--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 產(chǎn)地 德國
--- 產(chǎn)品詳情 ---
因產(chǎn)品配置不同, 價格貨期需要電議, 圖片僅供參考, 一切以實際成交合同為準(zhǔn)
Pfeiffer 普發(fā)渦輪分子泵 SplitFlow
上海伯東德國 Pfeiffer 分流式渦輪分子泵, 抽速最高 53 l/s 和在中間抽吸裝置上抽速 0.15 l/s (N2), 可取代多款渦輪分子泵, 獨立機(jī)械和真空結(jié)構(gòu)設(shè)計, 特別適合分析研發(fā)行業(yè).
Pfeiffer 普發(fā)渦輪分子泵 SplitFlow 優(yōu)點
緊湊設(shè)計, 占地空間小
對所有氣體的高抽吸能力和更高壓縮比
集成分子泵控制器
防護(hù)類型 IP 54 適合于工業(yè)用途
準(zhǔn) S2 和 UL/CSA 認(rèn)證
運行數(shù)據(jù)監(jiān)控保證分子泵運行安全性
Pfeiffer 普發(fā)渦輪分子泵 SplitFlow 技術(shù)規(guī)格
分子泵型號 | 分子泵連接尺寸 DN | 抽速 l/s | 壓縮比 | 最高啟動壓強(qiáng)hPa | 極限壓力 | 全轉(zhuǎn)速氣體流量hPa l/s | 啟動時間 | 重量 | |||
進(jìn)氣口 | 排氣口 | 氮氣 | 氦氣He | 氫氣 H2 | 氮氣 | 氮氣N2 | hPa | 氮氣N2 | min | kg | |
SplitFlow? 50 | 63 | G1/4 | 53 | 27 | 21 | > 1X108 | 20 | < 4X10–7 | 1.8 | 1.3 | 2.3 |
分流式分子泵客戶案例: 國內(nèi)某檢漏儀生產(chǎn)商, 選用上海伯東德國 Pfeiffer SplitFlow 80 分子泵集成于氦質(zhì)譜檢漏儀中.

上海伯東 Pfeiffer 渦輪分子泵抽速范圍 10 至 2700 L/S, 轉(zhuǎn)速最高 90,000 rpm, 極限真空最大 1E-11 mbar, 對小分子氣體具有更高的壓縮比, 實踐證明 Pfeiffer 渦輪分子泵運行時間可以達(dá)到 100,000 小時!
為你推薦
-
inTEST 芯片高低溫沖擊熱流儀2024-10-18 13:59
產(chǎn)品型號:ATS-535 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-60 至+ 225°C 特點:集成空壓機(jī) -
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀2024-09-12 13:56
產(chǎn)品型號:inTEST BT28 溫度范圍:-28° 至 +225°C 溫度顯示和分辨率:+/- 0.1°C -
離子束刻蝕機(jī) 20 IBE-J2024-09-12 13:51
產(chǎn)品型號:20 IBE-J 特點:干法物理納米級刻蝕 射頻角度:可以任意調(diào)整 -
inTEST Sigma M256 高低溫試驗箱2023-12-01 10:58
產(chǎn)品型號:Sigma M256 產(chǎn)地:美國 腔室體積:255 L -
inTEST Sigma M170 高低溫試驗箱2023-12-01 10:55
產(chǎn)品型號:Sigma M170 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-185°C 至 400°C 腔室體積:165 L -
inTEST Sigma M58 高低溫試驗箱2023-12-01 10:19
產(chǎn)品型號:Sigma M58 產(chǎn)地:美國 寬溫度范圍:-185 °C 至 500°C 腔室體積:59 L -
inTEST Sigma M10 高低溫試驗箱2023-12-01 10:06
產(chǎn)品型號:Sigma M10 產(chǎn)地:美國 寬溫度范圍:-185°C 至 500°C 腔室體積:10 L -
inTEST Sigma 高低溫試驗箱, 溫度環(huán)境試驗箱2023-12-01 09:39
產(chǎn)品型號:Sigma 品牌:inTEST 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-185°至 +500°C -
普發(fā)分流式分子泵 SplitFlow2023-07-11 10:13
產(chǎn)品型號:SplitFlow 產(chǎn)地:德國 -
普發(fā)分子泵 HiPace 80 Neo2023-07-11 10:09
產(chǎn)品型號:HiPace 80 Neo 產(chǎn)地:德國
-
Gel-Pak VRP 可變黏度防靜電真空釋放盒2024-10-18 14:19
-
氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏系統(tǒng)2024-09-13 10:53
-
KRi 霍爾離子源 EH 2000 望遠(yuǎn)鏡鏡片光學(xué)鍍膜應(yīng)用2024-09-13 10:38
-
美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)2024-09-13 10:19
上海伯東代理美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測試機(jī), 可正確評估與參數(shù)標(biāo)定芯片開發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質(zhì)檢查, 第三方認(rèn)證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測試作為一種常見的測試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導(dǎo)體特性測試.715瀏覽量 -
離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用2024-09-12 13:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于半導(dǎo)體新材料和設(shè)備管道檢漏2023-11-09 15:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于真空鍍膜生產(chǎn)線2023-08-07 14:35
-
Gel-Pak VR真空釋放盒應(yīng)用于50V GaN HEMT 芯片2023-08-07 14:28
-
inTEST熱流儀邏輯芯片 FPGA高低溫沖擊測試2023-08-07 14:21
FPGA 芯片需要按照 JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)做溫度循環(huán) TC 測試, 讓其經(jīng)受極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換. 一般在?-55℃~150℃ 進(jìn)行測試, 傳統(tǒng)的環(huán)境箱因為升降溫速度受限, 無法滿足研發(fā)的快速循環(huán)測試需求. 上海伯東美國 inTEST 熱流儀 ATS-710E 變溫速率約 10 s, 實現(xiàn) FPGA 芯片極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換測1173瀏覽量 -
上海伯東分子泵應(yīng)用于 LED 芯片退火合金爐2023-08-07 14:14
-
Aston Impact 高靈敏度質(zhì)譜分析儀 CVD 清洗終點優(yōu)化2024-10-18 13:42
-
Aston 質(zhì)譜儀等離子體刻蝕過程及終點監(jiān)測2024-10-18 13:33
-
Aston 質(zhì)譜分析儀搭配 Scrubber 半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備進(jìn)行氣體檢測2024-10-18 13:24
-
鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59
-
美國 Gel-Pak 應(yīng)用于 VCSEL 芯片生產(chǎn)2024-09-13 10:28
-
美國進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10
-
inTEST 熱流儀車載顯示器高低溫光學(xué)測量應(yīng)用2024-09-12 14:17
通過美國 inTEST ATS-545 熱流儀給車載顯示器升溫或降溫, 測量其在不同溫度下任意點的光學(xué)特性, 實現(xiàn)高低溫環(huán)境 -40 至 100℃ 下產(chǎn)品的亮度, 色度, 響應(yīng)時間和可視角度測試.254瀏覽量 -
HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測試儀應(yīng)用2023-12-08 14:29
-
SF6 密度繼電器氦質(zhì)譜檢漏法2023-12-08 14:21
-
新能源汽車 IGBT 功率器件高低溫沖擊測試2023-12-01 15:48