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SPEA

SPEA成立于1976年,注于于電路板和電路模塊檢測,為半導體IC和 MEMS傳感器設計并制造自動測試設備,提供標準化產品和定制化服務方案

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SPEA 4060S2 飛針測試機

型號: 4060S2

--- 產品參數 ---

  • 測試機接口 576通道
  • 最小焊點尺寸 80um
  • xyz運動技術 線性電機

--- 產品詳情 ---

4060 S2  合并了雙面植針的優勢,可以做到使用更多其他工具,比如:固定探針、平面支撐、最小針床治具等。

 

雙面飛針

頂部4個底部2 個可移動測試頭使得4060 S2 能夠在雙 面同時植針。增加產出以及測試能力、減少測試時間、增加測試覆蓋率、一個程序可測試電路板的雙面.每個飛針探針能夠用于在線測試、上電測試、sink/電源模擬數字driver/sensor、在線燒錄、邊界掃描、預分頻器。

 

底部多針飛針頭

底部多針飛針頭。除了為電路測試的導電探針,兩個底部多針飛 針頭可以帶動高速上電探針,支撐桿,高分辨率相機,多探針, 激光/LED探針以及Electro scan 探針,涵蓋了最全面的測試需 求,動態的平面支撐使得薄板測試更加穩定,避免了電路板因為 行程引起的震動。

 

多模式植針

當頂部的4 針用于電路板頂部測試時,底部升降平 臺可用于針床治具,多個大電流電源,數字I/O,高速信號,平 面支撐。

 

適合大板和重板

最大的測試區域使得4060 S2可測尺寸為 1524 x 610mm的電路板,并且輸入軌道模塊使很重的電路板(例如,IC測 試機Loadboard,可達20公斤重量)輕松自動地傳送到測試區域。
 

高元件

4060 S2也能夠測試含變壓器,散熱器,連接器,擋板,極性電容以及其他高元件,高度可達110mm.禁飛區以及接觸 區可以自動定義,并且設備可以同時接觸不同高度的測試點。
 

背板

4060 S2 能測試裝有任何連接器的背板。設備可以在兩 面同時執行完整的連接測試,隔離測試,連接器的存在性以及極 性測試,接觸引腳的正確組裝以及機械檢查。


探測工具及測試能力

快速精準地植針于最小的元件

超高速軸

X-Y-Z軸都配置強勁的線性馬達,讓探針達速度進一步提升,沒有其他動力技術(比如絲桿和平面電機)能達到這種能力。
 

精準的微型PAD接觸

線性電機的運動精度通過安裝在每個軸上的線性光學編碼器來完美實現,能夠提供探針亞微米級分辨率定位的真實反饋。受益于這項技術,4060 S2 能夠植針在微型SMT元件,以及直接植 針在卡接觸器,或者公/母接觸器的引腳。例如在背板上

 

超快速軟著陸技術

使用正弦動力輪廓機理,探針以接近零動能的力落在電路板上。這使得在需要大量測試粘性電路板,軟板,或者微型SMD元件的測試點上,不留可見的痕跡。
 

最好的測量精度

探針與量測儀表間距離越短,量測越精確,根據這個顯而易見的電路原理,SPEA 設計了飛行測試儀技術的概念,激勵及量測裝置被直接集成在每個飛針頭上,提供無與倫比的測量速度和性能。

 

最高的量測精度達(0.1pF )

信號完整性

無量測信號衰減或干擾

實時信號采集

 

Leonardo. OS2簡單,快速自動編程

4060  S2為減少編程和調試工作而設計,系統自帶調校測試程序,自動調校功能帶來前所未有的速度和精準度。
 

在幾分鐘內自動生成測試程序

自動生成測試程序,無論有沒有CAD文件

通過新的S2系統控制使測試程序生成時間減少50%

快速,完整的自動調試和優化

自動維修電路板的軟件

自動導入X-Y文件

兼容內置自測(BIST)

友好直觀的圖形界面

可以監控、分析和優化生產過程的控制軟件

 

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