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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于電路板和電路模塊檢測，為半導體IC和 MEMS傳感器設計并制造自動測試設備，提供標準化產品和定制化服務方案

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SPEA DOT800T功率半導體測試設備

型號： DOT800T

--- 產品參數 ---

  • ISO測試 NTC和底板之間的絕緣測試
  • ISO測試 NTC和IGBT間的絕緣測試等
  • AC測試 Qrr – 反向恢復電荷等
  • 功率測試能力 可達 20kV，10kA

--- 產品詳情 ---

SPEA功率器件測試機

SPEA-功率器件測試機-DOT800T

功率半導體器件是實現電能轉換的核心器件，主要用途包括逆變、變頻等，在家用電器、新能源汽車、工業制造、通訊等領域有著廣泛的應用。小型化、集成化、大功率、低功耗是功率半導體的主要發展方向，這些趨勢也對自動化測試設備提出了更高的要求。SPEA長期深耕半導體測試行業，持續探索并突破核心檢測技術，公司出品的DOT800T功率半導體測試儀在檢測速度、精度、動態雜散電感等關鍵性能指標處于全球領先地位。

DOT800T 將一整套的功率測試解決方案整合到了單臺設備之中，提供了在全范圍功率應用中進行 ISO、AC、DC 測試所需的所有資源，從晶圓級到最終產品，均可輕松完成。

 

DOT800T 不但解決了傳統硅電子器件的測試要求，也解決了氮化鎵和氮化硅等新技術帶來的測試要求，覆蓋了這些產品的性能范圍，包括最高電壓和電流源，高頻低電流測量等需求。

 

單套測試平臺即可覆蓋全范圍功率應用

ISO測試資源

  • 高達 12kV/10mA DC
  • 高達 10kV/20mA AC
  • 高電壓安全開關（帶輸出矩陣）用于限制放電電流，確保測試儀在任何情況下都保證安全

 

AC測試資源

  • 高達 6kV，高達3kA
  • 電流短路測試，高達10kA
  • 最多 8 個可獨立編程的門驅動
  • 2 – 8 個多脈沖
  • 數字化儀的取樣率可達10GS/s 取樣率
  •  

 

DC測試資源

  • 中等功率V/I 資源（±100V、±2A，最高可達16A），配備 8 臺驅動和 8 個數字化儀，各自完全浮動和互相獨立
  • 高電壓發生器發生能力高達20kV
  • 高電流發生器可發生高達4kA 脈沖電流，配有自動斜坡發生器，可縮短測試時間

 

SPEA DOT800T功率半導體測試類型


 

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