吸放式Handler

自動分選機分選機

型號： H3580

--- 產品參數 ---

溫度范圍 -40—150℃
吞吐量高達33000UPH
多站點多達200個站點
裝載量 80 個托盤
占地面積 2200 x 1400 mm (托盤到托盤)
器件尺寸 1x1x0.5 mm
器件封裝 QFP, LGA, QFN, BGA, 帶或不帶引腳

--- 產品詳情 ---

H3580是一款高吞吐量、完全可配置型吸放式Handler。H3580因其十分廣泛的可測試范圍而廣受好評。它成功的把搬運、接觸、物理仿真和對MEMS及其他IC器件的完整測試完美的結合在一個單一的設備里。多種物理仿真可以結合在一個單一的測試單元里用來測試Combo MEMS，例如環境傳感器（壓力+濕度）或導航傳感器（加速度計+陀螺儀）。測試區域可以在現場很容易的被重新配置成其他測試單元。同時多站點測試單元可以大大提高機器產能：最多可同時接觸并測試196個元件，實現最高吞吐量。

80 JEDEC 托盤裝載能力
在操作過程中裝載/卸載托盤
用來預對準的精密單元

高度的操作自主性
通過高速像機的光學測試
機器handling過程中自動補料
可以同時配備托盤載入單元
5S檢測和光學檢查通過高速攝像機

高度的并行性

1-50 站點并行處理、接觸、測試

高達 200x 并行接觸及測試

高速、軟沖擊 Handling

2個由馬達控制并配備視覺系統的吸放單元

直線電機無摩擦

為了輕柔的釋放器件，設定軸運動曲線在零重力加速度時停下來釋放器件

極低的 jam rate

托盤缺陷自動補償（形狀、平整度、尺寸不當）

器件自動位置調整及接觸單元內的器件的存在測試

為你推薦

產品文章

SPEA 在線離線ICT測試儀 3030IL 全自動電路板測試設備2023-11-14 17:29

產品型號：3030IL、3030M、3030R等設備尺寸：900x970x1737mm 內核數：可達到4核電阻測量范圍：1mΩ——1GΩ 電感測量范圍：1μH——1H 電感測量范圍：0.5pF——1F
飛針代測-電路板代測-SPEA飛針測試2023-08-17 10:55

產品型號：4080 應用行業：軍工電子、汽車電子、消費電子、航天航空等代測項目：器件測試、短路測試、連通性測試、上電測試等適用電路板：PCBA、PCB、負載板、背板、主板等代測優勢：降本增效，無需治具成本、省人力、快速獲取測試結果
IGBT功率器件測試儀2022-12-12 10:30

產品型號： DOT800T ISO測試資源：高達12KV/10mA DC ISO測試資源：高達 10kV/20mA AC AC 測試資源：高達 6kV，高達 3kA AC 測試資源：電流短路測試，高達 10kA DC 測試資源：高電壓發生器發生能力高達 20kV
SPEA 3030BT桌面型電路板測試機2022-11-15 11:14

產品型號：3030BT 設備尺寸：466*483*177mm ICT在線測試功能：有開路測試功能：有開/短路測試功能：有
SPEA 3030C ICT在線測試儀2022-11-14 09:27

產品型號：3030C 產品類型：針床測試儀主要功能：ICT、FCT、OBP等通道-核心：2048-雙核
STU200-高G慣性測試設備-mems測試設備|SPEA2022-10-09 14:39

產品型號：STU200 加速度：-28~+28g 溫度范圍：-50℃~150℃ 頻率范圍：80~120Hz
SPEA 4050S2飛針測試儀2022-09-30 09:48

