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片上芯片SoC挑戰(zhàn)傳統(tǒng)測試方案(3)
2012年01月28日 17:14 來源:本站整理 作者:葉子 我要評論(0)
SoC生產(chǎn)技術(shù)的成功,依靠的是廠商以最低的生產(chǎn)成本實現(xiàn)大量的生產(chǎn)能力。隨 制造商創(chuàng)造了結(jié)合先進(jìn)數(shù)字電路和模擬功能的SoC,就需要不斷提高自動測試儀(ATE)的強(qiáng)大功能。芯片內(nèi)功能提高了數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)傳輸速率。而今,防火墻、千兆赫茲以太網(wǎng)和圖形加速接口等功能都集于芯片上,因此需要測試儀的數(shù)據(jù)速率要達(dá)到800Mbps或更高。制造商們正在尋找適應(yīng)性強(qiáng)和容易升級的操作平臺以滿足新要求,而非過去那樣追加投資,開發(fā)新一代產(chǎn)品。
對于混合信號的SoC,可配置的ATE系統(tǒng)在經(jīng)濟(jì)上可以承受大批量生產(chǎn)對測試功能和靈活性的要求。模塊式結(jié)構(gòu)是這些系統(tǒng)的核心,為制造商提供了一個適應(yīng)性強(qiáng)的高性能共享測試平臺。就IC電路的總體而言,大功率多性能ATE能夠滿足SoC日益增加的功能條件,如管腳的增加、速度的提高、對液體冷卻的需求等。好在先進(jìn)的冷卻設(shè)計可以選用空氣冷卻高速高功耗的CMOS電路,而降低了ATE的復(fù)雜性。
系統(tǒng)設(shè)計和檢測儀表性能的改善顯著地減少了ATE的費(fèi)用,加上應(yīng)用了各種程序開發(fā)工具語言,增加了測試開發(fā)環(huán)境的功效。工程師們利用共享圖形用戶界面(GUI)和現(xiàn)有測試程序模板,使現(xiàn)有的測試程序符合特定的測試用途,從而提高了生產(chǎn)效率。這種以模板為基礎(chǔ)的方法把測試開發(fā)時間削減了數(shù)周,這對于把握SoC市場稍縱即逝的機(jī)會格外重要。
在產(chǎn)業(yè)開始復(fù)蘇的今天,對市場機(jī)會的快速應(yīng)變能力是SoC制造業(yè)重于一切的要務(wù)。在現(xiàn)有條件下取得最大效益的能力,對于制造商仍然非常關(guān)鍵。系統(tǒng)兼容性在高效的開發(fā)環(huán)境及生產(chǎn)測試設(shè)備中是一個日益重要的特性,將有助于使生產(chǎn)能力達(dá)到最高水平。廠商通過有效配置所有測試設(shè)備,把測試轉(zhuǎn)移到最有效的平臺上進(jìn)行,不斷滿足生產(chǎn)條件的變化要求。
本文導(dǎo)航
- 第 1 頁:片上芯片SoC挑戰(zhàn)傳統(tǒng)測試方案(1)
- 第 2 頁:早期試驗進(jìn)展
- 第 3 頁:低成本生產(chǎn)測試