X熒光元素分析原理是青年科學家布拉格（獲諾貝爾物理學獎時僅25歲）創建的。現以創想儀器的第二代EDX....
高分辨照片可以獲得材料的晶格條紋像，如下圖。圖中的每行亮點都代表某個方向的晶面，兩列點之間的間距就代....
前言 上周的教程介紹了如何從高分辨圖片中測量晶面間距。那是否可以測量某列晶格點之中的任意兩個晶格點之....
前言 X射線衍射分析只是給出了晶體的結構，根據晶體結構與物相的對應關系，最終找到匹配的物相，其實相似....
利用樣品的軋面（ND面）、與軋向垂直的剖面（RD面）、與橫向垂直的剖面（TD面）等3個觀察面的普通粉....
晶體的取向可以用極圖和反極圖來表征。正極圖的數據采集方法被廣泛應用，就是通過織構附件獲得某一晶面的衍....
可以利用垂直截面圖分析合金的結晶過程和相變臨界溫度，及結晶所得組成物。但在利用垂直截面圖時，不能分析....
水平截面圖如圖5-79。可以利用水平截面圖分析合金在不同溫度下所處的相平衡狀態，并可運用直線法則和重....
包晶反應結束后，液相和 α 相反應正好全部轉變為 β 固溶體。
經塑性變形后，金屬材料的顯微組織發生了明顯的改變，各晶粒中除了出現 大量的滑移帶、孿晶帶以外，其晶粒....
再結晶后，再繼續保溫或升溫，會使晶粒進一步長大。
孿晶誘導細晶強化，相互交錯的孿晶界將母晶分割成若干細小的晶粒，誘發Hall-Petch效應的同時也會....
冷變形金屬被加熱到適當溫度時，在變形組織內部新的無畸變的等軸晶粒逐漸取代變形晶粒，而使形變強化效應完....
孿晶由不同位向的兩部分晶體組成；
位錯在晶體中的存在，使其周圍原子偏離平衡位置，而導致點陣畸變和彈性應力場的產生。
位錯密度為單位體積內位錯線的總長度，其數學表達式
18R-LPSO 相主要存在于鑄態鎂稀土合金中，普遍認可其化學式為 Mg10YZn 或Mg29Y4Z....
設含位錯的晶體為簡單立方晶體，在其晶面ABCD上半部存在多余的半排原子面EFGH，這個半原子面中斷于....
當一種組元A加到另一種組元B中形成的固體其結構仍保留為組元B的結構時，這種固體稱為固溶體。B組元稱為....
密排六方的位錯類型，根據伯氏矢量方向與C軸夾角可分為a位錯、c位錯、c+a位錯。在此，為了能快速理解....
當材料在外磁場作用下內部磁疇的磁化方向與外磁場方向保持一致，使得材料沿外磁場方向伸長或縮短的現象。
相交或平行于某直線的所有晶面的組合稱為晶帶，此直線稱為晶帶軸，如圖1所示，其中晶帶軸：[uvw]；晶....
最常見的金屬晶體結構有面心立方結構、體心立方結構和密排立方結構。
最近收到老師同學們的許多問題，其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位....
"在材料科學中討論有關晶體的生長、變形、相變及性能等問題時，常需涉及晶體中原子的位置、原子列的方向（....
晶體的微觀結構，是指晶體中實際質點(原子?離子或分子)的具體排列情況。
FIB技術利用配置高電流密度的Ga+ 離子槍，其最小離子束直徑可達幾個納米，因此可在納米尺度上進行金....
EBSD 分析系統的基本布局如圖所示。放入掃描電鏡樣品室內的樣品經大角度傾轉后(一般傾轉 65°-7....
透射電子顯微鏡圖像的襯度來源于樣品對入射電子束的散射。電子波在穿過樣品時振幅和相位會發生變化，這兩種....
不同型號掃描電鏡的操作步驟會有一些差異，各廠家的EBSD系統，特別是控制SEM的軟件都不一致。
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