產品型號：4050S2 測試機接口：384 最小焊點尺寸：80um 測試精度：±40um
SPEA 4060S2 飛針測試機2022-09-30 09:25

產品型號：4060S2 測試機接口：576通道最小焊點尺寸：80um xyz運動技術：線性電機
SPEA 4085飛針測試設備2022-09-28 17:28

產品型號：4085
MEMS麥克風仿真單元2022-09-28 10:27

產品型號：MCTU300

SPEA創新實踐：AI芯片混合信號測試儀2025-01-03 11:44

芯片是人工智能（AI）應用的支柱，為從自動駕駛汽車到虛擬助手等各類應用提供著核心動力。AI芯片專門設計用于處理海量數據，并能實時做出決策，因此它們對于確保最終應用的成功發揮著至關重要的作用。隨著AI引發的變革，各行業對更強大、更高效的AI芯片的需求持續攀升。AI算法的日益復雜，市場對AI運行速度需求不斷提升，測試AI芯片已成為半導體公司面臨的一大挑戰。如果沒

AI芯片測試儀混合信號
331瀏覽量
DOT800 多核混合信號測試儀2025-01-03 11:40

DOT800將兩臺測試儀的能力融合到一個只有測試頭的系統中，采用創新的面向器件的儀器，所有模擬、數字和信號處理資源都集中在一個功能強大的可配置主板上。測試性能優越，多站點效率>99.5%。多核心架構DOT800由兩個體積小于0.3立方米的獨立系統核心構成。每個核心配有一個專用CPU，用于在全異步模式下執行測試程序，從而確保達到最高的并行測試效率。儀器功能強大

主板測試儀混合信號
100瀏覽量
SPEA—ADC與DAC測試簡介2024-12-31 17:21

如今，有大量應用都依賴于數模轉換器（DAC）和模數轉換器（ADC）。它們在信號處理中非常重要，因為它們構建了數字系統和模擬系統之間的橋梁。通過使數字電路能夠與模擬組件交互，ADC和DAC在音頻處理、電信、數據采集系統等領域發揮著關鍵作用。DAC與ADC的作用模數轉換器是現代數據采集系統（DAQ或DAS系統）中的基本構建模塊。它們將調節后的模擬信號轉換為數字數

adc ADC dac 采集系統
260瀏覽量
都靈理工大學校長一行再訪SPEA2024-12-19 13:12

SPEA與都靈理工大學有著深厚的歷史淵源，雙方通過構建人才培養體系、推動融合創新、不斷拓寬技術應用的邊界，共同促進了自動化測試技術在半導體、MEMS傳感器、電子制造等多個關鍵領域快速發展。近日，都靈理工大學校長率領代表團，再度訪問SPEA總部，雙方展開了一場深入且富有成效的交流。交流內容涵蓋科技創新的前沿方向、人才培育新策略、機械設備制造、測試技術等。SPE

半導體機械設備自動化測試
159瀏覽量
Rinaldi代表團到訪SPEA總部：探索全球頂尖自動化測試技術2024-12-06 01:05

在自動化測試的廣闊領域中，SPEA憑借飛針測試儀、功率半導體測試設備、MEMS測試系統等一系列創新產品,不斷為前沿科技產業注入強勁動力，已然成為支撐汽車產業向電動化、智能化發展的重要推手。正因如此，SPEA總部常迎來各方合作伙伴與參觀者的青睞。近日，Rinaldi代表團20余位客戶到訪了SPEA總部，踏上了探索前沿科技的旅程。SPEACEOLucianoBo

半導體測試測試儀自動化測量
313瀏覽量
SPEA出席第十六屆在蘇意大利企業答謝交流會2024-12-03 01:05

近日，中國意大利商會（CICC）在意大利駐上?？傤I事館及蘇州政府大力支持下，于蘇州工業園區香格里拉酒店舉辦了第十六屆在蘇意大利企業答謝交流會。包括SPEA在內的一批知名意大利企業代表出席本次活動。意大利大使安博思、意大利駐上?？傤I事館等嘉賓的蒞臨，極大地提升了本次交流會的規格與影響力。答謝交流會期間，眾多企業代表分享各自企業的在蘇發展近況與未來規劃，展現了對

