術(shù),使得儀器具備超高的測量精度和測量重復(fù)性。

納米測厚臺階儀

 

CP系列納米測厚臺階儀測量臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)時,通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺移動樣品時掃描其表面,測針的垂直位移距離被轉(zhuǎn)換為與特征尺寸相匹配的電信號并最終轉(zhuǎn)換為數(shù)字點云信號,數(shù)據(jù)點云信號在分析軟件中呈現(xiàn)并使用不同的分析工具來獲取相應(yīng)的臺階高或粗糙度等有關(guān)表面質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

 

產(chǎn)品功能

1.參數(shù)測量功能

1)臺階高度:能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料;

2)粗糙度與波紋度:能夠測量樣品的粗糙度和波紋度,分析軟件通過計算掃描出的微觀輪廓曲線,可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余項參數(shù);

3)翹曲與形狀:能夠測量樣品表面的2D形狀或翹曲,如在半導(dǎo)體晶圓制造過程中,因多層沉積層結(jié)構(gòu)中層間不匹配所產(chǎn)生的翹曲或形狀變化,或者類似透鏡在內(nèi)的結(jié)構(gòu)高度和曲率半徑。

2.數(shù)采與分析系統(tǒng)

1)自定義測量模式:支持用戶以自定義輸入坐標位置或相對位移量的方式來設(shè)定掃描路徑的測量模式;

2)導(dǎo)航圖智能測量模式:支持用戶結(jié)合導(dǎo)航圖、標定數(shù)據(jù)、即時圖像以智能化生成移動命令方式來實現(xiàn)掃描的測量模式。

3)SPC統(tǒng)計分析:支持對不同種類被測件進行多種指標參數(shù)的分析,針對批量樣品的測量數(shù)據(jù)提供SPC圖表以統(tǒng)計數(shù)據(jù)的變化趨勢。

3.光學(xué)導(dǎo)航功能

配備了500W像素的彩色相機,可實時將探針掃描軌跡的形貌圖像傳輸?shù)杰浖酗@示,進行即時的高精度定位測量。

4.樣品空間姿態(tài)調(diào)節(jié)功能

CP系列納米測厚臺階儀配備了精密XY位移臺、360°電動旋轉(zhuǎn)平臺和電動升降Z軸,可對樣品的XYZ、角度等空間姿態(tài)進行調(diào)節(jié),提高測量精度及效率。

納米測厚臺階儀

 

CP系列臺階儀測量膜厚是利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。如針對測量ITO導(dǎo)電薄膜的應(yīng)用場景,CP200臺階儀提供如下便捷功能:

1)結(jié)合了360°旋轉(zhuǎn)臺的全電動載物臺,能夠快速定位到測量標志位;

2)對于批量樣件,提供自定義多區(qū)域測量功能,實現(xiàn)一鍵多點位測量;

3)提供SPC統(tǒng)計分析功能,直觀分析測量數(shù)值變化趨勢;

 

 

臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求,樣品適應(yīng)面廣,數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測量穩(wěn)定、便捷、高效,是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。

 

性能特點

1.亞埃級位移傳感器

具有亞埃級分辨率,結(jié)合單拱龍門式設(shè)計降低環(huán)境噪聲干擾,確保儀器具有良好的測量精度及重復(fù)性;

2.超微力恒力傳感器

1-50mg可調(diào),以適應(yīng)硬質(zhì)或軟質(zhì)樣品表面,采用超低慣量設(shè)計和微小電磁力控制,實現(xiàn)無接觸損傷的接觸式測量;

3.超平掃描平臺

系統(tǒng)配有超高直線度導(dǎo)軌,杜絕運動中的細微抖動,真實地還原掃描軌跡的輪廓起伏和樣件微觀形貌。

 

典型應(yīng)用

納米測厚臺階儀

 

部分技術(shù)指標

型號CP200
測量技術(shù)探針式表面輪廓測量技術(shù)
樣品觀察光學(xué)導(dǎo)航攝像頭:500萬像素高分辨率 彩色攝像機,FoV,2200*1700μm
探針傳感器
 
超低慣量,LVDC傳感器
平臺移動范圍X/Y

電動X/Y(150mm*150mm)(可手動校平)

單次掃描長度55mm
樣品厚度50mm
載物臺晶圓尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)
臺階高度重復(fù)性

5 ?, 量程為330μm時/ 10 ?, 量程為1mm時(測量1μm臺階高度,1δ)

尺寸(L×W×H)mm

640*626*534

重量40kg
儀器電源100-240 VAC,50/60 Hz,200W

使用環(huán)境

相對濕度:濕度 (無凝結(jié))30-40% RH

溫度:16-25℃ (每小時溫度變化小于2℃)

地面振動:6.35μm/s(1-100Hz)

音頻噪音:≤80dB

空氣層流:≤0.508 m/s(向下流動)

懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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