在多器件測試情況下，例如涉及老化的測試，我們要在規定的時間內同時測量多個部件。驅動DUT通常需要連續的電流，但是多個光學探測器可以通過開關系統復用一個電流計。用戶可以根據所測電流的動態量程選擇合適的開關系統和電流計。

　　多LED器件測試可以選擇多種類型的開關。例如，3706型開關/萬用表具有6個開關模塊插槽，因此它最多可支持576個復用通道或者2688個矩陣交叉點。與2600A系列儀器類似，它也內置了板載TSP和TSP-Link設備間通信/觸發總線，利用這套總線可以快速而方便地將這些儀器集成到一個系統中。這種集成支持緊密同步的儀器間操作，并且能夠讓它們在一個測試腳本的控制下進行操作。圖3給出了具有一個光電二極管通道的三LED器件測試系統結構。

　　圖3：采用可擴展2602A數字源表通道構建LED陣列測試系統的模塊圖

　　最大限度減少LED測試誤差

　　LED生產測試中的常見測量誤差源包括引線電阻、漏電流、靜電干擾和光干擾，但是結自熱是最重要的誤差源之一。對結發熱最敏感的兩種測試是正向電壓測試和漏電流測試。當半導體結發熱時，電壓將會下降，更重要的是，在恒壓測試過程中漏電流會增大。因此，在不影響測量精度或穩定性的情況下盡可能縮短測試時間是非常重要的。

　　具有板載測試腳本引擎的智能儀器能夠簡化配置測量前器件的持溫時間(soak time)以及采集輸入信號的時間。在保溫時間內所有的電路電容在測量開始前穩定下來。測量積分時間取決于電源線周期數(NPLC)。如果輸入電源是60Hz，那么1NPLC測量就需要1/60秒，即16.667ms。積分時間決定了ADC采集輸入信號的時間，它要在測量速度和精度之間進行折中。

　　VF測試的典型保溫時間從不到幾百微秒到5毫秒，IL測試的保溫時間從5到20毫秒。通過利用這些極短的測試時間，就能夠減少由于結發熱導致的誤差。此外，通過執行一系列測試并只檢驗測試時間，可以對結發熱的特征進行分析。

　　為了進一步縮短測試時間，減少結自熱效應，2600A系列儀器支持脈沖操作。在這種模式下，它們能夠在指定的周期內在輸出端產生精密的信號源。1微秒的脈寬分辨率能夠精確控制器件的加電時間。這類儀器在脈沖操作模式下還能夠輸出大大超出其直流能力的電流值。例如，2602A在6V下能夠輸出3A的直流電流。而在脈沖模式下，它能夠在20V下輸出10A的電流。