傳感器半導體
299瀏覽量
SPEA接待歐洲半導體地區聯盟（ESRA）代表團2024-11-15 01:07

SPEA接待歐洲半導體地區聯盟（ESRA）代表團

半導體測試設備
224瀏覽量
新加坡裕廊西中學到訪SPEA蘇州2024-10-23 08:07

10月22日，SPEA蘇州測試培訓中心迎來了一批特殊的訪客——新加坡裕廊西中學的60余位師生。在SPEA蘇州團隊的熱情陪同下，師生們開啟了一場聚焦自動化測試的參訪探索之旅。步入SPEA蘇州測試實驗室，展現在眾人眼前的是一系列尖端的半導體測試機、MEMS測試設備以及飛針測試設備，數位專業的測試工程師正聚精會神地進行著設備的調試與測試工作。井然有序的工作環境，精

測試機測試設備自動化測試
325瀏覽量
喜訊：都靈理工大學與 SPEA 簽署測試研究協議，共繪電子測試新篇章2024-10-10 08:06

SPEANewsStefanoCorgnati校長、SPEACEOLucianoBonaria▲近日，都靈理工大學與SPEA在校長StefanoCorgnati、SPEACEOLucianoBonaria見證下，簽署了一項具有里程碑意義的合作協議。這項協議有望推動微芯片測試、微機電系統（MEMS）、自動化機械設計生產等領域融合創新。作為電子測試領域的全球領袖

電子測試自動化測試芯片測試
321瀏覽量
【ISES China 2024精彩回顧】半導體精英齊聚，共促產業創新發展2024-09-26 08:09

2024國際汽車半導體創新發展交流會（ISESChina2024）日前在無錫圓滿落幕。本次活動匯聚了全球汽車半導體行業的頂尖企業與精英領袖，共同探索行業新趨勢，推動技術創新發展，為汽車半導體產業帶來了強勁動能。SPEA中國區總經理孫媛麗女士的演講無疑是全場的亮點之一。她聚焦于功率半導體的可靠性話題，特別是在KGD（良品芯片）級別測試SiC半導體器件方面進行了

SiC 半導體汽車
388瀏覽量

色哟哟视频在线观看-色哟哟视频在线-色哟哟欧美15最新在线-色哟哟免费在线观看-国产l精品国产亚洲区在线观看-国产l精品国产亚洲区久久

SPEA

吸放式Handler

--- 產品參數 ---

--- 產品詳情 ---

為你推薦

SPEA 在線離線ICT測試儀 3030IL 全自動電路板測試設備2023-11-14 17:29

飛針代測-電路板代測-SPEA飛針測試2023-08-17 10:55

IGBT功率器件測試儀2022-12-12 10:30

SPEA 3030BT桌面型電路板測試機2022-11-15 11:14

SPEA 3030C ICT在線測試儀2022-11-14 09:27

STU200-高G慣性測試設備-mems測試設備|SPEA2022-10-09 14:39

SPEA 4050S2飛針測試儀2022-09-30 09:48

SPEA 4060S2 飛針測試機2022-09-30 09:25

SPEA 4085飛針測試設備2022-09-28 17:28

MEMS麥克風仿真單元2022-09-28 10:27

SPEA創新實踐：AI芯片混合信號測試儀2025-01-03 11:44

DOT800 多核混合信號測試儀2025-01-03 11:40

SPEA—ADC與DAC測試簡介2024-12-31 17:21

都靈理工大學校長一行再訪SPEA2024-12-19 13:12

Rinaldi代表團到訪SPEA總部：探索全球頂尖自動化測試技術2024-12-06 01:05

SPEA出席第十六屆在蘇意大利企業答謝交流會2024-12-03 01:05

SPEA接待歐洲半導體地區聯盟（ESRA）代表團2024-11-15 01:07

新加坡裕廊西中學到訪SPEA蘇州2024-10-23 08:07

喜訊：都靈理工大學與 SPEA 簽署測試研究協議，共繪電子測試新篇章2024-10-10 08:06

【ISES China 2024精彩回顧】半導體精英齊聚，共促產業創新發展2024-09-26 08:09

喜訊：都靈理工大學與 SPEA 簽署測試研究協議，共繪電子測試新篇章2024-10-10 08:06

【ISES China 2024精彩回顧】半導體精英齊聚，共促產業創新發展2024-09-26 08:09